機(jī)械加工檢驗員理論考試題及答案一、單項選擇題（每題2分，共20分）1.某軸類零件標(biāo)注尺寸為Φ50±0.02mm，其最大極限尺寸和最小極限尺寸分別為（）。A.50.02mm，49.98mmB.50.04mm，49.96mmC.50.02mm，50.00mmD.50.00mm，49.98mm2.形位公差符號“↗”表示（）。A.平行度B.垂直度C.傾斜度D.同軸度3.表面粗糙度參數(shù)Ra的含義是（）。A.輪廓的最大高度B.輪廓算術(shù)平均偏差C.微觀不平度十點高度D.輪廓單元的平均寬度4.千分尺的分度值通常為（）。A.0.01mmB.0.02mmC.0.05mmD.0.1mm5.以下哪種情況會導(dǎo)致塞規(guī)通端無法通過被檢孔？（）A.孔的實際尺寸大于最大極限尺寸B.孔的實際尺寸小于最小極限尺寸C.孔的圓度誤差超差D.孔的表面粗糙度值過大6.零件圖中未注公差尺寸的公差等級一般為（）。A.IT12~IT18B.IT6~IT8C.IT9~IT11D.IT1~IT57.測量內(nèi)孔直徑時，正確的測量位置應(yīng)選擇（）。A.孔口邊緣B.孔深1/3處C.孔深2/3處D.孔的全長范圍內(nèi)多個截面8.以下關(guān)于尺寸鏈的描述，錯誤的是（）。A.封閉環(huán)是間接保證的尺寸B.增環(huán)尺寸增大時，封閉環(huán)尺寸增大C.減環(huán)尺寸增大時，封閉環(huán)尺寸增大D.尺寸鏈中至少包含三個環(huán)9.檢驗鑄件毛坯時，重點關(guān)注的缺陷不包括（）。A.縮孔B.夾砂C.刀痕D.氣孔10.三坐標(biāo)測量機(jī)（CMM）的主要功能不包括（）。A.測量復(fù)雜曲面輪廓B.檢測形位公差C.快速測量批量零件的外徑D.建立三維坐標(biāo)系進(jìn)行空間尺寸測量二、判斷題（每題1分，共10分。正確打“√”，錯誤打“×”）1.公差是允許尺寸的變動量，因此公差值可以為正、負(fù)或零。（）2.表面粗糙度Ra值越小，零件表面越光滑。（）3.圓度公差帶是在同一正截面上，半徑差為公差值t的兩同心圓之間的區(qū)域。（）4.游標(biāo)卡尺的零位誤差屬于系統(tǒng)誤差，可通過校準(zhǔn)消除。（）5.檢驗時，若零件尺寸在最大、最小極限尺寸之間，則其形位公差一定合格。（）6.螺紋塞規(guī)的止端用于控制螺紋的單一中徑，通端用于控制螺紋的作用中徑。（）7.測量溫度對尺寸精度有影響，精密測量時需控制環(huán)境溫度為20℃±1℃。（）8.未注形位公差的零件無需檢驗形位誤差。（）9.量塊按“等”使用時，需考慮量塊的制造誤差；按“級”使用時，需考慮量塊的檢定誤差。（）10.首件檢驗的目的是驗證工藝系統(tǒng)的穩(wěn)定性，防止批量不合格。（）三、簡答題（每題6分，共30分）1.簡述尺寸公差與形位公差的區(qū)別與聯(lián)系。2.列舉三種常用的表面粗糙度測量方法，并說明其適用場景。3.解釋“包容要求”的含義，并說明其標(biāo)注方法及應(yīng)用場景。4.簡述千分尺的使用步驟及注意事項。5.分析機(jī)械加工中常見的尺寸超差原因（至少列出5項）。四、計算題（每題10分，共20分）1.某軸套零件裝配后，要求軸向間隙為0.05~0.15mm（封閉環(huán)A0）。已知相關(guān)尺寸：A1=30mm（增環(huán)），A2=15mm（減環(huán)），A3=10mm（減環(huán)）。試計算各組成環(huán)的上下偏差（假設(shè)各組成環(huán)公差相等）。2.用分度值為0.02mm的游標(biāo)卡尺測量某軸徑，主尺讀數(shù)為52mm，游標(biāo)第8格與主尺對齊。若該軸的尺寸要求為Φ52±0.05mm，判斷測量結(jié)果是否合格，并計算實際尺寸的偏差。五、綜合分析題（20分）下圖為某階梯軸零件圖（局部），尺寸標(biāo)注如下：-Φ30h7（0/-0.021mm），長度50mm（±0.1mm）-Φ40k6（+0.018/+0.002mm），長度30mm（±0.05mm）-Φ30h7外圓對Φ40k6外圓的同軸度公差Φ0.02mm-表面粗糙度要求：Φ30h7外圓Ra≤0.8μm，Φ40k6外圓Ra≤1.6μm要求：（1）列出該零件需要檢驗的主要項目；（2）針對每個檢驗項目，選擇合適的測量工具；（3）若實測Φ30h7外圓尺寸為29.985mm，Φ40k6外圓尺寸為40.010mm，同軸度誤差為0.025mm，判斷各項目是否合格，并說明理由。---答案及解析一、單項選擇題1.A（±0.02表示上偏差+0.02，下偏差-0.02，故最大50+0.02=50.02，最小50-0.02=49.98）2.C（平行度為“∥”，垂直度為“⊥”，傾斜度為“↗”，同軸度為“◎”）3.B（Ra為輪廓算術(shù)平均偏差，Rz為十點高度，Ry為最大高度）4.A（千分尺分度值通常為0.01mm，數(shù)顯千分尺可到0.001mm）5.B（塞規(guī)通端控制最小極限尺寸，若孔實際尺寸小于最小極限尺寸，通端無法通過）6.A（未注公差一般對應(yīng)IT12~IT18，具體按GB/T1804）7.D（內(nèi)孔測量需在全長范圍內(nèi)多截面測量，避免單一位置誤差）8.C（減環(huán)尺寸增大時，封閉環(huán)尺寸減?。?.C（刀痕是機(jī)加工缺陷，鑄件毛坯主要缺陷為縮孔、夾砂、氣孔等）10.C（三坐標(biāo)適合復(fù)雜測量，批量外徑測量用游標(biāo)卡尺或卡規(guī)更高效）二、判斷題1.×（公差是絕對值，無符號，不能為負(fù)或零）2.√（Ra值越小，表面微觀不平度越小，越光滑）3.√（圓度公差帶定義為同一正截面內(nèi)兩同心圓間區(qū)域）4.√（零位誤差是系統(tǒng)誤差，可通過校準(zhǔn)修正）5.×（尺寸合格不代表形位公差合格，兩者獨立要求）6.√（通端控制作用中徑，止端控制單一中徑，符合GB/T3934）7.√（精密測量標(biāo)準(zhǔn)溫度為20℃，偏差會導(dǎo)致熱脹冷縮誤差）8.×（未注形位公差需按GB/T1184執(zhí)行默認(rèn)公差等級）9.×（量塊按“級”使用時用制造誤差，按“等”使用時用檢定誤差）10.√（首件檢驗是批量生產(chǎn)前的關(guān)鍵步驟，防止批量報廢）三、簡答題1.區(qū)別：尺寸公差控制尺寸的變動范圍，形位公差控制形狀和位置誤差；尺寸公差是一維約束，形位公差是二維或三維約束。聯(lián)系：兩者共同保證零件功能，某些情況下（如包容要求）形位公差與尺寸公差相關(guān)聯(lián)，尺寸公差隱含對形位誤差的限制。2.（1）比較樣塊法：通過肉眼或觸覺與標(biāo)準(zhǔn)樣塊對比，適用于現(xiàn)場快速檢驗；（2）觸針法（輪廓儀）：通過測針掃描表面，精確測量Ra、Rz等參數(shù)，適用于精密零件；（3）光切法（光切顯微鏡）：利用光切原理測量表面微觀高度，適用于Ra0.8~0.025μm的表面。3.包容要求（E）是要求實際要素的體外作用尺寸不超出最大實體尺寸，且局部實際尺寸不超出最小實體尺寸。標(biāo)注方法：在尺寸公差后加符號“?”。應(yīng)用場景：用于有配合要求的孔軸，如滑動軸承與軸的配合，確保裝配性同時限制形狀誤差。4.使用步驟：（1）清潔測量面；（2）校準(zhǔn)零位；（3）輕旋微分筒接觸工件，聽到“咔嗒”聲停止；（4）讀數(shù)（主尺+微分筒）。注意事項：避免用力過猛導(dǎo)致變形；測量后及時松開；定期校準(zhǔn)；避免高溫或潮濕環(huán)境。5.常見原因：（1）刀具磨損未及時調(diào)整；（2）機(jī)床熱變形導(dǎo)致加工尺寸漂移；（3）夾具定位誤差；（4）編程錯誤（數(shù)控加工）；（5）測量工具誤差未校準(zhǔn)；（6）材料熱脹冷縮（如剛加工完立即測量）；（7）工藝參數(shù)設(shè)置不當(dāng)（如進(jìn)給速度過高）。四、計算題1.封閉環(huán)A0=A1-(A2+A3)，公差T0=0.15-0.05=0.10mm。設(shè)各組成環(huán)公差相等，則T1=T2=T3=T0/3≈0.033mm（取0.03mm）。封閉環(huán)上偏差ES0=ES1-(EI2+EI3)=0.15；下偏差EI0=EI1-(ES2+ES3)=0.05。假設(shè)A1為增環(huán)，上偏差ES1=+0.03，下偏差EI1=0；A2、A3為減環(huán)，上偏差ES2=ES3=0，下偏差EI2=EI3=-0.03。驗證：ES0=0.03-(0+0)=0.03（不符合0.15），需調(diào)整。正確方法：封閉環(huán)公差T0=ΣTi，故Ti=T0/3≈0.033mm。設(shè)A1上偏差+0.033，下偏差0；A2、A3上偏差0，下偏差-0.033。則ES0=0.033-(0+0)=0.033（仍?。?，說明需重新分配。實際應(yīng)按極值法：T0=T1+T2+T3=0.10，故可設(shè)T1=0.04，T2=T3=0.03。則ES1=+0.04，EI1=0；ES2=ES3=0，EI2=EI3=-0.03。此時ES0=0.04-(0+0)=0.04（仍不足），需增大T1。最終合理分配：T1=0.05，T2=T3=0.025，ES1=+0.05，EI1=0；ES2=ES3=0，EI2=EI3=-0.025。則ES0=0.05-(0+0)=0.05（下偏差EI0=0-(0.025+0.025)=-0.05），但封閉環(huán)要求0.05~0.15，故需調(diào)整A1上偏差為+0.10，T1=0.10，T2=T3=0（不合理）。正確解法應(yīng)為：A0=A1-A2-A3，故ES0=ES1-EI2-EI3=0.15；EI0=EI1-ES2-ES3=0.05。假設(shè)各環(huán)為基孔制或基軸制，通常A1為外尺寸（軸），上偏差0，下偏差-0.03；A2、A3為內(nèi)尺寸（孔），上偏差+0.03，下偏差0。則ES0=0-0-0=0（錯誤）。正確答案需更嚴(yán)謹(jǐn)計算，此處簡化為：各組成環(huán)公差T1=0.04，T2=0.03，T3=0.03，ES1=+0.04，EI1=0；ES2=+0.03，EI2=0；ES3=+0.03，EI3=0。則ES0=0.04-0-0=0.04，EI0=0-0.03-0.03=-0.06，與封閉環(huán)0.05~0.15不符，說明需重新分配公差（實際生產(chǎn)中常用統(tǒng)計法）。2.游標(biāo)卡尺讀數(shù)=主尺讀數(shù)+游標(biāo)格數(shù)×分度值=52mm+8×0.02mm=52.16mm。軸徑要求Φ52±0.05mm，即51.95~52.05mm。實測52.16mm超出上極限52.05mm，故不合格。偏差=52.16-52=+0.16mm。五、綜合分析題（1）檢驗項目：Φ30h7外圓尺寸、Φ40k6外圓尺寸、兩外圓長度（50mm±0.1mm、30mm±0.05mm）、Φ30h7對Φ40k6的同軸度、Φ30h7外圓表面粗糙度（Ra≤0.8μm）、Φ40k6外圓表面粗糙度（Ra≤1.6μm）。（2）測量工具：Φ30h7尺寸用外徑千分尺（精度0.01mm）；Φ40k6尺寸用外徑千分尺或游標(biāo)卡尺（精度0.02mm）；長度用游標(biāo)卡尺（50mm±0.1mm可用0.02mm卡尺，30mm±0.05mm需用千分尺）；同軸度用偏擺儀或三坐標(biāo)測量機(jī)；表面粗糙度用粗糙度儀或比較樣塊（Φ30h7用Ra0.8樣塊，Φ40k6用Ra1.6樣塊）。（3）判定：-Φ30h7尺寸：要求0/-0.021mm（即29.979