ICS49020

CCSV.25

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T412709—2022

.

航空電子過程管理大氣輻射影響

第9部分航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)

:

故障率計算程序與方法

Processmanagementforavionics—Atmosphericradiationeffects—

Part9Sinleeventeffectfaultratecalculationmethodsandroceduresfor

:gp

avionicequipment

2022-03-09發(fā)布2022-10-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T412709—2022

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

縮略語

4……………………1

計算方法

5…………………2

通用計算方法

5.1………………………2

總故障率計算方法

5.2…………………2

軟故障率計算方法

5.3…………………2

硬故障率計算方法

5.4…………………3

計算程序

6…………………4

計算流程圖

6.1…………………………4

輸入

6.2…………………5

計算步驟

6.3……………5

輸出

6.4…………………6

附錄資料性計算案例

A()………………7

附錄資料性敏感器件清單

B()…………11

附錄資料性大氣中子輻射應(yīng)力計算方法

C()…………13

附錄資料性單粒子效應(yīng)截面數(shù)據(jù)典型值

D()…………19

參考文獻(xiàn)

……………………20

Ⅰ

GB/T412709—2022

.

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是航空電子過程管理大氣輻射影響的第部分已經(jīng)發(fā)布

GB/T41270《》9。GB/T41270

了以下部分

:

第部分航空電子產(chǎn)品設(shè)計中單粒子效應(yīng)分析過程管理

———7:;

第部分航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)故障率計算程序與方法

———9:。

本文件由全國航空電子過程管理標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC427)。

本文件起草單位中國航空綜合技術(shù)研究所北京圣濤平試驗工程技術(shù)研究院有限責(zé)任公司中國

:、、

航空工業(yè)集團(tuán)公司西安飛機設(shè)計研究所

。

本文件主要起草人王群勇邵文韜陳冬梅陽輝白樺施發(fā)健嚴(yán)拴航梁力閆攀峰王曉煒

:、、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T412709—2022

.

引言

01目標(biāo)

.

本文件是為了航空電子設(shè)備電子產(chǎn)品單粒子效應(yīng)故障率的分析計算的需要而制定的

。

02技術(shù)概述

.

大氣層內(nèi)工作的航空電子設(shè)備其關(guān)鍵器件在遭受大氣中子輻射下會產(chǎn)生多種單粒子效應(yīng)傳遞至

,,

航空電子設(shè)備會產(chǎn)生單粒子效應(yīng)軟故障和或硬故障會影響飛機的安全性考慮到只有設(shè)備級

,/,。SEE

故障率才參與系統(tǒng)級飛機級的安全分析過程因此在飛機安全性評估過程中需要提供設(shè)備級的

、。,

故障率及其計算方法與程序為航空電子設(shè)備安全性分析提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)

SEE,。

大氣輻射影響航空電子系統(tǒng)單粒子效應(yīng)試驗指南和

GB/T34955—2017《》GB/T34956—2017

大氣輻射影響航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)防護(hù)設(shè)計指南共同構(gòu)成航空電子產(chǎn)品開展單粒子效應(yīng)設(shè)計

《》

與分析的基礎(chǔ)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

。

規(guī)定了大氣中子單粒子效應(yīng)分析試驗評價方法與程序擬由兩個部分構(gòu)成

GB/T41270、、,。

第部分航空電子產(chǎn)品設(shè)計中單粒子效應(yīng)分析過程管理目的在于規(guī)定航空電子產(chǎn)品設(shè)計

———7:。

中電子元器件單粒子效應(yīng)分析的方法和程序

。

第部分航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)故障率計算程序與方法目的在于規(guī)定航空電子設(shè)備單

———9:。

粒子效應(yīng)故障率通用總故障率軟故障率硬故障率計算方法與計算程序

、、、。

03相關(guān)專利情況說明

.

本文件的發(fā)布機構(gòu)提請注意聲明符合本文件時可能涉及單粒子效應(yīng)故障率大氣中子輻射應(yīng)力

,,、、

器件敏感截面降額因子相關(guān)的專利的使用

、。

本文件的發(fā)布機構(gòu)對于該專利的真實性有效性和范圍無任何立場

、。

該專利持有人已向本文件的發(fā)布機構(gòu)承諾他愿意同任何申請人在合理且無歧視的條款和條件下

,,

就專利授權(quán)許可進(jìn)行談判該專利持有人的聲明已在本文件的發(fā)布機構(gòu)備案

。。

表中列出的專利權(quán)人持有本文件涉及的專利

1。

表1持有本文件涉及專利的專利權(quán)人相關(guān)信息

專利持有人地址

北京圣濤平試驗工程技術(shù)研究院有限責(zé)任公司北京市海淀區(qū)紫竹院路號中國兵器大廈室

69708

請注意除上述專利外本文件的某些內(nèi)容仍可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別專利的

,。

責(zé)任

。

Ⅳ

GB/T412709—2022

.

航空電子過程管理大氣輻射影響

第9部分航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)

:

故障率計算程序與方法

1范圍

本文件給出了航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)故障率通用計算方法總故障率計算方法軟故障率計算方

、、

法硬故障率計算方法與計算程序

、。

本文件適用于以下高空內(nèi)工作的航空電子設(shè)備的研制試驗和維護(hù)

35km、。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

大氣輻射影響航空電子系統(tǒng)單粒子效應(yīng)試驗指南

GB/T34955—2017

大氣輻射影響航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)防護(hù)設(shè)計指南

GB/T34956—2017

3術(shù)語和定義

界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T34956—2017。

31

.

大氣中子輻射應(yīng)力atmosphericneutronradiationstress

飛行任務(wù)過程中航空電子設(shè)備遭受的大氣輻射環(huán)境中子注量率

,。

注大氣中子輻射應(yīng)力的單位為每平方厘米小時2

: