ICS19.100J04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5097—2005/ISO3059:2001代替GB/T5097-1985無損檢測滲透檢測和磁粉檢測觀察條件Non-destructivetesting-Penetranttestingandmagneticparticletesting-viewingconditions（ISO3059:2001,IDT)2005-06-08發(fā)布2005-12-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T5097-2005/IS03059:2001本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO3059.2001《無損檢測滲透檢測和磁粉檢測觀察條件》(英文版)本標(biāo)準(zhǔn)等同翻譯ISO3059:2001。本標(biāo)準(zhǔn)與ISO3059:2001在規(guī)范性引用文件上存在有編輯性差異.為此說明如下：按ISO3059:2001附錄ZZ給出的等效的相應(yīng)國際和歐洲標(biāo)準(zhǔn),將引用文件中的歐洲標(biāo)準(zhǔn)改為與其等效的國際標(biāo)準(zhǔn).即：EN473改為ISO9712：1999為便于使用，本部分還做了下列編輯性修改：a“本國際標(biāo)準(zhǔn)”和“本歐洲標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為"本標(biāo)準(zhǔn)”；b）用小數(shù)點"."代替作為小數(shù)點的迎號",”；C刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的前言：用GB/T1.1規(guī)定的引導(dǎo)語代替國際標(biāo)準(zhǔn)中的引導(dǎo)語：本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T5097—1985《黑光源的間接評定方法》。e）刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的資料性附錄ZZ“文中未給出的等效的相應(yīng)國際和歐洲標(biāo)準(zhǔn)”本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T5097—1985相比主要變化如下：增加了范圍(見第1章)增加了規(guī)范性引用文件(見第2章)；改了安全提示(1985年版的第6章;本版的第3章):增加了色對比技術(shù)(見第4章)；修修改了熒光技術(shù)(1985年版的第1.2.3、4、5章和附錄A、附錄B、附錄C;本版的第5章)；增加了視力（見第6章)；增加了校驗(見第7章）。請注意本標(biāo)準(zhǔn)的某些內(nèi)容有可能涉及專利。2本標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布機構(gòu)不應(yīng)承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任本標(biāo)準(zhǔn)由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出，本標(biāo)準(zhǔn)由全國無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC56)歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：上海航空股份有限公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：李光潔。本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：GB/T5097-1985。

GB/T5097-2005/ISO3059:2001引在對顯示觀察時.滲透檢測和磁粉檢測均需控制的有關(guān)環(huán)境條件,例如-在色對比技術(shù)中,充足的白光照明以獲得可靠的檢測結(jié)果。-熒光系統(tǒng)中，在最低的白光照射下以獲得充足的UV-A輛照

GB/T5097-2005/IS03059:2001無損檢測滲透檢測和磁粉檢測觀察條件T范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在磁粉和滲透檢測中對觀察條件的控制。包括對光照度和UV-A輻射照度的最低要求及其測量方法，適用于以肉眼作為主要觀測手段的場合。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注明日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)然而.鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注明日期的引用文件.其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T9445無損檢測人員資格鑒定與認(rèn)證（ISO9712:1999,IDT）GB/T2900.65電工術(shù)語照明（GB/T2900.65-2004.IEC60050-845.IDT）3安全提示應(yīng)考慮國家和地方的所有有關(guān)健康和安全方面的法規(guī)。應(yīng)盡量減少人暴露在UV-A輻射下。應(yīng)避免暴露在低于330nm的UV-A輻射下。應(yīng)避免暴露在UV-B和UV-C輻射下(如來自損壞或開裂的濾片)。色對比技術(shù)4.1光源檢驗應(yīng)在日光或人工照明下進(jìn)行，不應(yīng)使用如鈉燈等單色光源被檢表面應(yīng)均勾照射，應(yīng)避免閃煉和反射4.2測量在工作條件下，應(yīng)使用光照度計測量被檢表面處的光照度。光照度計的標(biāo)稱光譜響應(yīng)按GB/T2900.65標(biāo)定。4.3要求被檢表面光照度應(yīng)大于等于500lx.5；熒光技術(shù)5.1紫外輻射源檢驗應(yīng)在標(biāo)稱最大強度值在365nm處的UV-A輻射源（315nm至400nm）下進(jìn)行.?。篣V-A的輻射照度會隨使用時間變化.如隨燈泡老化，反光罩或濾片的性能交化而變化。非常重要的是降低來自工件上可見背景光或其他UV-A燈及未良好遮掩的其他光源對眼晴的直射。5.2測量在工作條件下,應(yīng)使用具有圖1所