標準解讀

《GB/T 18791-2002 電子和電氣陶瓷性能試驗方法》作為一項國家標準,詳細規(guī)定了電子和電氣陶瓷材料的各種性能測試方法。然而,您提供的對比參照標準未明確給出,因此直接對比變更內(nèi)容無法完成。但可以一般性地說明,當一個標準更新或替代前一版本時,常見的變更可能包括:

  1. 測試方法的優(yōu)化與更新:新標準可能會引入更精確、更高效的測試技術,以適應行業(yè)技術進步和測量精度提升的需求。
  2. 新增測試項目:隨著電子和電氣陶瓷應用領域的擴展,可能需要對新材料特性進行評估,從而在新標準中增加相應的測試項目。
  3. 限值或指標調(diào)整:基于新材料性能數(shù)據(jù)和實際應用反饋,標準可能會調(diào)整某些性能指標的最低或最高要求,以更好地反映當前技術水平和使用需求。
  4. 術語和定義的修訂:為保持與國際標準的一致性或更準確地描述測試內(nèi)容,標準中涉及的專業(yè)術語和定義可能會被修訂或補充。
  5. 采樣和試樣制備方法改進:為了確保測試結(jié)果的可靠性和重復性,新標準可能會對樣品的選取、處理及試樣的制備過程提出新的要求。
  6. 環(huán)境條件和測試設備的規(guī)范:考慮到測試環(huán)境對結(jié)果的影響,標準可能會更新對測試環(huán)境(如溫度、濕度)和測試設備的要求。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2002-07-18 頒布
  • 2002-12-01 實施
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ICS31-030L90中華人民共和國國家標準GB/T18791—2002電子和電氣陶瓷性能試驗方法Testmethodsforceramicpropertiesforelectronicandelectricalapplication2002-07-18發(fā)布2002-12-01實施中華人民共和發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T18791-2002本標準參照美國材料試驗學會標準ASTMD116—86(1994年重新確認)電氣用玻質(zhì)陶瓷材料試驗方法》制定。該標準所引用的測試方法標準中,有些已被制定出我國國家標準.并被廣大的陶瓷研究、生產(chǎn)、使用單位所采用.因此·編寫本標準時.對已有國家標準的測試方法,一般采取直接引用,以避免重復;根據(jù)ASTMD116標準所述內(nèi)容及我國實際情況·編輯時將原文中氣孔率的部分內(nèi)容獨立出來.并作為透液性測試方法進行表述,此方法與GB/T5594.7—1985《電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法透液性測定方法》相比較,增加了常壓下透液性的檢測內(nèi)容,使其應用更為實用。其他部分條款的內(nèi)容依據(jù)我國實情也做了部分修改。由于電子陶瓷應用面很廣,陶瓷材料種類繁多。各種陶瓷材料除了一些共同的基本性能外,又有-些特有的性能要求,因此,本標準只列出了各種陶瓷材料共有的基本參數(shù)測試方法,這些基本參數(shù)包括電、熱和機械等方面。本標準由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。本標準由全國電子陶瓷標準化技術委員會歸口本標準起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子標準化研究所、北京真空電子技術研究所本標準主要起草人:李曉英、王玉功、曾桂生、孫清池。

中華人民共和國國家標準電子和電氣陶瓷性能試驗方法GB/T18791—2002Testmethodsforceramicpropertiesforelectronicandelectricalapplication圍本標準規(guī)定了電子和電氣陶瓷材料的體積密度、顯氣孔率、透液性、抗壓強度、抗折強度、楊氏彈性模量、泊松比、導熱系數(shù)、抗熱震性、平均線膨脹系數(shù)、絕緣強度、介電常數(shù)和損耗角正切值、體積電阻率等性能的測試方法本標準適用于電子和電氣陶瓷材料通用性能的測試2引用標準下列標準所包含的條文,通過在本標準中引用而構(gòu)成為本標準的條文。本標準出版時,所示版本均為有效·所有標準都會被修訂,使用本標準的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性GB/T1966—1996多孔陶瓷顯氣孔率、容重試驗方法GB/T2413—1980壓電陶瓷材料體積密度測量方法GB/T2421—1999電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗第1部分:總則(idtIEC60068-1:1988)GB/T5593—1996電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料GB/T5594.2—1985電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法,楊氏彈性模量、泊松比測試方法GB/T5594.3—1985電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法平均線膨脹系數(shù)測試方法GB/T5594.4-1985,電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法介質(zhì)損耗角正切值的測試方法GB/T5594.5—1985電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法體積電阻率測試方法GB/T5597—1999固體電介質(zhì)微波復介電常數(shù)的測試方法GB/T5598—1985氧化皺瓷導熱系數(shù)測定方法GB/T6569-1986S工程陶瓷彎曲強度試驗方法GB/T7265.1—1987固體電介質(zhì)微波復介電常數(shù)的測試方法微微批法GB/T8489—1987工程陶瓷抗壓縮強度試驗方法GB/T9530—1988電子陶瓷名詞術語GB/T11311—1989壓電陶瓷材料性能測試方法泊松比的測試GB/T11387-1989壓電陶瓷材料靜態(tài)彎曲強度試驗方法(neqISO12370:1980)GJB1201.1-1991固體材料高

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