ICS31.040.30L15中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T6663.1—2007/IEC60539-1:2002QC430000代替GB/T6663-1986直熱式負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻器第1部分:總規(guī)范Directlyheatednegativetemperaturecoefficientthermistors-Part1:Genericspecification(IEC60539-1:2002,IDT)2007-02-09發(fā)布2007-09-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T6663.1-2007/IEC60539-1：2002三前言1總則1.1范圍1.2規(guī)范性引用文件2技術(shù)數(shù)據(jù)2.1單位、符號和術(shù)語·2.2定義…2.3優(yōu)先值2.4標(biāo)識質(zhì)量評定程序……….3103.1總則……3.2初始制造階段·103.3結(jié)構(gòu)相似元件103.4鑒定批準(zhǔn)程序…….3.5質(zhì)量一致性檢驗…3.6放行批試驗記錄證明………3.7延期交貨……………3.8鑒定批準(zhǔn)下的B組試驗完成前交貨的放行3.9替代的試驗方法·3.10不檢查參數(shù)114試驗和測量程序……………….1111試驗的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件·4.2114.3干燥和恢復(fù)·..............外觀檢查和尺寸檢查·4.4零功率電阻值………4.5B值或電阻比·4.6絕緣電阻（僅對絕緣型熱敏電阻器）4.7耐電壓(僅對絕緣型熱敏電阻器)4.84.9電阻/溫度特性4.10耗散系數(shù)(o)…環(huán)境溫度變化引起的熱時間常數(shù)(r.）4.11自熱后冷卻的熱時間常數(shù)（z.）4.124.13引出端強(qiáng)度（不適用于表面安裝熱敏電阻器SMT)耐焊接熱4.14······，可焊性4.154.16溫度快速變化4.17振動·…………··18

GB/T6663.1-2007/IEC60539-1：20024.18碰撞4.19沖擊·4.20）自由跌落(如詳細(xì)規(guī)范規(guī)定)4.21熱沖擊(如詳細(xì)規(guī)范規(guī)定)4.22氣候順序·….4.23寒冷(如分規(guī)范要求)204.24、干熱(如分規(guī)范要求)204.25穩(wěn)態(tài)濕熱4.26耐久性·…·204.27安裝（僅對表面安裝熱敏電阻器）234.28剪切力（附著力）試驗244.29基片折曲(彎曲)試驗244.30元件的耐溶劑性······244.31標(biāo)志的耐溶劑性254.32鹽霧(如分規(guī)范要求)254.33密封(如分規(guī)范要求)附錄A(規(guī)范性附錄）IEC60410標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的抽樣方案和程序用在IEC電子元件質(zhì)量評定體系的解釋（IECQ）·附錄B(規(guī)范性附錄)制電子設(shè)備用電容器和電阻器詳細(xì)規(guī)范的規(guī)則附錄C(資料性附錄)直熱式熱敏電阻器的測試安裝典型示例228

GB/T6663.1-2007/IEC60539-1:2002GB/T6663《直熱式負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻器》分為以下部分第第1部分：總規(guī)范：-第2部分：分規(guī)范表面安裝負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻器；本部分為GB/T6663的第1部分，等同采用IEC60539-1:2002(QC430000）《直熱式負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻器第1部分：總規(guī)范》英文版)。本部分是對GB/T6663—1986《直熱式負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻器總規(guī)范》的修訂.本部分與（B/T6663—1986的主要區(qū)別是補(bǔ)充了作為抑制浪涌電流元件和表面安裝元件使用時直熱式負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻器的有關(guān)術(shù)語定義、性能要求、測量方法、耐久性試驗方法和環(huán)境試驗嚴(yán)酷等級的內(nèi)容;刪除了原標(biāo)準(zhǔn)中鑒定檢驗的固定樣本試驗一覽表和質(zhì)量一致性檢驗評定水平表及相關(guān)內(nèi)容，刪除的這些內(nèi)容原本也不是IEC60539-1第一版IEC60539-1:1976的內(nèi)容。本部分按GB/T1.1-2000作了編輯性修改。本部分的附錄A和附錄B為規(guī)范性的附錄，附錄C為資料性的附錄。本部分由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。本部分由全國電子設(shè)備用阻容元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口本部分由中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所(CESI)負(fù)責(zé)起草。本部分主要起草人：陳勤、向艷、妥萬祿。本部分所代替的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T6663—1986

GB/T6663.1-2007/IEC60539-1:2002直熱式負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻器第1部分：總規(guī)范T總則1.1范圍GB/T6663的本部分適用于直熱式負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻器,這類電阻器一般由金屬氧化物半導(dǎo)體材料制成。它規(guī)定了用于電子元件質(zhì)量評定體系或其他目的分規(guī)范和詳細(xì)規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)術(shù)語、檢驗程序和試驗方法。1.2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T6663的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而.鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。?。宏P(guān)于IEC60068號出版物.都將用所引用的版本。GB/T2423.4—1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法（eqvIEC60068-2-30:1985)GB/T2423.5—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊（idtIEC60068-2-27：1987)第2部分GB/T2423.6—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞(idtIEC60068-2-29:1987)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程GB/T2423.17-1993試驗Ka:鹽霧試驗方法（eqvIEC60068-2-11:1981GB/T2423.18—2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗試驗Kb:鹽霧，交變(氯化鈉溶液)eqvIEC60068-2-52:1984）GB/T2691一1994電阻器和電容器的標(biāo)志代碼(idtTEC60062:1992)GB/T5076—1985具有兩個軸向引出端的圓柱體元件的尺寸測量(idtIEC60294:1969)GB/T5078—1985單向引出電容器和電阻器所需空間測定方法(idtIEC6O717:1981)GB/T19405.1—2003表面安裝技術(shù)第1部分：表面安裝元器件規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)方法（idtIEC61760:1998）IEC60027（所有部分）電子技術(shù)用字母符號IEC60050（所有部分）國際電工詞匯基