犐犆犛１９．０２０

犃２１

中華人民共和國國家標準

犌犅／犜２４２１．１—２００８／犐犈犆６００６８１：１９８８

代替ＧＢ／Ｔ２４２１—１９９９

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

概述和指南

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犌犲狀犲狉犪犾犪狀犱犵狌犻犱犪狀犮犲

（ＩＥＣ６００６８１：１９８８，Ｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔａｌｔｅｓｔｉｎｇ—

Ｐａｒｔ１：Ｇｅｎｅｒａｌａｎｄｇｕｉｄａｎｃｅ，ＩＤＴ）

２００８１２３０發(fā)布２００９１１０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

書

犌犅／犜２４２１．１—２００８／犐犈犆６００６８１：１９８８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

１導(dǎo)言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

３目的!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

４術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

５標準大氣條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

６試驗方法的應(yīng)用!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

７氣候試驗順序!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

８元件的氣候分類!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

９試驗的應(yīng)用!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

１０量值的數(shù)值意義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

附錄Ａ（資料性附錄）元件氣候類型!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!９

附錄Ｂ（資料性附錄）環(huán)境試驗的一般導(dǎo)則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１０

附錄ＮＡ（資料性附錄）相關(guān)國家標準系列!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１５

書

犌犅／犜２４２１．１—２００８／犐犈犆６００６８１：１９８８

前言

ＧＢ／Ｔ２４２１目前分為如下幾部分：

———ＧＢ／Ｔ２４２１．１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗概述和指南；

———ＧＢ／Ｔ２４２１．２電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)范編制者用信息試驗概要。

本部分為ＧＢ／Ｔ２４２１的第１部分。該系列標準相關(guān)詳細信息見附錄ＮＡ。

本部分等同采用了ＩＥＣ６００６８１：１９８８《環(huán)境試驗第１部分：概述和指南》和修改件１：１９９２。

本部分的技術(shù)內(nèi)容與ＩＥＣ６００６８１完全一致，僅做了如下編輯性修改：

———“本標準”改為“本部分”；

———１．３按字母順序調(diào)整了Ｘ的位置；

———刪除了１．５及腳注；

———刪除了第５章的第一段；

———將５．２的表注內(nèi)容添加到表格中；

———增加了附錄ＮＡ。

本部分代替ＧＢ／Ｔ２４２１—１９９９《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第１部分：總則》。

本部分與ＧＢ／Ｔ２４２１—１９９９相比，主要差異如下：

———４．６．１中的“非散熱試驗樣品的環(huán)境溫度”改成“非散熱試驗樣品”，４．６．２中的“散熱試驗樣品

的環(huán)境溫度”改成“散熱試驗樣品”；

———增加了附錄ＮＡ。

本部分的附錄Ａ、附錄Ｂ和附錄ＮＡ為資料性附錄。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并歸口。

本部分起草單位：廣州電器科學(xué)研究院。

本部分主要起草人：顏景蓮、陳心欣。

本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ２４２１—１９８１、ＧＢ／Ｔ２４２１—１９８９、ＧＢ／Ｔ２４２１—１９９９。

Ⅰ

犌犅／犜２４２１．１—２００８／犐犈犆６００６８１：１９８８

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

概述和指南

１導(dǎo)言

１．１概述

本系列標準包括了環(huán)境試驗及其嚴酷程度的基礎(chǔ)信息，此外，本部分還包括了測量和試驗的大氣條

件的相關(guān)信息。

本系列標準供制定某一類產(chǎn)品的（電氣、機電、電子設(shè)備和裝置，及其組件、分組件、元件，以下統(tǒng)稱

樣品）相關(guān)規(guī)范時使用，以便使該產(chǎn)品的環(huán)境試驗達到統(tǒng)一而又具再現(xiàn)性。

注：盡管本部分起初是為電工電子產(chǎn)品制定的，但環(huán)境試驗方法同樣適用于其他工業(yè)產(chǎn)品。

環(huán)境條件試驗或者環(huán)境試驗包括了產(chǎn)品所承受的自然環(huán)境條件和人工環(huán)境條件，以評價產(chǎn)品在實

際使用、運輸和貯存過程中的性能。

本系列標準不涉及樣品在環(huán)境試驗期間的性能要求，試驗以后的試樣性能限值由相關(guān)產(chǎn)品標準

規(guī)定。

在起草有關(guān)標準和采購合同時，考慮技術(shù)和經(jīng)濟方面的原因，有必要時才規(guī)定這些試驗。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗由下列幾部分組成：

———第１部分：詳細介紹了一般導(dǎo)則；

注：參考ＧＢ／Ｔ２４２４．１９。

———第２部分：分冊出版，每冊介紹了一組試驗或一項特定試驗和應(yīng)用導(dǎo)則；

注：參考ＧＢ／Ｔ２４２３．４３。

———第３部分：分冊出版，每冊介紹一組試驗的背景資料；

———第４部分：為規(guī)范的制定者提供資料，分兩部分出版，其中第２部分是活頁形式，含有所有現(xiàn)行