標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 16143-1995 建筑物表面氡析出率的活性炭測量方法》作為一項技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定了利用活性炭測量建筑物表面氡析出率的具體操作步驟、設(shè)備要求、計算方法及質(zhì)量控制等。然而，您提供的對比信息不完整，沒有明確指出要與哪個具體的標(biāo)準(zhǔn)或版本進行比較。因此，直接對比變更內(nèi)容無法完成。但可以就該標(biāo)準(zhǔn)本身的一些關(guān)鍵點進行說明：

  1. 采樣方法：標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)介紹了采用活性炭進行氡氣采樣的具體操作流程，包括采樣容器的準(zhǔn)備、密封要求、采樣時間與環(huán)境條件控制等，確保了采樣過程的標(biāo)準(zhǔn)化和結(jié)果的可比性。

  2. 測量原理：標(biāo)準(zhǔn)基于氡氣在活性炭上的吸附特性及其隨后通過α粒子計數(shù)器測量釋放的氡子體來確定氡析出率，明確了測量前的預(yù)處理步驟和測量設(shè)備的校準(zhǔn)要求。

  3. 數(shù)據(jù)處理：提供了詳細(xì)的計算公式和步驟，用于從活性炭吸附的氡子體活度推算出建筑物表面氡析出率，確保數(shù)據(jù)分析的準(zhǔn)確性和一致性。

  4. 質(zhì)量控制：強調(diào)了實施測量過程中應(yīng)采取的質(zhì)量控制措施，如空白試驗、平行樣測試等，以驗證測量結(jié)果的可靠性。

若需要對比該標(biāo)準(zhǔn)與其他特定標(biāo)準(zhǔn)或更新版之間的差異，請?zhí)峁┩暾男畔ⅲ员氵M一步分析。


如需獲取更多詳盡信息，請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1996-01-23 頒布
  • 1996-07-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 16143-1995建筑物表面氡析出率的活性炭測量方法_第1頁
GB/T 16143-1995建筑物表面氡析出率的活性炭測量方法_第2頁
免費預(yù)覽已結(jié)束，剩余6頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 16143-1995建筑物表面氡析出率的活性炭測量方法-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS11.020c57中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/16143-1995建筑物表面氨析出率的活性炭測量方法Charcoalcanistermethodformeasuring1996-01-23發(fā)布1996-07-01實施國家：效術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)建筑物表面氫析出率的活性炭測量方法GB/T16143-1995CharcoalcanistermethodformeasuringzzRnexhalationratefrombuildingsurface主題內(nèi)客與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用活性炭累積吸附,？能譜分析測定建筑物表面氰析出率的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于建筑物（含建筑構(gòu)件)平整表面的氰析出率的測定。各種土壤、巖石表面的氯析出率的測定可參照使用。2術(shù)語2.1建筑物表面buildingsurface本標(biāo)準(zhǔn)中建筑物表面是指建筑物的天花板、樓面、地面、內(nèi)墻和外墻等平整表面。2.2氧及子體radonanditsdaughters本標(biāo)準(zhǔn)中氰僅指”Rn,氫子體是指”Rn的短壽命衰變產(chǎn)物"Po,Pb,"Bi和"Po.2.3面積復(fù)析出率arearadonexhalationrate在單位時間內(nèi)自單位建筑物表面析出并進入空氣的氯活度，其單位用Ba·m2·。表示。儀器和設(shè)備3.1活性炭盒3.1.1容器活性炭盒系采用低放射性材料(如寨乙烯，有機玻璃，不銹鋼等)制成的內(nèi)裝活性炭的圓柱形容器，其底都直徑應(yīng)等于或稍小于丫探測器的直徑,高度以直徑的三分之一到三分之二為宜。3.1.2活性炭選用微孔結(jié)構(gòu)發(fā)達、比表面積大、粒徑為18～28目的優(yōu)質(zhì)椰殼顆粒狀活性炭。3.1.3網(wǎng)罩選用具有良好透氣性的材料,例如,尼龍紗網(wǎng)，金屬篩網(wǎng)或紗布，罩于活性炭盒開口表面，網(wǎng)罩柵孔密度應(yīng)與活性炭粒徑相匹配。3.1.4真空封泥用于密封活性炭盒和待測介質(zhì)表面之間的縫隙,固定它們之間的相對位置，3.27能譜儀3.2.1探測器“，閃好探測器NaICTI）由不小于7.5cmX7.5cm的圓柱形NaI(TI)品體和低噪聲光電信增管組成。探測器對"C。的661.6keV？射線的分瓣率應(yīng)優(yōu)于9%,半導(dǎo)體探測器Ge(Li)或高純錯（HPGe）其靈敏體積大于50m2,對“Co的1332.5keV的特

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個人學(xué)習(xí)、研究之用，未經(jīng)授權(quán)，嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等，侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本（可閱讀打印），因數(shù)字商品的特殊性，一經(jīng)售出，不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致，所以下載的文檔中可能包含空白頁，非文檔質(zhì)量問題。

評論

0/150

提交評論