2025年探傷工（助理技師）職業(yè)資格考試真題模擬考試時(shí)間：______分鐘總分：______分姓名：______一、選擇題（本部分共20題，每題2分，共40分。請根據(jù)題意選擇最合適的答案，并在答題卡上填涂對應(yīng)選項(xiàng)。）1.在進(jìn)行射線探傷時(shí)，選擇曝光參數(shù)的主要依據(jù)是（）。A.工件材料的厚度B.探傷人員的經(jīng)驗(yàn)C.使用的探傷設(shè)備類型D.工件表面的粗糙度2.下列哪種缺陷在超聲波探傷中難以檢測到？（）A.表面裂紋B.內(nèi)部夾雜C.未焊透D.薄板分層3.探傷人員在進(jìn)行磁粉探傷前，必須對工件進(jìn)行（）。A.清潔處理B.預(yù)熱處理C.退磁處理D.涂油處理4.射線探傷中，常用的增感屏材料是（）。A.鋁B.鉻C.鉬D.铇5.超聲波探傷中，常用的探頭頻率范圍是（）。A.0.5MHz~5MHzB.5MHz~15MHzC.15MHz~50MHzD.50MHz~100MHz6.磁粉探傷中，磁懸液的主要作用是（）。A.提供磁粉B.清潔工件表面C.檢測缺陷D.保護(hù)工件表面7.射線探傷中，為了提高圖像對比度，通常采用（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用增感屏C.提高射線能量D.使用濾波材料8.超聲波探傷中，常用的試塊材料是（）。A.鋁B.鋼C.銅D.鉛9.磁粉探傷中，磁懸液的濃度通?？刂圃冢ǎ?。A.1%~5%B.5%~10%C.10%~20%D.20%~30%10.射線探傷中，為了減少散射線的影響，通常采用（）。A.使用準(zhǔn)直器B.增加曝光距離C.使用鉛屏D.提高射線能量11.超聲波探傷中，常用的距離波幅曲線（DAC）是用于（）。A.校準(zhǔn)探頭B.評估缺陷大小C.確定探傷靈敏度D.計(jì)算缺陷深度12.磁粉探傷中，磁粉的類型主要有（）。A.干式磁粉B.濕式磁粉C.可塑磁粉D.以上都是13.射線探傷中，常用的膠片類型是（）。A.紅外膠片B.紫外膠片C.硫酸鋇膠片D.銀鹽膠片14.超聲波探傷中，常用的探頭類型有（）。A.直探頭B.斜探頭C.測厚探頭D.以上都是15.磁粉探傷中，磁懸液的穩(wěn)定性通常通過（）來評估。A.磁粉沉降速度B.磁粉分散性C.磁粉粘度D.以上都是16.射線探傷中，為了提高圖像的清晰度，通常采用（）。A.使用濾光器B.增加曝光時(shí)間C.使用增感屏D.提高射線能量17.超聲波探傷中，常用的缺陷指示器是（）。A.回波幅度B.回波寬度C.回波持續(xù)時(shí)間D.以上都是18.磁粉探傷中，磁化方法主要有（）。A.交流磁化B.直流磁化C.半波磁化D.以上都是19.射線探傷中，為了減少散射線的影響，通常采用（）。A.使用準(zhǔn)直器B.增加曝光距離C.使用鉛屏D.提高射線能量20.超聲波探傷中，常用的缺陷評估方法有（）。A.距離波幅曲線（DAC）B.時(shí)間波幅曲線（TAC）C.缺陷定位技術(shù)D.以上都是二、判斷題（本部分共20題，每題1分，共20分。請根據(jù)題意判斷正誤，并在答題卡上填涂對應(yīng)選項(xiàng)。）21.射線探傷中，曝光時(shí)間越長，圖像對比度越高。（）22.超聲波探傷中，探頭頻率越高，檢測深度越深。（）23.磁粉探傷中，磁懸液的濃度越高，檢測靈敏度越高。（）24.射線探傷中，使用增感屏可以提高圖像的清晰度。（）25.超聲波探傷中，直探頭適用于檢測薄板缺陷。（）26.磁粉探傷中，磁化方法主要有交流磁化和直流磁化兩種。（）27.射線探傷中，為了減少散射線的影響，通常采用使用鉛屏。（）28.超聲波探傷中，常用的缺陷評估方法有距離波幅曲線（DAC）和時(shí)間波幅曲線（TAC）。（）29.磁粉探傷中，磁粉的類型主要有干式磁粉和濕式磁粉兩種。（）30.射線探傷中，常用的膠片類型是硫酸鋇膠片。（）31.超聲波探傷中，探頭類型主要有直探頭和斜探頭兩種。（）32.磁粉探傷中，磁懸液的穩(wěn)定性通常通過磁粉沉降速度來評估。（）33.射線探傷中，為了提高圖像的清晰度，通常采用使用濾光器。（）34.超聲波探傷中，常用的缺陷指示器有回波幅度、回波寬度和回波持續(xù)時(shí)間。（）35.磁粉探傷中，磁化方法主要有半波磁化和交流磁化兩種。（）36.射線探傷中，為了減少散射線的影響，通常采用增加曝光距離。（）37.超聲波探傷中，常用的缺陷評估方法有缺陷定位技術(shù)和時(shí)間波幅曲線（TAC）。（）38.磁粉探傷中，磁粉的類型主要有可塑磁粉和濕式磁粉兩種。（）39.射線探傷中，常用的膠片類型是銀鹽膠片。（）40.超聲波探傷中，探頭類型主要有測厚探頭和直探頭兩種。（）三、簡答題（本部分共5題，每題4分，共20分。請根據(jù)題意，簡要回答問題。）41.簡述射線探傷中，選擇曝光參數(shù)的主要考慮因素有哪些？42.超聲波探傷中，如何判斷缺陷的類型和大??？43.磁粉探傷中，磁懸液的選擇需要考慮哪些因素？44.射線探傷中，如何減少散射線對圖像質(zhì)量的影響？45.超聲波探傷中，探頭的選擇需要考慮哪些因素？四、論述題（本部分共3題，每題6分，共18分。請根據(jù)題意，詳細(xì)論述問題。）46.論述射線探傷和超聲波探傷的優(yōu)缺點(diǎn)，并說明在實(shí)際應(yīng)用中如何選擇合適的探傷方法。47.論述磁粉探傷的原理和操作步驟，并說明如何評估磁粉探傷的結(jié)果。48.論述探傷人員在進(jìn)行探傷操作時(shí)，需要注意的安全事項(xiàng)有哪些？并舉例說明如何防止事故的發(fā)生。五、綜合應(yīng)用題（本部分共2題，每題10分，共20分。請根據(jù)題意，結(jié)合實(shí)際情況，綜合應(yīng)用所學(xué)知識解決問題。）49.某工件需要進(jìn)行射線探傷，工件材料的厚度為30mm，表面較為粗糙，試問在選擇曝光參數(shù)時(shí)，應(yīng)該注意哪些問題？并說明如何選擇合適的探傷設(shè)備和方法。50.某工件需要進(jìn)行超聲波探傷，工件的材質(zhì)為不銹鋼，表面有輕微的銹蝕，試問在探測前應(yīng)該采取哪些預(yù)處理措施？并說明如何選擇合適的探頭和探傷參數(shù)，以確保探傷結(jié)果的準(zhǔn)確性。本次試卷答案如下一、選擇題答案及解析1.A解析：射線探傷的曝光參數(shù)選擇主要依據(jù)工件材料的厚度。材料越厚，所需曝光時(shí)間越長，射線能量可能需要調(diào)整，以滿足穿透能力和圖像清晰度的要求。工件的厚度直接決定了射線需要克服的障礙，是決定曝光參數(shù)最關(guān)鍵的物理量。2.A解析：超聲波探傷的超聲波是依靠介質(zhì)傳播的，對于表面缺陷，如表面裂紋，超聲波很難有效穿透并產(chǎn)生可檢測的反射信號，尤其是在裂紋開口較大或與表面不垂直時(shí)。而內(nèi)部夾雜、未焊透和薄板分層等缺陷，雖然也位于表面以下，但超聲波可以較為容易地穿透到缺陷處并產(chǎn)生反射，從而被探測到。3.A解析：磁粉探傷前，工件表面必須清潔，去除油污、銹跡、氧化皮等雜質(zhì)。如果不清潔，這些附著物會干擾磁粉的分布，使得磁痕（缺陷指示）難以觀察，甚至產(chǎn)生假信號，影響探傷結(jié)果和準(zhǔn)確性。預(yù)熱、退磁和涂油是在清潔之后或根據(jù)具體情況進(jìn)行的其他處理步驟，不是探傷前的必需步驟。4.A解析：增感屏主要用于提高射線膠片的感光速度，從而縮短曝光時(shí)間，提高探傷效率。常用的增感屏材料是鋁，因?yàn)樗鼘ι渚€吸收較小，但能有效增強(qiáng)膠片的感光能力。鉻、鉬、铇等材料要么吸收系數(shù)過高，要么成本過高或不適合作為增感屏材料。5.B解析：超聲波探傷中，探頭頻率的選擇會影響探傷的分辨率和探測深度。較低的頻率（如0.5MHz~5MHz）具有較強(qiáng)的穿透能力，適合探測較大范圍或較深的缺陷，但分辨率相對較低。較高的頻率（如15MHz~50MHz，甚至更高）具有很高的分辨率，能檢測到微小缺陷，但穿透能力較弱，探測深度有限。5MHz~15MHz是一個(gè)常用的頻率范圍，兼顧了穿透能力和分辨率，適用于多種材料的探傷。6.C解析：磁粉探傷中，磁懸液的作用是將磁粉均勻地施加到被檢工件的表面，并使其在磁場作用下移動到缺陷處聚集。只有當(dāng)磁粉聚集在缺陷位置形成可見的磁痕時(shí)，才能指示缺陷的存在。提供磁粉、清潔表面和保護(hù)表面是磁懸液及其相關(guān)系統(tǒng)的功能，但檢測缺陷的核心作用是磁粉的聚集指示。7.B解析：提高圖像對比度的主要方法是在保證成像質(zhì)量的前提下，突出缺陷與基體的差異。使用增感屏可以顯著提高膠片的感光速度，使得在較短時(shí)間內(nèi)獲得足夠的曝光量，從而增強(qiáng)缺陷與背景之間的對比度，使缺陷更清晰可見。8.B解析：超聲波探傷的試塊通常選用與被檢工件相同的材料制成，這是因?yàn)槌暡ㄔ诓煌牧现械膫鞑ニ俣群退p特性不同。使用相同材料的試塊，可以確保探傷系統(tǒng)的設(shè)置（如探頭頻率、耦合方式）適用于工件，并且可以通過試塊上的標(biāo)準(zhǔn)缺陷（如平底孔、橫通孔）來校準(zhǔn)探傷系統(tǒng)的靈敏度、進(jìn)行缺陷評估和人員培訓(xùn)。9.B解析：磁粉探傷中，磁懸液的濃度需要適中。濃度太低，磁粉量不足，難以在缺陷處形成明顯的磁痕，影響檢測靈敏度。濃度太高，磁粉容易聚集，流動性差，難以觀察細(xì)小的磁痕，也可能覆蓋缺陷，降低靈敏度。5%~10%是一個(gè)常用的濃度范圍，能夠在保證足夠磁粉量的同時(shí)，維持較好的流動性和觀察性。10.A解析：散射線是指射線在穿過工件以及周圍介質(zhì)（如空氣、防護(hù)材料）時(shí)，由于不規(guī)則散射而偏離原始傳播方向的部分。使用準(zhǔn)直器可以限制射線的發(fā)散角，減少不必要的射線束，從而有效減少散射線進(jìn)入像質(zhì)區(qū)（如膠片或探測器），提高圖像的清晰度和對比度。11.C解析：距離波幅曲線（DAC）是超聲波探傷中用于確定探傷靈敏度的標(biāo)準(zhǔn)工具。它通過在標(biāo)準(zhǔn)試塊上制作已知尺寸和位置的缺陷（如平底孔），改變探頭與缺陷的距離，記錄下能檢測到的最小缺陷回波幅度，繪制出距離與幅度關(guān)系的曲線。該曲線反映了探傷系統(tǒng)（探頭、耦合劑、儀器、試塊）的綜合性能，是評估和統(tǒng)一探傷靈敏度的基準(zhǔn)。12.D解析：磁粉探傷中使用的磁粉類型多樣，以滿足不同的探傷需求。干式磁粉易于清理，適用于非磁性材料或特殊環(huán)境下的表面探傷。濕式磁粉（水基或溶劑基）磁粉顆粒更細(xì)小，懸浮性好，檢測靈敏度高，應(yīng)用最廣泛?？伤艽欧郏ㄈ缢芰险承源欧郏┛梢韵裼推嵋粯油克ⅲm用于復(fù)雜形狀表面的探傷。這三種類型都是常見的磁粉類型。13.D解析：射線探傷中使用的膠片類型主要是銀鹽膠片，這是一種通過射線使感光乳劑發(fā)生化學(xué)反應(yīng)而記錄圖像的膠片。紅外膠片和紫外膠片主要用于熱成像或特定化學(xué)分析，不適用于常規(guī)的射線照相。硫酸鋇膠片是用于熒光探傷的，利用硫酸鋇作為熒光體將X射線轉(zhuǎn)換成可見光，而不是記錄在膠片上。14.D解析：超聲波探傷中使用的探頭類型非常多樣，以適應(yīng)不同的探測需求。直探頭用于檢測近表面缺陷或進(jìn)行測厚。斜探頭用于檢測一定深度的缺陷，并可以改變?nèi)肷浣嵌纫哉{(diào)整探測深度和方向。測厚探頭專門用于測量薄板或管壁的厚度。還有如角度探頭、組合探頭等多種類型，它們都是探頭家族的成員。15.D解析：磁粉探傷中，磁懸液的穩(wěn)定性是保證探傷效果的關(guān)鍵。穩(wěn)定性評估需要綜合考慮多個(gè)方面：磁粉的沉降速度決定了磁懸液的使用壽命和檢測窗口，速度越慢越好。磁粉的分散性影響磁粉在工件表面的均勻分布，良好的分散性才能保證檢測靈敏度。磁粉的粘度則影響磁懸液的流動性和涂抹性。因此，評估穩(wěn)定性需要看這三方面。16.A解析：提高射線探傷圖像清晰度的方法之一是使用濾光器。濾光器通常放置在射線源與工件之間或工件與膠片之間，其主要作用是吸收散射線中波長較短的軟射線（如K射線），而讓大部分有用的硬射線（如Kβ射線）通過。這樣可以減少圖像的fogging效應(yīng)（灰霧度），增強(qiáng)缺陷與基體的對比度，使圖像更清晰。17.D解析：超聲波探傷中，評估缺陷通常依據(jù)多個(gè)指標(biāo)?；夭ǚ确从沉巳毕莸拇笮』蚍瓷鋸?qiáng)度?；夭▽挾群突夭ǔ掷m(xù)時(shí)間則可以提供關(guān)于缺陷形狀（如裂紋的擴(kuò)展深度）和類型的間接信息。綜合這些指示器，探傷人員可以判斷缺陷的存在、大致位置、大小和性質(zhì)。單一指標(biāo)往往不足以全面評估。18.D解析：磁粉探傷中，磁化方法的選擇取決于工件的形狀、尺寸、材質(zhì)以及需要檢測的缺陷類型和位置。交流磁化適用于大多數(shù)鐵磁性材料，特別是形狀復(fù)雜的工件，可以產(chǎn)生全磁化。直流磁化適用于檢測表面或近表面缺陷，以及非鐵磁性材料。半波磁化和雙波磁化是交流磁化的特殊形式，用于提高對某些類型缺陷（如裂紋）的檢測靈敏度。19.A解析：與第10題類似，減少散射線影響最直接有效的方法是使用準(zhǔn)直器。準(zhǔn)直器通過限制射線束的幾何形狀，減少射線的散射和漫射，從而提高圖像質(zhì)量。增加曝光距離雖然對散射線有一定抑制作用，但會顯著增加曝光時(shí)間，降低效率。使用鉛屏主要阻擋的是穿透輻射，對散射線效果有限。提高射線能量會減少散射，但可能降低對比度。20.D解析：超聲波探傷中，常用的缺陷評估方法多種多樣。距離波幅曲線（DAC）是標(biāo)定量化的基礎(chǔ)。時(shí)間波幅曲線（TAC）或A掃描曲線用于顯示缺陷的位置（深度）和幅度。缺陷定位技術(shù)（如相控陣的掃描和成像技術(shù)）可以提供缺陷的二維或三維信息。綜合運(yùn)用這些方法，可以更全面、準(zhǔn)確地評估缺陷。二、判斷題答案及解析21.×解析：射線探傷中，曝光時(shí)間與圖像對比度并非簡單的線性關(guān)系。適當(dāng)?shù)钠毓鈺r(shí)間是保證圖像質(zhì)量的關(guān)鍵，但并非時(shí)間越長越好。過長的曝光時(shí)間不僅效率低下，還可能使圖像過度曝光，導(dǎo)致細(xì)節(jié)模糊，對比度下降，甚至產(chǎn)生偽影。需要根據(jù)工件厚度、材料、射線能量和膠片類型等因素選擇最佳曝光時(shí)間。22.×解析：超聲波探傷中，探頭頻率越高，其波長越短，穿透能力越差，探測深度越淺。高頻率探傷擅長檢測近表面的小缺陷，具有更高的分辨率。低頻率探傷則具有更強(qiáng)的穿透能力，適用于檢測大范圍或較深的缺陷。因此，頻率的選擇是探測深度和分辨率之間權(quán)衡的結(jié)果，并非頻率越高探測深度越深。23.×解析：磁粉探傷中，磁懸液的濃度并非越高越好。濃度過高，磁粉在工件表面會過度堆積，形成一片模糊的磁痕，難以分辨細(xì)小的缺陷指示，反而降低檢測靈敏度。濃度過低，則磁粉量不足，無法在缺陷處形成明顯的磁痕。存在一個(gè)最佳濃度范圍，使得既能保證足夠的磁粉聚集，又有利于磁痕的觀察。24.√解析：增感屏通過增強(qiáng)射線的感光效應(yīng)，可以在較短的曝光時(shí)間內(nèi)獲得足夠曝光量的膠片。這不僅能提高探傷效率，縮短生產(chǎn)周期，還能在一定程度上改善圖像質(zhì)量，因?yàn)檩^短的曝光時(shí)間有助于減少因工件移動、環(huán)境因素等引起的不清晰度。使用增感屏是射線探傷中常見的提高效率和質(zhì)量的方法。25.√解析：超聲波探傷中，直探頭主要用于檢測與探測方向垂直的平底孔類缺陷，或者用于測量薄板厚度。對于薄板來說，超聲波很容易穿透整個(gè)板厚，直探頭能夠有效地檢測到板內(nèi)的缺陷。斜探頭則用于檢測一定深度和角度的缺陷，或用于確定缺陷的位置。選擇直探頭還是斜探頭，取決于具體的檢測需求。26.√解析：磁粉探傷的基本原理是利用外加磁場使工件表面磁化，如果存在缺陷（非磁性材料在磁場中形成磁路中斷），缺陷處的磁感應(yīng)強(qiáng)度會發(fā)生變化，導(dǎo)致磁粉在該處聚集形成可見的磁痕。磁化方法主要有利用交流電或直流電產(chǎn)生磁場的交流磁化和直流磁化，這是兩種最基本和核心的磁化方式。27.×解析：射線探傷中，使用鉛屏的主要目的是阻擋穿透性較強(qiáng)的散射線和漏射線，以保護(hù)探傷人員和環(huán)境免受輻射危害，并減少散射線對成像質(zhì)量（如產(chǎn)生fogging）的不利影響。雖然鉛屏也能吸收一部分直接射線，但其主要功能是防護(hù)和改善圖像質(zhì)量，而不是直接減少散射線進(jìn)入像質(zhì)區(qū)。減少散射線進(jìn)入像質(zhì)區(qū)的主要方法是使用準(zhǔn)直器。28.√解析：超聲波探傷中，距離波幅曲線（DAC）和時(shí)間波幅曲線（TAC）是評估和標(biāo)定探傷系統(tǒng)靈敏度的基本工具。DAC提供的是在標(biāo)準(zhǔn)試塊上，隨著探頭離缺陷距離變化的回波幅度響應(yīng)曲線，是設(shè)定探傷靈敏度的依據(jù)。TAC顯示的是特定距離下缺陷回波隨時(shí)間變化的波形，可以用于分析缺陷特征和進(jìn)行定量評估。它們都是重要的缺陷評估方法。29.√解析：磁粉探傷中使用的磁粉類型主要有干式磁粉（如干粉磁粉、磁性顏料）和濕式磁粉（如水基磁粉、溶劑基磁粉）。干式磁粉使用方便，不污染環(huán)境，適用于非磁性材料和現(xiàn)場檢測。濕式磁粉靈敏度高，磁粉顆粒細(xì)，懸浮性好，應(yīng)用最廣泛，尤其適用于復(fù)雜形狀工件的檢測。這兩種是磁粉探傷中最常用的磁粉類型。30.×解析：射線探傷中，常用的膠片類型是銀鹽膠片，它是通過射線使感光乳劑發(fā)生化學(xué)反應(yīng)來記錄圖像的。硫酸鋇膠片是用于熒光探傷的，它本身不記錄射線圖像，而是利用硫酸鋇作為熒光體，將X射線轉(zhuǎn)換為可見光，通過觀察屏觀察熒光圖像。銀鹽膠片是照相法探傷使用的，而硫酸鋇是熒光法探傷使用的。31.√解析：超聲波探傷中，探頭的選擇需要考慮多個(gè)因素。直探頭適用于檢測近表面缺陷或進(jìn)行測厚。斜探頭用于檢測一定深度的缺陷，并可以通過改變角度調(diào)整探測深度和方向。測厚探頭專門用于測量薄板或管壁的厚度。還有角度探頭、組合探頭等。探頭類型的選擇直接影響探傷效果和適用性。它們都是超聲波探傷中常用的探頭類型。32.×解析：磁粉探傷中，磁懸液的穩(wěn)定性評估不僅包括磁粉沉降速度，還包括磁粉的分散性和粘度。沉降速度慢是穩(wěn)定性好的表現(xiàn)，但分散性差或粘度過高同樣會影響磁懸液的使用效果。因此，評估穩(wěn)定性需要綜合考慮這三個(gè)方面，而不是僅僅看沉降速度。33.√解析：射線探傷中，為了提高圖像的清晰度，除了使用濾光器吸收散射線外，還可以通過優(yōu)化曝光條件（如選擇合適的射線能量、曝光時(shí)間）、使用準(zhǔn)直器限制射線束、選擇高清晰度的膠片和暗室處理工藝等手段來提高圖像的清晰度。使用濾光器是其中一種有效的方法，通過減少散射，使圖像輪廓更清晰。34.√解析：超聲波探傷中，常用的缺陷指示器確實(shí)包括回波幅度、回波寬度和回波持續(xù)時(shí)間。回波幅度反映缺陷的大小或反射能量。回波寬度與缺陷的尺寸、形狀以及超聲波在缺陷中傳播的時(shí)間有關(guān)?；夭ǔ掷m(xù)時(shí)間可以提供關(guān)于缺陷深度和類型的額外信息。綜合這些指示器是進(jìn)行缺陷評估的基礎(chǔ)。35.×解析：磁粉探傷中，磁化方法的選擇非常靈活，交流磁化、直流磁化和半波磁化（以及雙波磁化等）都是常用的方法，可以根據(jù)工件特點(diǎn)選擇。半波磁化和雙波磁化是交流磁化的特殊形式，它們通過在交流電的