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半導(dǎo)體集成電路2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第1頁(yè)!上節(jié)課內(nèi)容要點(diǎn)雙極集成電路的基本工藝雙極集成電路中元件結(jié)構(gòu)2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第2頁(yè)!pn+n-epin+P-Sin+-BLCBESP+P+雙極集成電路的基本工藝2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第3頁(yè)!P-SiTepiCBEpn+n-epin+P-SiP+P+Sn+-BLTepiAA’TBL-uptepi-oxxmcxjc四層三結(jié)結(jié)構(gòu)的雙極晶體管雙極集成電路中元件結(jié)構(gòu)2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第4頁(yè)!相關(guān)知識(shí)點(diǎn)隱埋層的作用、電隔離的概念、寄生晶體管2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第5頁(yè)!MOS晶體管的動(dòng)作
MOS晶體管實(shí)質(zhì)上是一種使電流時(shí)而流過,時(shí)而切斷的開關(guān)n+n+P型硅基板柵極(金屬)絕緣層(SiO2)半導(dǎo)體基板漏極源極N溝MOS晶體管的基本結(jié)構(gòu)源極(S)漏極(D)柵極(G)MOSFET的基本結(jié)構(gòu)2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第6頁(yè)!在硅襯底上制作MOS晶體管siliconsubstrate2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第7頁(yè)!siliconsubstrateoxidephotoresist2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第8頁(yè)!非感光區(qū)域siliconsubstrate感光區(qū)域oxidephotoresist2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第9頁(yè)!siliconsubstrateoxideoxidesiliconsubstratephotoresist腐蝕2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第10頁(yè)!siliconsubstrateoxideoxidegateoxidethinoxidelayer2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第11頁(yè)!siliconsubstrateoxideoxidegategateultra-thingateoxidepolysilicongate2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第12頁(yè)!siliconsubstrateoxideoxidegategatesourcedraindopedsilicon2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第13頁(yè)!siliconsubstratesourcedraingate2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第14頁(yè)!siliconsubstrategatecontactholesdrainsource2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第15頁(yè)!CMOSFETP型sisubn+gateoxiden+gateoxideoxidep+p+2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第16頁(yè)!掩膜1:P阱光刻P-wellP-well
N+
N+
P+
P+
N+
P+N-SiP2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第17頁(yè)!氧化2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第18頁(yè)!2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第19頁(yè)!2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第20頁(yè)!掩膜2:光刻有源區(qū)有源區(qū):nMOS、PMOS
晶體管形成的區(qū)域P+N+N+P+N-SiP-wellP-wellP-well淀積氮化硅光刻有源區(qū)場(chǎng)區(qū)氧化去除有源區(qū)氮化硅及二氧化硅SiO2隔離島2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第21頁(yè)!P-well1.淀積氮化硅:氧化膜生長(zhǎng)(濕法氧化)P-well氮化膜生長(zhǎng)P-well涂膠P-well對(duì)版曝光有源區(qū)光刻板2.光刻有源區(qū):2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第22頁(yè)!掩膜3:光刻多晶硅P-well去除氮化硅薄膜及有源區(qū)SiO2P-wellP+N+N+P+N-SiP-well柵極氧化膜多晶硅柵極生長(zhǎng)柵極氧化膜淀積多晶硅光刻多晶硅2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第23頁(yè)!掩膜4
:P+區(qū)光刻
1、P+區(qū)光刻
2、離子注入B+,柵區(qū)有多晶硅做掩蔽,稱為硅柵自對(duì)準(zhǔn)工藝。
3、去膠P-wellP+N+N+P+N-SiP-wellP-wellP+P+2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第24頁(yè)!掩膜5
:N+區(qū)光刻
1、N+區(qū)光刻
2、離子注入P+,柵區(qū)有多晶硅做掩蔽,稱為硅柵自對(duì)準(zhǔn)工藝。
3、去膠P-wellP+N+N+P+N-SiP-wellP-wellP+P+N+N+2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第25頁(yè)!掩膜6
:光刻接觸孔1、淀積PSG.2、光刻接觸孔3、刻蝕接觸孔P-wellP+N+N+P+N-SiP-wellP-wellP+P+N+N+磷硅玻璃(PSG)2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第26頁(yè)!2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第27頁(yè)!P-wellP+P+N+N+鋁線PSG場(chǎng)氧柵極氧化膜P+區(qū)P-wellN-型硅極板多晶硅N+區(qū)2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第28頁(yè)!InterconnectImpactonChip2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第29頁(yè)!雙阱標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝P+p-epipwellnwellp+n+gateoxideAl(Cu)tungstenSiO2SiO2TiSi2fieldoxide增加器件密度防止寄生晶體管效應(yīng)(閂鎖效應(yīng))2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第30頁(yè)!功耗驅(qū)動(dòng)能力CMOS雙極型Bi-CMOSBiCMOS集成電路工藝2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第31頁(yè)!以P阱CMOS工藝為基礎(chǔ)的BiCMOS工藝NPN晶體管電流增益??;集電極的串聯(lián)電阻很大;NPN管C極只能接固定電位,從而限制了NPN管的使用2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第32頁(yè)!
以N阱CMOS工藝為基礎(chǔ)的改進(jìn)BiCMOS工藝使NPN管的集電極串聯(lián)電阻減小56倍;使CMOS器件的抗閂鎖性能大大提高2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第33頁(yè)!金絲劈加熱壓焊2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第34頁(yè)!2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第35頁(yè)!ECB2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第36頁(yè)!本節(jié)課內(nèi)容
MOS集成電路的工藝
P阱CMOS工藝
BiCMOS集成電路的工藝
N阱CMOS工藝雙阱CMOS工藝2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第37頁(yè)!siliconsubstratesourcedraingateoxideoxidetopnitridemetalconnectiontosourcemetalconnectiontogatemetalconnectiontodrainpolysilicongatedopedsiliconfieldoxidegateoxideMOS晶體管的立體結(jié)構(gòu)2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第38頁(yè)!siliconsubstrateoxidefieldoxide2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第39頁(yè)!ShadowonphotoresistphotoresistExposedareaofphotoresistChromeplatedglassmaskUltravioletLightsiliconsubstrateoxide2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第40頁(yè)!Shadowonphotoresistsiliconsubstrateoxidephotoresistphotoresist顯影2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第41頁(yè)!siliconsubstrateoxideoxidesiliconsubstratefieldoxide去膠2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第42頁(yè)!siliconsubstrateoxideoxidepolysilicongateoxide2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第43頁(yè)!siliconsubstrateoxideoxidegategatephotoresistScanningdirectionofionbeamimplantedionsinactiveregionoftransistorsImplantedionsinphotoresisttoberemovedduringresiststrip.sourcedrainionbeam2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第44頁(yè)!自對(duì)準(zhǔn)工藝在有源區(qū)上覆蓋一層薄氧化層淀積多晶硅,用多晶硅柵極版圖刻蝕多晶硅以多晶硅柵極圖形為掩膜板,刻蝕氧化膜離子注入2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第45頁(yè)!siliconsubstrategatecontactholesdrainsource2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第46頁(yè)!完整的簡(jiǎn)單MOS晶體管結(jié)構(gòu)siliconsubstratesourcedraingateoxideoxidetopnitridemetalconnectiontosourcemetalconnectiontogatemetalconnectiontodrainpolysilicongatedopedsiliconfieldoxidegateoxide2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第47頁(yè)!主要的CMOS工藝VDDP阱工藝N阱工藝雙阱工藝P-P+P+N+N+P+N+VSSVOUTVINVDDN-P+P+N+N+P+N+VSSVOUTVINVDDP-P+P+N+N+P+N+VSSVOUTVINN-SiP-SiN-I-SiN+-Si2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第48頁(yè)!具體步驟如下:1.生長(zhǎng)二氧化硅(濕法氧化):Si(固體)+2H2OSiO2(固體)+2H22022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第49頁(yè)!2.P阱光刻:涂膠腌膜對(duì)準(zhǔn)曝光光源顯影2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第50頁(yè)!硼摻雜(離子注入)刻蝕(等離子體刻蝕)去膠P+去除氧化膜P-well3.P阱摻雜:2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第51頁(yè)!離子源高壓電源電流積分器離子束2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第52頁(yè)!有源區(qū)depositednitridelayer有源區(qū)光刻板N型p型MOS制作區(qū)域(漏-柵-源)2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第53頁(yè)!P-well顯影P-well氮化硅刻蝕去膠3.場(chǎng)區(qū)氧化:P-well場(chǎng)區(qū)氧化(濕法氧化)P-well去除氮化硅薄膜及有源區(qū)SiO22022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第54頁(yè)!P-well生長(zhǎng)柵極氧化膜P-well淀積多晶硅P-well涂膠光刻多晶硅光刻板P-well多晶硅刻蝕2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第55頁(yè)!P-wellP+P-wellP+P+硼離子注入去膠2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第56頁(yè)!P-wellN+P-wellP+P+磷離子注入去膠P+P+N+N+2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第57頁(yè)!掩膜6
:光刻接觸孔P-wellP+P+N+N+淀積PSGP-wellP+P+N+N+光刻接觸孔P-wellP+P+N+N+刻蝕接觸孔P-wellP+P+N+N+去膠2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第58頁(yè)!掩膜7
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:刻鈍化孔CircuitPADCHIP2022/12/5MOS集成電路的基本制造工藝共67頁(yè),您現(xiàn)在瀏覽的是第61頁(yè)!p-epiP阱n+STITiSi2STI深亞微米CMOS晶體管結(jié)構(gòu)ST
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