ICS31140

L21.

團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)

T/CEMIA006—2018

膜厚監(jiān)控用石英晶振片

Quartzcrystalresonatorforfilmthicknesscontrol

2018-12-14發(fā)布2019-03-14實施

中國電子材料行業(yè)協(xié)會發(fā)布

中國電子材料行業(yè)協(xié)會

團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)

膜厚監(jiān)控用石英晶振片

T/CEMIA006—2018

*

中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行

北京市朝陽區(qū)和平里西街甲號

2(100029)

北京市西城區(qū)三里河北街號

16(100045)

網(wǎng)址

:

服務(wù)熱線

:400-168-0010

年月第一版

20194

*

書號

:155066·2-34127

版權(quán)專有侵權(quán)必究

T/CEMIA006—2018

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任

。。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國電子材料行業(yè)協(xié)會提出并歸口

。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位唐山萬士和電子有限公司武漢海創(chuàng)電子股份有限公司唐山國芯晶源電子

:、、

有限公司北京晨晶電子有限公司江蘇省東海硅產(chǎn)業(yè)科技創(chuàng)新中心

、、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人王麗娟毛晶張立強(qiáng)宮桂英李健德李劍李潔陳中康張翔

:、、、、、、、、。

Ⅰ

T/CEMIA006—2018

膜厚監(jiān)控用石英晶振片

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了膜厚監(jiān)控用石英晶振片的產(chǎn)品分類技術(shù)要求試驗和測量方法檢驗規(guī)則標(biāo)志包

、、、、、

裝運(yùn)輸貯存的要求

、、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體激光紅外光學(xué)鏡片器材等行業(yè)鍍膜用膜厚監(jiān)控石英晶振片

、LED、OLED、、。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

包裝儲運(yùn)圖示標(biāo)志

GB/T191—2008

電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗概述和指南

GB/T2421.1—2008

計數(shù)抽樣檢驗程序第部分按接收質(zhì)量限檢索的逐批檢驗抽樣

GB/T2828.1—20121:(AQL)

計劃

人造石英晶體規(guī)范與使用指南

GB/T3352—2012

有質(zhì)量評定的石英晶體元件第部分總規(guī)范

GB/T12273.1—20171:

利用有并電容補(bǔ)償?shù)木W(wǎng)絡(luò)相位法測量頻率高達(dá)的石英晶體元

SJ/Z9154.3—1987C0π200MHz

件兩端網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的基本測量方法

指令關(guān)于在電子設(shè)備中限制使用有害物質(zhì)的歐盟議會和歐盟理事會第

RoHS/2011/65/EU2011/

號指令

65/EU

3術(shù)語和符號

界定的術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T12273.1—2017、GB/T3352—2012。

4分類和標(biāo)記

41型號

.

按照石英晶振片外徑電極膜材料電極形狀差異分為不同型號的產(chǎn)品

、、。

42標(biāo)記

.

產(chǎn)品標(biāo)記方法應(yīng)符合以下規(guī)定

:

WXXYYZZ

電極圖形代碼滿電極圖形雙錨形電極

,01———,02———

電極膜材代碼鉻金膜銀鋁膜銀膜

,Au———,A1———,Ag———

直徑代碼直徑為直徑為

,14———13.97mm,12———12.45mm