ICS3122010

L23..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004

.:

電子設(shè)備用機(jī)電元件

基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法

第25-5部分試驗(yàn)25e回波損耗

::

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-5Test25eReturnloss

::

(IEC60512-25-5:2004,Connectorsforelectronicequipment—

Testsandmeasurements—Part25-5:Test25e:Returnloss,IDT)

2021-03-09發(fā)布2021-10-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

2………………1

試驗(yàn)設(shè)施

3…………………1

設(shè)備

3.1…………………1

裝置

3.2…………………1

試驗(yàn)樣品

4…………………2

說明

4.1…………………2

試驗(yàn)程序

5…………………2

總則

5.1…………………2

裝置回波損耗

5.2………………………3

樣品回波損耗測(cè)量

5.3…………………3

時(shí)域法

5.4………………3

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定的細(xì)則

6…………………3

試驗(yàn)記錄文件

7……………4

附錄規(guī)范性附錄裝置和設(shè)備示意圖

A()………………5

附錄資料性附錄實(shí)用指南

B()…………9

Ⅰ

GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004

.:

前言

電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法按試驗(yàn)方法分為若干部分

GB/T5095《》。

的第部分為信號(hào)完整性試驗(yàn)已經(jīng)發(fā)布或計(jì)劃發(fā)布的部分如下

GB/T509525,:

第部分試驗(yàn)串?dāng)_比

———25-1:25a:;

第部分試驗(yàn)衰減插入損耗

———25-2:25b:();

第部分試驗(yàn)上升時(shí)間衰減

———25-3:25c:;

第部分試驗(yàn)傳輸時(shí)延

———25-4:25d:;

第部分試驗(yàn)回波損耗

———25-5:25e:;

第部分試驗(yàn)眼圖和抖動(dòng)

———25-6:25f:;

第部分試驗(yàn)阻抗反射系數(shù)和電壓駐波比

———25-7:25g:、(VSWR);

第部分信號(hào)完整性試驗(yàn)試驗(yàn)外來串?dāng)_

———25-9:25i:。

本部分為的第部分

GB/T509525-5。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻譯法等同采用電子設(shè)備用連接器試驗(yàn)和測(cè)量第部

IEC60512-25-5:2004《25-5

分試驗(yàn)回波損耗

:25e:》。

本部分做了下列編輯性修改

:

標(biāo)準(zhǔn)名稱由電子設(shè)備用連接器試驗(yàn)和測(cè)量第部分試驗(yàn)回波損耗修改為電

———《25-5:25e:》《

子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法第部分試驗(yàn)回波損耗

25-5:25e:》;

圖中原文標(biāo)準(zhǔn)裝置有樣品樣品裝置無樣品為明顯筆誤修改為標(biāo)準(zhǔn)裝置無

———A.1b)“()、()”,“(

樣品樣品裝置有樣品

)、()”。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任

。。

本部分由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國(guó)電子設(shè)備用機(jī)電元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC166)。

本部分起草單位四川華豐企業(yè)集團(tuán)有限公司中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院

:、。

本部分主要起草人龐斌朱茗肖淼劉俊汪其龍

:、、、、。

Ⅲ

GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004

.:

電子設(shè)備用機(jī)電元件

基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法

第25-5部分試驗(yàn)25e回波損耗

::

1范圍

的本部分適用于電連接器插座電纜組件或互連系統(tǒng)

GB/T5095、、。

本部分描述了用于測(cè)量作為頻率函數(shù)的回波損耗的頻域法和時(shí)域法

。

2術(shù)語(yǔ)和定義

下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

。

21

.

回波損耗returnloss

樣品測(cè)量的反射信號(hào)與輸入信號(hào)之比

。

注可用分貝表示

:(dB)。

22

.

樣品環(huán)境阻抗specimenenvironmentimpedance

由裝置在樣品信號(hào)導(dǎo)線上引起的阻抗該阻抗是由傳輸線路終端電阻附裝的接收器或信號(hào)源

。、、,

以及裝置的寄生效應(yīng)產(chǎn)生的

。

3試驗(yàn)設(shè)施

31設(shè)備

.

311頻域

..

采用具有適用于受試器件動(dòng)態(tài)范圍的網(wǎng)絡(luò)分析儀差分測(cè)量時(shí)可采用具有多端口試驗(yàn)位

(DUT)。,

置或平衡不平衡轉(zhuǎn)換器的網(wǎng)絡(luò)分析儀