標準解讀

《GB/T 22452-2008 硼酸鹽非線性光學單晶元件通用技術(shù)條件》是一項國家標準,旨在為硼酸鹽非線性光學單晶元件的設(shè)計、生產(chǎn)、測試及使用提供指導。該標準適用于以硼酸鹽為基礎(chǔ)材料的各類非線性光學晶體元件,如LBO(三硼酸鋰)、BBO(β-硼酸鋇)等,在激光頻率轉(zhuǎn)換、光參量振蕩等領(lǐng)域有著廣泛應用。

標準中詳細規(guī)定了硼酸鹽非線性光學單晶元件的基本要求,包括但不限于晶體生長方法的選擇、晶體尺寸與表面質(zhì)量控制、光學均勻性評估、損傷閾值測定等方面的內(nèi)容。對于晶體生長,推薦采用提拉法或溶液法等技術(shù),并對不同方法下可能影響晶體性能的因素進行了分析;關(guān)于尺寸與表面質(zhì)量,則明確了允許的最大缺陷尺寸、最小有效工作面積以及表面粗糙度的具體數(shù)值范圍;在評價光學均勻性時,通過測量晶體內(nèi)部折射率分布情況來判斷其是否滿足特定應用需求;此外,還特別強調(diào)了對晶體抗激光損傷能力進行測試的重要性,給出了相應的方法和標準。

針對成品元件,本標準也制定了嚴格的驗收準則,包括外觀檢查、幾何參數(shù)測量、光學特性測試等多個環(huán)節(jié),確保每一件出廠產(chǎn)品都能達到預期的技術(shù)指標。同時,為了保證長期穩(wěn)定性和可靠性,還提出了儲存環(huán)境的要求,比如溫度濕度控制、防塵措施等。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替,建議下載現(xiàn)行標準GB/T 22452-2025
  • 2008-10-07 頒布
  • 2009-04-01 實施
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GB/T 22452-2008硼酸鹽非線性光學單晶元件通用技術(shù)條件_第1頁
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文檔簡介

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犃60

中華人民共和國國家標準

犌犅/犜22452—2008

硼酸鹽非線性光學

單晶元件通用技術(shù)條件

犌犲狀犲狉犪犾狋犲犮犺狀犻犮犪犾犮狅狀犱犻狋犻狅狀狅犳

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20081007發(fā)布20090401實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

犌犅/犜22452—2008

前言

本標準由全國光輻射安全和激光設(shè)備標準化技術(shù)委員會(SAC/TC284)提出并歸口。

本標準起草單位:中國科學院福建物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究所、福建光電子材料工程技術(shù)研究中心和福建福晶

科技股份有限公司。

本標準主要起草人:蘭國政、吳少凡、林文雄、謝發(fā)利、吳季、李雄。

犌犅/犜22452—2008

硼酸鹽非線性光學

單晶元件通用技術(shù)條件

1范圍

本標準規(guī)定了硼酸鹽非線性光學單晶元件β相偏硼酸鋇(βBaB2O4,簡稱BBO)和三硼酸鋰

(LiB3O5,簡稱LBO)的術(shù)語、產(chǎn)品分類、技術(shù)要求、試驗方法、檢測規(guī)則及包裝、標志、運輸、貯存等。

本標準適用于硼酸鹽非線性光學單晶元件BBO和LBO,其他種類的硼酸鹽非線性光學單晶元件

也可參照使用。該元件主要用于制作激光器。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有

的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標準,然而,鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標準。

GB/T11297.1—2002激光棒波前畸變的測量方法

GB/T16601—1996光學表面激光損傷閾值測試方法

GB/T22453—2008硼酸鹽非線性光學單晶元件質(zhì)量測試方法

JB/T9495.3—1999光學晶體透過率測量方法

3術(shù)語和定義

3.1

硼酸鹽非線性光學單晶犖狅狀犾犻狀犲犪狉狅狆狋犻犮犪犾犫狅狉犪狋犲犮狉狔狊狋犪犾

陰離子基團為硼氧基團的非線性光學單晶。

3.2

硼酸鹽非線性光學單晶元件犖狅狀犾犻狀犲犪狉狅狆狋犻犮犪犾犫狅狉犪狋犲犮狉狔狊狋犪犾犱犲狏犻犮犲狊

硼酸鹽非線性光學單晶經(jīng)過定向、切割、拋光,必要時鍍膜后加工成的光學元件。

3.3

垂直度犘犲狉狆犲狀犱犻犮狌犾犪狉犻狋狔

單晶元件通光面與側(cè)面之間的垂直程度。

3.4

切割角度和角度偏差犆狌狋狋犻狀犵犪狀犵犾犲犪狀犱犪狀犵犾犲狋狅犾犲狉犪狀犮犲

切割角度用θ和表示,角度偏差用Δθ和Δ表示。

θ是單晶元件通光面的法線和犣軸之間的夾角。

是單晶元件通光面的法線在犡犢平面內(nèi)的投影與犡軸之間的夾角。

單晶元

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