UDC621.315.612：621.382/.387：620.1中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB5594.3-85電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法平均線膨脹系數(shù)測(cè)試方法TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodformeancoefficientoflinearexpansion1985-11-27發(fā)布1986-12-01實(shí)施：標(biāo)淮國(guó)同家批準(zhǔn)

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性性能測(cè)試方法平均線膨脹系數(shù)測(cè)試方法GB5594.3-85中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門(mén)外三里河北街16號(hào)郵政編碼：100045電話：63787337、637874471986年7月第一版2005年12月電子版制作書(shū)號(hào)：1550661-24319版權(quán)專有(權(quán)必究舉報(bào)電話：(010)68533533

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法平均線膨脹系數(shù)測(cè)試方法1.387:620.1GB5594.3-85TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodformeancoefficientorlinearexpansicn本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)量室濕至800℃各個(gè)階設(shè)中電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷的平均線膨脹系數(shù)1定義在指定溫度范圍內(nèi)，陶瓷在單位溫度下相對(duì)伸長(zhǎng)量的中均值四平均線膨脹系數(shù)。式中：平均線膨脹系數(shù)，C！室溫至所測(cè)溫度的伸長(zhǎng)量，mr；室溫至所測(cè)溫度的溫度差，（；試樣在室溫下的長(zhǎng)度，mm.2測(cè)試設(shè)備2.1線膨脹系數(shù)測(cè)試儀，具有±0.15×10°/C的精確度。2.22通用熱電偶，具有±1C的精確度，熱端應(yīng)放在試樣中部，冷端應(yīng)放在保溫瓶中.武樣制備3.11根據(jù)膨脹儀的類形、確定兩種試樣尺寸，見(jiàn)GB5593一85《電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料》。3.22試梓不應(yīng)有影響測(cè)試結(jié)果的缺障，如裂紋、境曲和氣孔等。4測(cè)試方法4.1用精度為0.05mm的卡尺酒量試樣長(zhǎng)度L4.22試樣裝人（英套管中，應(yīng)保持直和穩(wěn)定，并和石英傳遞桿接觸良好、4.3接通電源、加熱并烏勾升溫。百?gòu)?.5±0.1mm的試樣升溫速度不大子5C/min，m7±1mm的試樣升溫謀度不大）3（/min。4記錄各點(diǎn)溫度和伸長(zhǎng)值L，直至瓣試到所需溫度為止。4.55測(cè)量結(jié)果按下列公