ICS.19.040K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.11-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備InspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandlelectronicproductsCorrosivegastestingequipments1996-12-13發(fā)布1997-11-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備GB/T5170.11-1996中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號郵政編碼：1(045電話：63787337、637874471997年9月第一版2005年1月電子版制作書號：155066·1-14067版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報電話：（010）68533533

GB/T5170.11-1996本標(biāo)準(zhǔn)是電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法系列標(biāo)準(zhǔn)之本標(biāo)準(zhǔn)由GB5170.11-85與GB5170.12-85合并修訂而成。本標(biāo)準(zhǔn)與1985年發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)相比，技術(shù)內(nèi)容有以下變化：明確本標(biāo)準(zhǔn)適用于環(huán)境試驗設(shè)備在使用期間的周期檢定。以區(qū)別于產(chǎn)品的型式試驗等，-增加了溫度測量儀器系統(tǒng)精確度指標(biāo)；推薦采用儀器測量腐蝕氣體濃度；對于測量點(diǎn)數(shù)量及布放位置，刪去大于2m°的大型試驗設(shè)備；規(guī)定各項目的檢定均應(yīng)在負(fù)載條件下進(jìn)行,若空載需注明；規(guī)定溫度偏差、相對濕度偏差檢定時試驗設(shè)備的穩(wěn)定時間可以縮短；溫度偏差、相對濕度偏差檢定的測量總時間由24h縮短為30mia,腐蝕氣體濃度偏差檢定的測量總時間由24h縮短為1h,相應(yīng)測量時間間隔均有改變;——列入溫度、相對濕度及腐蝕氣體濃度偏差要求，并增加了計算方法、本標(biāo)準(zhǔn)自實施之日起，同時代替GB5170.11-85、GB5170.12—85.本標(biāo)準(zhǔn)由機(jī)械工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位;機(jī)械工業(yè)部上海工業(yè)自動化儀表研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：陳學(xué)進(jìn)、王捷、謝建華、付文茹、薛振夷、王則燕。

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備GB/T5170.11-1996InspectionmethodsforbasieparametersofenvironmentaltestingequipmentsCorrosivegastestingequipments1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了腐蝕氣體試驗設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時所涉及的檢定項目、檢定用儀器、測量點(diǎn)數(shù)量及布放位置、檢定步驥及數(shù)據(jù)處理等本標(biāo)準(zhǔn)適用于對GB/T2423.19《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗方法》和GB/T2423.20《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kd：接觸點(diǎn)和連接件的碗化氫試驗方法》所用試驗設(shè)備的周期檢定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類似試驗設(shè)備的周期檢定。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文·通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討、使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。（B/T5170.1一1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T2423.19電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ke:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗方法GB/T2423.20電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗方法GB/T2424.11電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗導(dǎo)則GB/T2424.12電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗導(dǎo)則GB6999—89