千里之行，始于足下讓知識(shí)帶有溫度。第第2頁(yè)/共2頁(yè)精品文檔推薦嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)師歷年試題解析嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)師歷年試題解析

本復(fù)習(xí)題頁(yè)碼標(biāo)注所用教材為：

嵌入式系統(tǒng)技術(shù)張曉林2022年10月第1版高等教導(dǎo)出版社

如學(xué)員使用其他版本教材，請(qǐng)參考相關(guān)學(xué)問(wèn)點(diǎn)

1.嵌入式系統(tǒng)調(diào)試通?？梢苑譃橛布?jí)調(diào)試和在線仿真器調(diào)試。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)調(diào)試，參見(jiàn)P47

2.在ARM處理器中，迅速中斷（FIQ）的優(yōu)先級(jí)高于外部中斷（IRQ）。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：ARM處理器，參見(jiàn)P62

3.ROM能夠永遠(yuǎn)或半永遠(yuǎn)地保存數(shù)據(jù)，ROM內(nèi)的數(shù)據(jù)永久不會(huì)走失。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：存儲(chǔ)器特點(diǎn)，參見(jiàn)P131

4.內(nèi)建測(cè)試系統(tǒng)(BIST)是SoC片上系統(tǒng)的重要結(jié)構(gòu)之一，JTAG測(cè)試接口是IC芯片測(cè)試辦法的標(biāo)準(zhǔn)。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)測(cè)試，參見(jiàn)P43

5.VHDL的基本單元描述不包括庫(kù)。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：SOC主要設(shè)計(jì)語(yǔ)言，參見(jiàn)P233

6.嵌入式ARM架構(gòu)的嵌入式處理器同時(shí)支持大端、小端（Big/Little-Endian）數(shù)據(jù)類型。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：嵌入式ARM架構(gòu)的嵌入式處理器，參見(jiàn)P16

7.嵌入式操作系統(tǒng)通常采納整體式內(nèi)核或?qū)哟问絻?nèi)核的結(jié)構(gòu)。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：嵌入式操作系統(tǒng)內(nèi)核，參見(jiàn)P249

8.ARM7TDMI中的T代表增加型乘法器。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：ARM處理器，參見(jiàn)71

9.看門(mén)狗(WatchDog)實(shí)際是一個(gè)容易的定時(shí)器，在固定時(shí)光內(nèi)若正常清零，則自動(dòng)復(fù)位處理器。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：嵌入式式系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)，教材無(wú)參考答案

10.ARM-CPU由多家不同創(chuàng)造商生產(chǎn)，芯片外部提供的總線是不全都的。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：嵌入式總線技術(shù)，參見(jiàn)P183

1．嵌入式處理器指令的執(zhí)行周期包括（）

A.啟動(dòng)、運(yùn)行、退出

B.取指令、指令譯碼、執(zhí)行指令、存儲(chǔ)

C.啟動(dòng)、運(yùn)行、掛起、退出

D.取指令、指令譯碼、執(zhí)行指令

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：ARM處理器指令周期,參見(jiàn)P69

2．下列不屬于嵌入設(shè)計(jì)處理器本身帶有的基本接口是（）

A.串口；

B.并口；

C.PCIE；

D.AD/DA；

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：電路硬件設(shè)計(jì)，參見(jiàn)P141

3．以下幾個(gè)步驟是DMA控制過(guò)程的主要節(jié)點(diǎn)，請(qǐng)選出正確的DMA控制流程(哀求信號(hào)HRQ)為（）

1.CPU讓出總線控制權(quán)(響應(yīng)信號(hào)HLDA)

2.DMA控制器向CPU哀求總線使用權(quán)

3.DMA控制器控制總線,發(fā)總線命令、傳送數(shù)據(jù)

4.DMA總線控制器歸還總線控制權(quán)

5.CPU重新獵取總線控制權(quán)

A.2，1，3，4；

B.1，2，3，4；

C.3，1，4，2；

D.3，4，1，2；

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：DMA控制過(guò)程，教材中沒(méi)有參考答案

4、一個(gè)嵌入式系統(tǒng)可以含有多個(gè)總線,以下不屬于IO總線的為（）

A.AGP；

B.PCI；

C.AHB；

D.ISA

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：嵌入式總線技術(shù)，參見(jiàn)P183

5．VHDL是（）

A.硬件描述語(yǔ)言

B.軟件描述語(yǔ)言

C.構(gòu)件描述語(yǔ)言

D.軟件開(kāi)發(fā)工具

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：SOC主要設(shè)計(jì)語(yǔ)言，參見(jiàn)P233

6．uC/OS-II可以管理64個(gè)任務(wù)，其中保留（）個(gè)給系統(tǒng)。

A.7；

B.8；

C.9；

D.10

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：uC/OS-II操作系統(tǒng)，教材中沒(méi)有參考答案

7．以下不屬于uC/OS-II中支持的中斷類型的是（）

A.硬件中斷

B.外部中斷

C.陷井中斷

D.臨界區(qū)中斷

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：uC/OS-II操作系統(tǒng)，教材中沒(méi)有參考答案

8．將系統(tǒng)啟動(dòng)代碼讀入內(nèi)存是（）的主要職責(zé)

A.內(nèi)存管理；

B.VFS；

C.BootLoader；D：虛擬內(nèi)存

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)啟動(dòng)，參見(jiàn)P343

9．CAN總線是指（）

A.控制器局域網(wǎng)

B.網(wǎng)絡(luò)傳輸協(xié)議

C.數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

D.軟硬件接口

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：嵌入式總線技術(shù)，教材中沒(méi)有參考答案

10．屬于LCD三種顯示方式的是（）

A.投射型、反射型、透射型

B.投射型、透反射型、透射型

C.反射型、透射型、透反射型

D.投射型、反射型、透反射型

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：LCD分類，教材中沒(méi)有參考答案

11．操作系統(tǒng)內(nèi)核是指（）

A.操作系統(tǒng)的調(diào)度部分

B.操作系統(tǒng)的驅(qū)動(dòng)

C.操作系統(tǒng)的存儲(chǔ)管理

D.操作系統(tǒng)的核心部分

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：操作系統(tǒng)內(nèi)核，參見(jiàn)P309

12.ICE在線仿真器上有大量的RAM，（）是主要的一種

ASRAM

BDRAM

CBlockRAM

D影子RAM

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)調(diào)試，參見(jiàn)P47

13.下列哪種辦法不能改善電路的可測(cè)試性()

A.將復(fù)雜的電路做成單獨(dú)的模塊

B.采納電路技術(shù)，使測(cè)試矢量生成難度削減

C.改進(jìn)可控性和可觀看性

D.添加自檢查設(shè)備

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：電路的可測(cè)試性，教材中沒(méi)有參考答案

14.SoC形成或產(chǎn)生的過(guò)程不包括以下哪個(gè)方面（）

A.單片集成系統(tǒng)的軟硬件協(xié)同設(shè)計(jì)和驗(yàn)證，以實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)功能為主要目的

B.規(guī)律面積計(jì)數(shù)的使用和產(chǎn)能占有比例的有效提高，即開(kāi)發(fā)和討論IP核生成及復(fù)用技術(shù)

C.系統(tǒng)軟件的建模與開(kāi)發(fā)，即對(duì)IP核的配套

D.超深亞微米（VDSM），納米集成電路的設(shè)計(jì)理論和計(jì)數(shù)，即與底層技術(shù)的結(jié)合

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：SoC系統(tǒng)，參見(jiàn)P221

15.VxWorks操作系統(tǒng)是WindRiver公司推出的一種32位嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)，下面不是它優(yōu)點(diǎn)的是（）

A.VxWorks源碼開(kāi)源，用戶的開(kāi)發(fā)成本低。

B.簡(jiǎn)潔、緊湊、高效的內(nèi)核。

C.支持多任務(wù)，實(shí)時(shí)性強(qiáng)。

D.較好的兼容性和對(duì)多種硬件環(huán)境的支持。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：VxWorks操作系統(tǒng)，參見(jiàn)P309

16.下面是PowerPC架構(gòu)嵌入式微處理器的不是主要特點(diǎn)是（）

A.獨(dú)特的分支出來(lái)單元可以讓指令預(yù)期效率大大提高。

B.超標(biāo)量的設(shè)計(jì)。

C.適合大量向量運(yùn)算，指針現(xiàn)行尋址的智能化算法。

D.可處理“字節(jié)非對(duì)齊”的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：PowerPC架構(gòu)，參見(jiàn)P18

17.下列選項(xiàng)中，不是實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)必需滿足的條件是（）

A.具有可搶占的內(nèi)核

B.中斷可嵌套

C.任務(wù)調(diào)度的公正性

D.具有優(yōu)先級(jí)翻轉(zhuǎn)庇護(hù)

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)，參見(jiàn)P308

18.BSP作為一種嵌入式軟件，他的主要特點(diǎn)是（）

A：與硬件無(wú)關(guān)，與操作系統(tǒng)有關(guān)

B：與硬件和操作系統(tǒng)都相關(guān)

C：與硬件有關(guān)，與操作系統(tǒng)無(wú)關(guān)

D：與操作系統(tǒng)和硬件都無(wú)關(guān)

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：BSP概述，參見(jiàn)P340

19.JTAG的引腳TCK的主要功能是（）

A.測(cè)試時(shí)鐘輸入；

B.測(cè)試數(shù)據(jù)輸入，數(shù)據(jù)通過(guò)TDI輸入JTAG口；

C.測(cè)試數(shù)據(jù)輸出，數(shù)據(jù)通過(guò)TDO從JTAG口輸出；

D.測(cè)試模式挑選，TMS用來(lái)設(shè)置JTAG口處于某種特定的測(cè)試模式。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)測(cè)試，參見(jiàn)P43

20.（）是局部性原理的主要應(yīng)用。

A.不斷提高內(nèi)存的速度

B.不斷提高處理器片上的晶體管數(shù)量

C.不斷提高處理器速度

D.如何解決高性能和高成本之間的沖突

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)，參見(jiàn)P141

三、簡(jiǎn)答題（共3小題，每小題8分，共24分）

1、簡(jiǎn)述馮?諾依曼結(jié)構(gòu)與哈佛結(jié)構(gòu)，并指出日常生活中的Intel處理器屬于哪種結(jié)構(gòu)。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：馮?諾依曼結(jié)構(gòu)與哈佛結(jié)構(gòu)，參見(jiàn)P7

2、除了牢靠性以外，請(qǐng)簡(jiǎn)述其他（至少四個(gè)）用于評(píng)價(jià)嵌入式系統(tǒng)性能的指標(biāo)，并請(qǐng)指出MTBF的詳細(xì)含義。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)性能的指標(biāo)，參見(jiàn)P31

3、嵌入式系統(tǒng)總體上可分為軟件系統(tǒng)和硬件系統(tǒng)。在開(kāi)發(fā)的過(guò)程中，兩者往往是

并行的關(guān)系。在軟件的開(kāi)發(fā)過(guò)程中，常常會(huì)采納交錯(cuò)開(kāi)發(fā)環(huán)境。請(qǐng)簡(jiǎn)述交錯(cuò)開(kāi)

發(fā)環(huán)境包含的兩個(gè)部分，并請(qǐng)簡(jiǎn)要講述一下交錯(cuò)開(kāi)發(fā)的過(guò)程。

考核學(xué)問(wèn)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)開(kāi)發(fā)，教材中沒(méi)有參考答案

四、分析設(shè)計(jì)題（共1小題，共16分）

1、嵌入式進(jìn)展到今日，對(duì)應(yīng)于各種微處理器的硬件平臺(tái)都是通用的、固定的；各種相應(yīng)的軟件比較成熟，模塊化程度比較高；因此，當(dāng)今的開(kāi)發(fā)過(guò)程更多的注意開(kāi)發(fā)流程，合理、科學(xué)的開(kāi)發(fā)流程往往可以達(dá)到事半功倍的效果。假設(shè)你現(xiàn)在某從事嵌入式產(chǎn)品開(kāi)