標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備》是針對電工電子產(chǎn)品在進(jìn)行低溫、低氣壓以及濕熱綜合環(huán)境條件下性能測試時所使用試驗設(shè)備的基本參數(shù)設(shè)定與檢驗方法的標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)適用于需要按照特定順序經(jīng)歷不同環(huán)境條件（如先低溫后低氣壓再濕熱）的試驗裝置，確保這類設(shè)備能夠準(zhǔn)確模擬出所需的各種極端或復(fù)合環(huán)境狀態(tài)，從而為產(chǎn)品提供可靠性的驗證依據(jù)。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)，對于上述提到的三類環(huán)境因素，分別定義了各自的試驗范圍和條件要求。比如，在低溫試驗中，會明確指出最低溫度值及其波動允許的最大范圍；低氣壓試驗則關(guān)注于可以達(dá)到的壓力水平及穩(wěn)定性指標(biāo)；而濕熱試驗不僅包括了濕度百分比的具體數(shù)值，還涵蓋了溫度的變化區(qū)間等細(xì)節(jié)。此外，該文件還詳細(xì)描述了如何通過一系列標(biāo)準(zhǔn)化的操作步驟來校準(zhǔn)這些關(guān)鍵參數(shù)，以保證每次試驗都能夠重現(xiàn)一致的結(jié)果。

同時，《GB/T 5170.17-2005》也強(qiáng)調(diào)了對整個試驗過程中控制精度的要求，這涉及到溫濕度傳感器的選擇、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的準(zhǔn)確性等多個方面。為了確保所有參與方都能遵循相同的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行操作，該文檔還提供了詳細(xì)的試驗程序指南，從準(zhǔn)備工作直至最終結(jié)果記錄都有明確指導(dǎo)。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2005-08-26 頒布
  • 2006-04-01 實施
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GB/T 5170.17-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備_第1頁
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文檔簡介

ICS19.040K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.17-2005代替GB/T5170.17-—1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備Inspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Combinedsequentialcoldlowairpressureanddampheattestingequipments2005-08-26發(fā)布2006-04-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T5170.17-2005次前言范圍2規(guī)范性引用文件3檢定項目4檢定用主要儀器及要求5檢定條件6測量點(diǎn)數(shù)量及位置7檢定步·……………….8數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果附錄A(規(guī)范性附錄）溫度波動度、溫度均勻度檢定方法A.1檢定步驃·………A.2數(shù)據(jù)處理與計算附錄B(規(guī)范性附錄）干濕表法測量相對濕度·B.1干濕表法測量相對濕度的方法B.2風(fēng)速的測量

GB/T5170.17-2005本部分是GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》的第17部分本部分代替GB/T5170.17—1987。與GB/T5170.17—1987比較技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化明確本部分適用于環(huán)境試驗設(shè)備在使用期間的周期檢定,以區(qū)別產(chǎn)品的型式檢驗、出廠檢驗等：增加了“規(guī)范性引用文件”一章；在“檢定用主要儀器及要求"一章中.給出了儀器的擴(kuò)展不確定度(=2)的要求；增加了“檢定條件”一章；對于溫度測量點(diǎn)數(shù)量.設(shè)備的工作空間容積由“以1m2分界"改為"以2m2分界”.對于"大于2m的設(shè)備".溫度和風(fēng)速的測量點(diǎn)由21點(diǎn)減少為15點(diǎn);在“數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果"中，給出了“溫度偏差、降溫速率、氣壓偏差、氣壓變化速率、風(fēng)速”的計算公式：在溫度與氣壓綜合檢定時,如果低氣壓值低于10kPa.則“溫度偏差"允許適當(dāng)放寬;增加了“環(huán)境參數(shù)場的調(diào)整”和“試驗設(shè)備儀表修正值的范圍”.并且對限用的范圍給予了必要的說明：本部分的附錄中給出“溫度波動度、溫度均勻度的檢定方法和計算公式”及“干濕表法測量相對濕度”：h）刪除了記錄表格。本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所本部分主要起草人：謝晨浩、賴文光。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況-GB/T5170.17-1987。

GB/T5170.17-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備范圍1.1本部分規(guī)定了低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點(diǎn)數(shù)量及布放位置、檢定步霖、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。1.2本部分適用于對GB/T2423.27-—2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AMD:低溫低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的周期檢定本部分也適用于類似試驗設(shè)備的周期檢定規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T2423.27—2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AMD:低溫低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(IEC60068-2-39:1976.IDT)GB/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T6999環(huán)境試驗用相對濕度查算表檢定項目本部分規(guī)定的檢定項目如下：降溫速率與溫度偏差；降壓速率；溫度偏差和氣壓偏差綜合檢定：升溫時間、升壓時間和加濕時間：溫度與相對濕度：風(fēng)速4檢定用主要儀器及要求41溫度測量儀器采用由鉑電阻、熱電偶或其他溫度傳感器組成的溫度測量系統(tǒng)。溫度測最系統(tǒng)的擴(kuò)展不確定度(A=2)不大于0.4C：傳感器的熱時間常數(shù)：20s～40。4.2低氣壓測量儀器采用擴(kuò)展不確定度(人=

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