標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 8750-2014 半導(dǎo)體封裝用鍵合金絲》與《GB/T 8750-2007 半導(dǎo)體器件鍵合用金絲》相比,在多個(gè)方面進(jìn)行了調(diào)整和更新。首先,標(biāo)題的變化反映了標(biāo)準(zhǔn)適用范圍的擴(kuò)大,從原來的“半導(dǎo)體器件鍵合用金絲”更改為“半導(dǎo)體封裝用鍵合金絲”,這表明新版標(biāo)準(zhǔn)不僅限于半導(dǎo)體器件領(lǐng)域,而是涵蓋了更廣泛的半導(dǎo)體封裝應(yīng)用。
在技術(shù)內(nèi)容上,《GB/T 8750-2014》對(duì)金絲的技術(shù)要求進(jìn)行了更加詳細(xì)的描述,包括但不限于金絲直徑、抗拉強(qiáng)度等關(guān)鍵性能指標(biāo),并且增加了對(duì)金絲表面質(zhì)量的要求,如不允許存在裂紋、夾雜物等缺陷。此外,對(duì)于金絲的包裝、標(biāo)志以及運(yùn)輸?shù)确矫嬉沧隽烁鼮榫唧w的規(guī)定,以確保產(chǎn)品在整個(gè)供應(yīng)鏈過程中的品質(zhì)穩(wěn)定性。
試驗(yàn)方法部分,《GB/T 8750-2014》引入了新的測試項(xiàng)目和技術(shù)手段來評(píng)估金絲的各項(xiàng)物理化學(xué)性質(zhì),比如采用電子顯微鏡檢查金絲內(nèi)部結(jié)構(gòu),通過X射線熒光光譜儀測定金含量等先進(jìn)方法,使得檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠。
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....
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 8750-2022
- 2014-07-24 頒布
- 2015-02-01 實(shí)施




文檔簡介
ICS7715099
H68..
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T8750—2014
代替
GB/T8750—2007
半導(dǎo)體封裝用鍵合金絲
Goldbondingwireforsemiconductorpackage
2014-07-24發(fā)布2015-02-01實(shí)施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T8750—2014
目次
前言
…………………………Ⅲ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
要求
3………………………1
試驗(yàn)方法
4…………………5
檢驗(yàn)規(guī)則
5…………………5
標(biāo)志包裝運(yùn)輸和貯存
6、、…………………6
合同或訂貨單內(nèi)容
7()……………………8
附錄資料性附錄金絲弧高測試方法
A()………………9
附錄資料性附錄金絲表面質(zhì)量檢驗(yàn)方法和典型缺陷
B()……………10
附錄規(guī)范性附錄金絲線軸規(guī)定
C()……………………13
附錄規(guī)范性附錄金絲長度測量方法
D()………………15
附錄規(guī)范性附錄金絲卷曲及軸向扭曲檢驗(yàn)方法
E()…………………16
附錄規(guī)范性附錄金絲放絲性能檢測方法
F()…………20
Ⅰ
GB/T8750—2014
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)代替半導(dǎo)體器件鍵合用金絲
GB/T8750—2007《》。
本標(biāo)準(zhǔn)與原標(biāo)準(zhǔn)相比主要有如下變化
,:
標(biāo)準(zhǔn)名稱更改為半導(dǎo)體封裝用鍵合金絲英文
———“”,“Goldbondingwireforsemiconductorpackage”;
范圍修改為本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體分立器件集成電路封裝用鍵合金絲以下簡稱金絲
———“、、LED()
的要求試驗(yàn)方法檢驗(yàn)規(guī)則標(biāo)志包裝運(yùn)輸和貯存質(zhì)量證明書合同或訂貨單等內(nèi)容
、、、、、、、()。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體封裝用鍵合金絲
。”;
產(chǎn)品分類中根據(jù)不同封裝弧高范圍進(jìn)行了用途說明
———,;
刪除型金絲增加兩種型號(hào)金絲和
———D-Y,AG2AG3;
直徑規(guī)格增加了
———0.014mm、0.016mm、0.017mm、0.019mm、0.021mm、0.022mm、0.024mm、
和等
0.026mm、0.027mm、0.028mm、0.029mm、0.033mm、0.043mm、0.044mm0.045mm
規(guī)格
;
增加了產(chǎn)品標(biāo)記示例
———;
刪除了尺寸允許偏差中的重量允許范圍增加金絲重量允許范圍列表并增加了
———200mm,1m,
重量計(jì)算規(guī)定
;
金絲力學(xué)性能增加了同一直徑下不同型號(hào)半硬態(tài)金絲最小拉斷力和伸長率范圍刪除了硬態(tài)
———,
和軟體的最小拉斷力參數(shù)
;
增加取樣規(guī)定對(duì)具體性能取樣要求細(xì)化
———,;
增加附錄金絲弧高測試方法
———A,;
增加附錄金絲表面典型缺陷
———B,;
附錄中金絲卷曲試驗(yàn)檢驗(yàn)方法增加了卷曲試驗(yàn)檢驗(yàn)方法
———E2。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口
(SAC/TC243)。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位北京達(dá)博有色金屬焊料有限責(zé)任公司有色金屬技術(shù)經(jīng)濟(jì)研究院浙江佳博科技
:、、
股份有限公司山東科大鼎新電子科技有限公司
、。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人陳彪杜連民向磊張?zhí)N薛子夜苗海川陳志張立平閆茹向翠華楊志新
:、、、、、、、、、、、
趙月國周曉光
、。
本標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為
:
———GB/T8750—2007、GB/T8750—1997、GB/T8750—1988。
Ⅲ
GB/T8750—2014
半導(dǎo)體封裝用鍵合金絲
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體分立器件集成電路封裝用鍵合金絲以下簡稱金絲的要求試驗(yàn)方
、、LED()、
法檢驗(yàn)規(guī)則標(biāo)志包裝運(yùn)輸和貯存質(zhì)量證明書合同或訂貨單等內(nèi)容
、、、、、、()。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體封裝用鍵合金絲
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
有色金屬細(xì)絲拉伸試驗(yàn)方法
GB/T10573
金化學(xué)分析方法銀銅鐵鉛銻和鉍量的測定原子發(fā)射光譜法
GB/T11066.5、、、、
貴金屬及其合金材料幾何尺寸測量方法
GB/T15077
3要求
31產(chǎn)品分類
.
金絲按化學(xué)成分分為摻雜金絲和合金金絲兩大類摻雜金絲根據(jù)金絲所能達(dá)到的最低弧高分為
。
三個(gè)系列可根據(jù)摻雜元素及其含量不同分為等合金金絲
GS、GW、TS,GW1,GW2……TS1,TS2……;
根據(jù)合金成分分為兩個(gè)型號(hào)金絲的種類型號(hào)狀態(tài)用途直徑應(yīng)符合表的規(guī)定
AG2、AG3。、、、、1。
表1
種類型號(hào)狀態(tài)用途直徑
/mm
一般適用于弧高在以上范圍的
250μm
GS高弧鍵合
。
一般適用于弧高在范0.013,0.014,0.015,0.016,0.017,0.018,
摻雜金絲200μm~300μm
GW圍的中高弧鍵合
。0.019.0.020,0.021,0.022,0.023,0.024,
半硬態(tài)
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