ICS.19.100J4中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T188522002/ISO12715：1999無損檢測超聲檢驗(yàn)測量接觸探頭聲束特性的參考試塊和方法Ultrasonicnon-destructivetesting--Referenceblocksandtestproceduresforthecharacterizationofcontactsearchuittbeamprofiles(ISO12715:1999,IDT)2002-10-11發(fā)布2003-05-01實(shí)施中華：人民共清和發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T18852-2002/ISO12715:1999三次前言引言·…………花圍2規(guī)范性引用文件3特號和縮略語3.1符號………3.2縮略語4參考試塊4.1半圓階梯試塊(HS試塊)4.2橫孔試塊(SDH試塊)5測量方法5.1直探頭5.2斜探頭0000000000000000000000000000000000000005.3雙晶探頭附錄A(規(guī)范性附錄）時(shí)基線校準(zhǔn)方法·…附錄B(規(guī)范性附錄)聲束的盧時(shí)(TOF)截面輪廊測量附錄C(資料性附錄)偏斜角、遠(yuǎn)場和近場分辨力………

GB/T18852-2002/1S012715:1999前言本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO12715:1999《無損檢測」超聲檢驗(yàn)：測量接觸探頭聲束特性的參考試塊和方法》英文版)。本標(biāo)準(zhǔn)等同翻譯ISO12715:1999。本標(biāo)準(zhǔn)附錄A、附錄B是規(guī)范性附錄，附錄C是資料性附錄.本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：上海材料研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：華云波。

GB/T18852-2002/1S012715:1999超聲波探傷中常用直探頭、斜探頭和雙品探頭進(jìn)行脈沖反射式接觸探傷。為了可靠檢出和測定結(jié)構(gòu)材料內(nèi)的缺陷·本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了兩種金屬參考試塊·適用于鍛造或軋制鋼、鋁和鈦合金等各種金屬材料制品的檢測。本標(biāo)準(zhǔn)適用的探頭頻率范圍為1MHz至15MHz。選用頻率要視被檢材料的組織情況而定。-般而言.1MHz至5MHz最適合于鋼鐵產(chǎn)品.5MHz至15MHz最適合于鋁和鈦合金的檢測本標(biāo)準(zhǔn)推薦的兩種試塊為半圓階梯試塊和橫孔試塊，用這兩種試塊可以測定所用直探頭、聚焦探頭、斜探頭或雙晶探頭在試塊內(nèi)產(chǎn)生的聲束外形。本標(biāo)準(zhǔn)建立了用于表征被測探頭在固體內(nèi)產(chǎn)生的聲束形狀的測定方法。在脈沖反射式超聲波探傷中·材料內(nèi)的缺陷是用反射回波來檢測的.大小和形狀各不相同的各種缺陷·如縮孔、空洞和裂紋等，可能位于近表面，也可能深理在材料內(nèi)部。它們也可能相互擠在一起,有各科不同的取向。入射在這種缺陷上的聲脈沖，可能被反射或折射成縱波或橫波，也可能同時(shí)產(chǎn)生這兩種波，并很可能在材料內(nèi)產(chǎn)生多次反射和折射。為了精確測定材料內(nèi)某個(gè)缺陷的理藏部位、大小及其形狀，就有必要知道由探頭和儀器所產(chǎn)生而被檢測到的聲場情況。在接觸探傷中·由探頭在固體內(nèi)產(chǎn)生的聲場·取決于探頭的類型、品片尺寸和頻帶·此外還同其他些因素有關(guān)，如聚焦聲束，在材料內(nèi)的折射角、材料性能和探傷儀性能等。ISO2400℃JB/T10063—1999等同采用)所規(guī)定的1號標(biāo)準(zhǔn)試塊,在垂直探傷時(shí)，可用來檢驗(yàn)近場分辨力、遠(yuǎn)場分辨力和儀器的時(shí)基線線性度：在斜射探傷時(shí)，可用來測定探頭入射點(diǎn)和折射角.還可用來檢驗(yàn)縱波和橫波聲速。ISO7963(DL/T5408—1995等同采用)推薦的小型校正試塊，也就是所謂IIW武號試塊，非常適宜現(xiàn)場使用。該標(biāo)準(zhǔn)給出了制造該試塊的選材、制備和加工的基本準(zhǔn)則。同時(shí)也給出了用此試塊來測定折射角、設(shè)置探傷靈敏度的方法。液浸探傷中的直射聲束聲場可按ISO10375(GB/T18694《無損檢測超聲檢驗(yàn)探頭性能及其聲場的表征》等同采用)給出的方法計(jì)算或測定。除上述三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)外，本標(biāo)準(zhǔn)推薦了兩種超聲波參考試塊·并給出了這些試塊的一般使用方法·可用于測量接觸探傷時(shí)的聲束參數(shù)。本標(biāo)準(zhǔn)使用的術(shù)語與ISO5577一致。本標(biāo)準(zhǔn)要達(dá)到的目的如下：測定探頭聲軸，以便獲得恒定的檢測;為直探頭和斜探頭，其中包括聚焦探頭和雙品探頭建立固體內(nèi)部完整聲場或聲束截面輪席：為原先用于鋼鐵材料檢測的斜探頭用于其他材料的檢測時(shí),準(zhǔn)確計(jì)算折射角提供計(jì)算方法：為今后的應(yīng)用，如電磁聲換能器(EMAT)提供聲束截面輪席圖的測定能力;提供測定斜射聲束橫截面輪廊的能力：為用于超聲成像系統(tǒng)的斜探頭時(shí)基線校準(zhǔn)提供測量手段(見附錄A)為用于超聲成像系統(tǒng)的斜探頭提供測定聲束的聲時(shí)（TOF）截面輪廊圖的手段(見附錄B)為采用手持方法，使用機(jī)械掃查器和超聲成像系統(tǒng)時(shí)提供一種測定幅度和聲束的聲時(shí)截面輪席圖的方法(見圖B.1)；為測定斜探頭偏斜角·遠(yuǎn)場和近場分辨力提供測量手段（見附錄C)。

GB/T18852-2002/ISO12715:1999無損檢測超聲檢驗(yàn)測量接觸探頭聲束特性的參考試塊和方法范圍本標(biāo)準(zhǔn)推薦兩種金屬參考試塊，半圓階梯試塊(HS試塊)和橫孔試塊（SDH試塊)。本標(biāo)準(zhǔn)為接觸探傷中使用的探頭在固體內(nèi)產(chǎn)生的聲場提供了測定方法。測定的探頭包括直探頭、斜探頭（折射縱波和折射橫波）聚焦探頭和雙晶探頭。探頭的直徑或邊長不大于25mm,本標(biāo)準(zhǔn)適用于檢測鍛鋼或軋制鋼、鋁合金或鈦合金產(chǎn)品的探頭測定。本標(biāo)準(zhǔn)適用的探頭頻率范圍為1MHz至15MHz。1MHz至5MHz最適宜于對鋼鐵產(chǎn)品的檢測.5MHz至15MHz最適宜于對象鋁合金之類的細(xì)品粒結(jié)構(gòu)產(chǎn)品的檢測。如將本標(biāo)準(zhǔn)用于鋼以外的產(chǎn)品檢測,用戶須知,其產(chǎn)品內(nèi)的聲速與鋼中聲速不同,而斜探頭通常是按應(yīng)用于鋼來設(shè)計(jì)的。本標(biāo)準(zhǔn)給出的Snell定律是讓用戶計(jì)算其他材料內(nèi)準(zhǔn)確折射角用的。本標(biāo)準(zhǔn)適用于所有實(shí)用折射角范圍（O°～70°)。也適用于聚焦探頭和雙品探頭。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于表面波探頭。本標(biāo)準(zhǔn)給出的方法可以被整體采納,也可以在同其他標(biāo)準(zhǔn)合用時(shí)部分采納.當(dāng)檢測更厚或更薄的材科時(shí)也可以將本標(biāo)準(zhǔn)推薦試塊(HS和SDH試塊)相應(yīng)增大或減小。本標(biāo)準(zhǔn)沒有考慮對需要使用平底孔試塊來測定的缺陷當(dāng)量尺寸作出評估。本標(biāo)準(zhǔn)沒有驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，當(dāng)然，本標(biāo)準(zhǔn)已為用戶制定驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)奠定了技術(shù)基礎(chǔ)。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勤誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)·然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最