UDC669.058:531.717.1中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB6462-86金屬和氧化物覆蓋層橫斷面厚度顯微鏡測量方法Metallicandoxide：coatings一MeasurementofcoatingthicknessMicroscopicalmethod1986-06-11發(fā)布1987-05-01實(shí)施家標(biāo)準(zhǔn)局批準(zhǔn)

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)金屬和氧化物覆蓋層GB6662-86橫斷面厚度顯微鏡測量方法Metallicandoxidecoatings-Measurementofcoatingthickness－Microscopicalmethod本標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)說明了運(yùn)用金相顯微鏡對金屬鍍層、氧化物覆蓋層的局部厚度作橫斷面顯微測量的方法本標(biāo)準(zhǔn)還可以測量箱瓷或糖瓷覆蓋層的局部厚度及測量薄的厚度，用金相顯微鏡進(jìn)行測量，其絕對精度可達(dá)到0.8Hm。本方法可作為金屬鏡層、氧化層厚度測量的仲裁方法。本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國際標(biāo)準(zhǔn)ISO1463一1982《金屬和氧化物覆蓋層橫斷面厚度顯微鏡測量方法》生：局部厚度：在試樣上指定的部位內(nèi)，作規(guī)定次數(shù)的調(diào)量。其嘆度取平均值、方法概述從待測件上指定的位置切割一塊試樣，鑲嵌后，對橫斷面進(jìn)行適當(dāng)?shù)难心?、拋光和浸蝕。用校正過的標(biāo)尺測量覆蓋層橫斷面的厚度。！影響測量精度的因素2.1表面粗糙度若覆蓋層或覆蓋層的基體表面是粗糙的，則與漫蓋層橫斷面接觸的一條或兩條界面線也是不規(guī)則的，以致不能精確測量（見附錄A（補(bǔ)充件）中A·4】。2.2橫斷面的斜度橫斷面必須蠶直于待測覆蓋層，著有偏茶，則測得的厚度將大于真實(shí)厚度。如垂直度偏差10.則測量值比真實(shí)厚度大1.5"。2.3覆基層變形嵌試樣和制備橫斷面的過程中，過高的溫度和兒力將使軟的或低培點(diǎn)的覆蓋層產(chǎn)生變形，在制備脆性材料橫斷面時，過度的打磨也同樣會產(chǎn)生變形2.4覆蓋層邊緣倒角制備試樣時，不正確的鑲嵌、研磨、拋光和浸蝕都會引起覆蓋層橫斷面的邊緣倒角.或者不平整，采用顯微鏡測量則得不到真實(shí)厚度，因此在鑲嵌之前，試樣常要附加鍍層，這樣可使邊緣倒角減至最小（見A.1）。2.5附加鍍層在制備橫斷面時為了保護(hù)覆蓋層的邊緣，以避免測量誤茶，常應(yīng)在試樣上附加鍍層。附加鍍層前、應(yīng)注意不要損壞待測量的鍍層并避免因除油、酸洗或形成合金而使鍍層減薄。2.6漫蝕適當(dāng)?shù)穆g能在兩種金屬的界面線上產(chǎn)生暗細(xì)而清晰的界面線：過度的沒蝕會使界面