X線頭影測量分析1拼音2X線頭影測量的主要應用3頭顱定位X線照像和頭影圖的描繪頭顱定位X線照像頭影圖的描繪4常用X線頭影測量的標志點及平面頭影測量標志點頭影測量平面5常用硬組織測量項目上下頜骨的常用測量項目。上下前牙的常用測量項目面部高度的常用測量項目6電子計算機化的X線頭影測量電子計算機化的X線頭影測量特電子計算機化X線頭影測量系統(tǒng)的組成及工作過程數(shù)學模型的建立迤畫1拼音XxiantouyTngceliangfenxTX線頭影測量(Cephalometries),主要是測量X線頭顱定位照像所得的影像，對牙頜、顱面各標志點描繪出一定的線角進行測量分析，從而了解牙頜、顱面軟硬組織的結構,使對牙頜、顱面的檢查、診斷由表面形態(tài)深入到內部的骨骼結構中去。幾十年來X線頭影測量一直成為口腔正畸及口腔外科等學科的臨床診斷、治療設計及研究工作的重要手段。在我國，X線頭影測量于60年代初開始在口腔正畸的科研及臨床工作中應用。70年代末，電壬計算機X線頭影測量亦開始應用于我國口腔正畸臨床及科研工作上?；?X線頭影測量的主要應用1研究顱面生長發(fā)育:X線頭影測量是研究顱面生長發(fā)育的重要手段，一方面可通過對各年齡階段個體作X線頭影測量分析，從橫向研究顱面生長發(fā)育，同時也可用于對個體不同時期的測量分析，而作顱面生長發(fā)育的縱向研究。由于X線頭顱照像是嚴格定位的，因而系列的X線頭顱片具有可靠的可比性。Brodie1941年以X線頭影測量，對出生后3個月至8歲的兒童的顱面生長發(fā)育作了縱向研究，所得出的頭影生長圖跡重疊圖，至今仍廣為應用。Enlow提出并為大家所推崇的顱面生長發(fā)育新理論，也是以X線頭影測量作為研究手段。林景榕在60年代中亦以X線頭影測量對我國兒童的顱面生長發(fā)育作了橫向研究。林久祥張興中等在90年代中縱向研究分析了我國兒童的顱面生長發(fā)育。通過顱面生長發(fā)育的X線頭影測量研究，明確了顱面生長發(fā)育機制，快速生長期的年齡、性別間差異，以及顱面生長發(fā)育的預測。2牙頜、顱面畸形的診斷分析：通過X線頭影測量對顱面畸形的個體進行測量分析，可了解畸形的機制、主要性質及部位，是骨骼性畸形抑或牙合性畸形，使對畸形能作出正確的診斷，而這種診斷的依據(jù)，來源于明確了顱面軟硬組織各部分間的相互關系。而對于牙頜、顱面畸形的診斷分析基礎，又首先必須通過X頭影測量對正常合人顱面結構進行分析，得出正常合人各項測量的參考標準，并應用到對畸形的診斷分析中去。3確定錯合畸形的矯治設計：從X線頭影測量分析研究中得出正常合關系可存在于各種不同的顱面骨骼結構關系中，而一些牙齒的位置能在一定的頜面結構下得到穩(wěn)定，因而當通過測量分析牙頜、顱面結構后，根據(jù)錯合的機制，可確定頜位及牙齒矯治的理想位置，從而制定出正確可行的矯治方案。4研究矯治過程中及矯治后的牙頜、顱面形態(tài)結構變化：X線頭影測量亦常用作評定矯治過程中，牙頜、顱面形態(tài)結構發(fā)生的變化，從而了解矯正器的作用機制和矯治后的穩(wěn)定及復發(fā)情況。如關于口外型唇弓矯正器及下頜頦兜矯正器等對牙頜、顱面結構的作用及變化，都是在使用X線頭影測量以后才得以明確和澄清的。5外科正畸的診斷和矯治設計：通過X線頭影測量對需進行外科正畸的嚴重顱面畸形患者進行顱面軟硬組織的分析，得出畸形的主要機制，以確定手術的部位、方法及所需移動或切除頜骨的數(shù)量，同時應用X線頭影圖跡進行剪裁，模擬拼對手術后牙頜位置，得出術后牙頜、顱面關系的面型圖，為外科正畸提供了充分的根據(jù)，從而提高了其診斷及矯治水平。6下頜功能分析：X線頭影測量還可以用來研究下頜運動，語言發(fā)音時的腭功能以及息止合間隙等方面的功能分析。也有用于下頜由息止位至咬合時髁突、頜位等位置運動軌跡的功能研究。3頭顱定位X線照像和頭影圖的描繪［返回］頭顱定位X線照像(1)頭顱定位儀:用作頭影測量的X線頭顱像，必須要在頭顱定位儀(cephalometer)的嚴格定位下拍攝。因為只有完全排除了因頭位不正而造成的誤差后，各測量結果才有分析比較的價值。頭顱定位儀正是保證這一要求的儀器。自1931年Broadbent使用第一架頭顱定位儀以來，出現(xiàn)了許多不同類型的頭顱定位儀，其種類雖多，但定位的基本原理大致相同，只是近年來的產品，其結構更趨精密、準確。頭顱定位儀的定位，關鍵在于通過定位儀上的左右耳塞與眶點指針，三者構成一與地面平行的恒定平面的原理。在X線攝像時，先使頭顱定位儀的兩耳塞，進入頭部左右外耳道，然后上下調整頭部位置，使眶點指針抵于眶點，此時頭部便固定在眼耳平面與地面平行的位置上。每次照像時，頭位均恒定于此不變。頭顱定位儀的頂盤一般具有刻度并能旋轉，當需投照

后前位或一定角度時，只需轉動90喊一定角度即可。(2)X線照像1)投照距離：X線由球管射出時，呈輻射狀，使投照物體的影像放大，而產生模糊的半影。X線球管至膠片的距離越大，則射出的X線越接近平行，所造成的半影也越小。在X線頭顱攝影時要求有較大的投照距離，一般應不小于150cm。投照物體與膠片間距離，也是影響X線影像清晰和真實的重要因素，物片距越小，則X線影像的放大和失真越小。因而在投照時，應盡量使投照物體與膠片盒緊貼，以減小其放大誤差。通過加大球管至膠片距離也可減小由物片距所造成的放大誤差。每次照像時使頭位、X線球管及膠片三者之間的關系維持恒定,這樣所得的X線片才能保證測量結果的可靠，及不同個體或不同時期分別測量所得結果的可比性。2）X線頭影像的放大誤差：由于X線頭顱攝影時，X線不能達到平行的要求，而頭部正中矢狀平面與膠片間又有距離存在，因而，X線頭影像必然有一定的放大誤差，但由于攝影時，頭部固定位置一致，故各片的放大誤差基本一致，不會引起相互之間的差異。放大誤差的計算公式為r=（〖SX（〗D〖〗D-d〖SX）〗-1）x100or為放大誤差率，D為X線球管焦點至膠片距離，d為頭部正中矢狀面至膠片距離。

頭影圖的描繪X線頭影測量不能在X線頭影像上直接進行，而需在描繪的頭影圖上進行，故描繪的頭影圖必須精確地與頭影像上的形態(tài)完全一致。描圖可于具有良好光源的X線看片燈下或專用的描圖桌上進行。描圖及測量時需要準備透明膠片、硫酸描圖紙、精確的毫米尺、半圓儀、細尖鋼筆及硬質尖銳鉛筆等。將X線頭影描于硫酸紙上，再在描圖紙上進行測量分析。描繪圖的點線必須細小精確，以減少誤差。在X線頭影圖像上，有因頭顱本身厚度或個體兩側結構不完全對稱而出現(xiàn)的部分左右影像不完全重合（頭顱定位不準亦有此弊，應盡量避免），此時，則按其平均中點來作描繪。［返回］4常用［返回］4常用X線頭影測量的標志點及平面點。理想的標志點應該是易于定位的解剖標志，在生長發(fā)育過程中應相對穩(wěn)定。但并不是常用的標志點均能符合這一要求，不少標志點的確定是由各學者提出的不同測量方法而定，而標志點的可靠性還取決于頭顱X線片的質量以及描圖者的經驗頭影測量標志點可分為兩類：一類是解剖

的，這一類標志點是真正代表顱骨的一些解剖結構；另一類是引伸的，這一類標志點是通過頭影圖上解剖標志點的引伸而得，如兩個測量平面相交的一個標志點。(1)顱部標志點蝶鞍點(S.sella)：蝶鞍影像的中心。這是常用的一個顱部標志點，在頭顱側位片上較容易確定。鼻根點(N.nasion)：鼻額縫的最前點。這是前顱部的標志點，代表面部與顱部的結合處。有些X線片上，此點顯示不太清楚，是因為其形態(tài)不規(guī)則骨縫形成角度之故。耳點伊矛0行00：外耳道之最上點。頭影測量上常以定位儀耳塞影像之最上點為代表，稱為機械耳點。但也有少數(shù)學者使用外耳道影像之最上點來代表，則為解剖耳點。顱底點(Ba.basion)：枕骨大孔前緣之中點。一般此點較易確定，常作為后顱底的標志。Bolton點：枕骨髁突后切跡的最凹點(2)上頜標志點眶點(O.orbitale:)眶下緣之最低點。當病人兩側對稱及在完好的定位下，左右眶點才于同一水平，但實際上難以達到。一般X線片上可顯示左右兩個眶點的影像故常選用兩點之間的點作為眶點，這樣可減小其誤差。翼上頜裂點(Ptm.pterygomaxillaryfissure)：翼上頜裂輪廓之最下點。翼上頜裂之前界為上頜竇后壁，后界為蝶骨翼突板之前緣，此標志點提供了確定了上頜骨的后界和磨牙的近遠中向間隙及位置的標志。前鼻棘(ANS.anteriornasalspine)：前鼻棘之尖。前鼻棘點常作為確定腭平面的兩標志點之一，但此標志點的清晰與否與X線片的投照條件有關。一般不作近遠中長度測量所用。后鼻棘(PNS.posteriornasalspine)：硬腭后部骨棘之尖。上齒槽座點(A.subspinale)：前鼻棘與上齒槽緣點間之骨部最凹點。此點僅作為前后向測量所用。上齒槽緣點(SPr.superiorprosthion)：上齒槽突之最前下點。此點常在上中切牙之牙釉質-牙骨質界處。上中切牙點(Ul.upperincisor)：上中切牙切緣之最前點。一般上中切牙的測量有兩種方法，一種是以此點與根尖相連作為中上切牙牙長軸來作為角度測量的一個平面，另一種是測量此點與其他結構間的距離。(3)下頜標志點髁頂點(CO.condylion)：髁突的最上點。關節(jié)點(Ar.articulare)：顱底下緣與下頜髁突頸后緣之交點。關節(jié)點常在髁頂點不易確定時而代替髁頂點。下頜角點(Go.gonion)：下頜角的后下點?？赏ㄟ^下頜支平面和下頜平面交角之分角線與下頜角之相交點來確定。下齒槽座點(B.supramental)：下齒槽突緣點與頦前點間之骨部最凹點。下齒槽緣點(Id.infradentale)：下齒槽突之最前上點。此點常在下中切牙之牙釉質-牙骨質界處。下切牙點(Li.lowerincisor)：下中切牙切緣之最前點。頦前點(P.pogonion)：頦部之最突點。頦下點(Me.menton)：頦部之最下點。頦頂點(Gn.gnathion)：頦前點與頦下點之中點。D點：下頜體骨性聯(lián)合部之中心點。這些標志點中，有些是在正中矢狀面上，是單個的點。如鼻根點、蝶鞍點等。而有些則是雙側的點，如下頜角點，關節(jié)點等。若由于面部不對稱而使兩側之點不重疊時，則取二點間的中點作為校正的位置。(4)軟組織側面標志點額點(G.glbella)：額部之最前點。軟組織鼻根點(NSnasionofsofttissue)：軟組織側面上相應的鼻根點。眼點(E.eye)：瞼裂之眥點。鼻下點(Sn.subnasale)：鼻小柱與上唇之連接點。唇緣點(vermilionborders)：上唇緣點(UL)：上唇粘膜與皮膚之連接點。下唇緣點(LL)：下唇粘膜與皮膚之連接點。上唇突點(UL)：上唇之最突點。下唇突點(LL)：下唇之最突點。軟組織之頦前點（Pos.pogonionofsofttissue)：軟組織頦之最前點。軟組織頦下點（Mes.mentonofsofttissue)：軟組織頦之最下點。咽點(K)軟組織頸部與咽部之連接點。4.2頭影測量平面(1)基準平面：基準平面是在頭影測量中作為相對穩(wěn)定的平面。由此平面與各測量標志點及其他測量平面間構成角度、線距、比例等8個測量項目。目前最常用的基準平面為前顱底平面、眼耳平面和Bolton平面。前顱底平面(SN.SNplane)：由蝶鞍點與鼻根點之連線組成，在顱部的矢狀平面上，代表前顱底的前后范圍。由于這一平面在生長發(fā)育上具有相對的穩(wěn)定性，因而常作為面部結構對顱底關系的定位平面。眼耳平面（FH.Frankforthorizontalplane)：由耳點與眶點連線組成。大部分個體在正常頭位時，眼耳平面與地面平行。Bolton平面：由Bolton點與鼻根點連接線組成。此平面多用作重疊頭影圖的基準平面。圖ST“基準平面 I1.前即底平面工隰耳產面也平面2)測量平面：腭平面(ANS-PNS.paltalplane)：后鼻棘與前鼻棘的連線。全顱底平面(Ba-N)：顱底點與鼻根點之連線。合平面(OP.occlusalplane)：合平面一般有兩種確定方法。一種是以第一恒磨牙的咬合中點與上下中切牙間的中點(覆合或開合的1/2處)的連線。另一種是型的或稱功能的合平面，由均分后牙合接觸點而得，常使用第一恒磨牙及第一乳磨牙或第一雙尖牙的合接觸點，這種方法形成的合平面不使用切牙的任何標下頜平面(MP.mandibularplane)：下頜平面的確定方法有3種：(A)通過頦下點與下頜角下緣相切的線。(B)下頜下緣最低部的切線。(C)下頜角點與下頜頦頂點間的連線(Go-Gn)。下頜支平面(RP.ramalplane)：下頜升支及髁突后緣的切線。面平面(N-Po.facialplane)：由鼻根點與頦前點之連線組成。Y軸(Yaxis)：蝶鞍中心與頦頂點之連線。5常用硬組織測量項目［返回］X線頭影測量常用于臨床對錯合畸形的機制分析，以明確診斷及作出治療設計、錯合畸形可以是牙源性的也可以是骨源性的也可以是兩者均存，主要是牙齒、牙弓、頜骨、顱面間的關系不調。通過頭顱側位X片的頭影測量是反映顱面結構深度和高度的二維空間關系。可測量上頜、下頜各自的形態(tài)、大小、位置和相互間的位置關系以及牙齒的位置或牙軸傾斜。從測量方法及單位來看，可分為角度測量、線距測量及線距比例。每一測量項目都有其特定的意義，說明相應結構的特征或生長變化趨勢。但是，孤立地評價一項指標常會導致錯誤的結論。因為頭顱是牙頜、顱面各部分結構組成的復合體。其正常與否并不完全取決于某一指標：而取決于各部分間的配合。在一定變異范圍內，只要牙頜、顱面有協(xié)調的關系及相互補償，就會產生正常的顱面形態(tài)。由此我們也就可以理解，牙頜畸形正是由于牙頜、顱面各部間的不調所致。因

此在評價畸形特征，及其機制時，必須綜合評價各項測量指標，然后才能明確畸形機制，作出正確的診斷。5.1上下頜骨的常用測量項目。常用測量上、下頜骨相對顱部及其它結構位置關系的項目很多。通常所用的基準平面前顱底平面S-N和眼耳平面FH。(1)SNA角：由蝶鞍中心、鼻根點及上齒槽座點所構成的角。反映上頜相對于顱部的前后位置關系。當此角過大時，上頜前突、面部側貌可呈凸面型，反之上頜后縮面部呈凹面型。(2)SNB角：蝶鞍中心、鼻根點下齒槽座點所構成的角。反映下頜相對于顱部的位置關系。此角過大時，下頜呈前突，反之下頜呈后縮。(3)ANB角：上齒槽座點、鼻根點與下齒槽座點構成的角。此角亦即SNA角與SNB角之差。此角反映上下頜骨對顱部的相互位置關系。當SNA大于SNB時ANB角為正值，反之ANB角為負值。(4)NP-FH(面角)：面平面NP與眼耳平面FH相交之后下角。此角反映下頜的突縮呈度。此角越大表示下頜越前突，反之則表示下頜后縮。(5)Y軸角：蝶鞍中心與頦頂點聯(lián)線(SGn)與眼耳平面(FH)相交之下前角，此角亦反映頦部的突縮，此角越小則表示頦部越突，反之則表示頦部越縮。Y軸同時代表面部的生長發(fā)育方向。(6)na-pa(頜凸角)：由鼻根點至上齒槽座點連線(NA),與頦前點至上齒槽座點連線(PA)延長線之角，此角反映面部的上頜部分相對與整個側面的關系。當PA延長線在NA前方時，此角為正值，反之為負值。此角越大表示上頜的相對突度越大，反之表示上頜相對后縮。⑺MP-FH(下頜平面角)：由下頜平面(MP)與眼耳平面(FH)的交角。此角代表下頜體的陡度，下頜角的大小，也反映面部的高度。此外也由依下頜平面(MP)與前顱底平面停附交角來代表下頜平面角的，其意義同與FH所成的下頜平面角。(8)ANS-Ptm(上頜長)：翼上頜裂點與前鼻棘點在FH平面上垂足間之距離。代表上頜的長度。(9)S-Ptm(上頜位置)：翼上頜裂點與蝶鞍中心點在FH平面上垂足間的距離。表明上頜后界與蝶鞍中心點間的位置關系，亦反映上頜骨的前后位置關系。(10)Co-Po(下頜長):髁突后緣切線與頦前點切線在下頜平面上垂足間的距離。代表下頜骨的綜合長度。(11)S-Co(下頜位置)：髁突后切線與蝶鞍中心在FH平面上垂足間的距離。代表下頜髁突后界與蝶鞍中心間的位置關系，同樣也代表下頜骨的前后位置關系。圖上下霞■&的常用惻岸項目［二)心」幗恢度帆上:跳也St10.―/―度I1—僮道上下前牙的常用測量項目(1)1〖TXX-〗-SN角：上中切牙長軸與SN平面相交的下內角，反映上切牙對于前顱底的相對傾斜度。此角過大表示上中切牙唇傾，反之為舌傾。(2)1〖TX-〗-MP角：下中切牙長軸與下頜平面相交之上內角。反映下中切牙對于下頜平面的傾斜度。此角過大表示下中切牙唇傾，此角過小表示下中切牙舌傾。(3)1〖TXX-〗-NA角：上中切牙長軸與鼻根點一上齒槽座點連線(NA)交角，代表上中切牙的傾斜度和突度。(4)1〖TXX-〗-NA距：上中切牙切緣至鼻根點一上齒槽座點連線的垂直距離，亦代表上中切牙的傾斜度和突度。以上兩項測量相互結合就可以精確的確定上切牙的傾突程度。(5)1〖TX-〗-NB角：下中切牙長軸與鼻根點一下齒槽座點連線的交角，代表下中切牙的傾斜度和突度。(6)1〖TX-〗-NB距：下中切牙切緣至鼻根點—下齒槽座點連線的垂直距離，亦代表上中切牙的傾斜度和突度。以上兩項測量相互結合就可精確的確定下切牙的傾突程度。(7)上下中切牙角：上中切牙長軸與下中切牙長軸的交角。反映上下中切牙特別是上下前部牙弓的突度：此角越小突度越大，反之突度越小。面部高度的常用測量項目(1)全面高俗-乂?)：從鼻根點至頦下點的距向。(2)上面高(N-ANS)：從鼻根點至前鼻棘點的距離。(3)下面高(ANS-Me)：從前鼻棘至頦下點的距離。(4)上面高與全面高之此：N-ANS/N-Mex100%。(5)下面高與全面高之此：Ars-Me/N-Mex100%。6電子計算機化的X線頭影測量［返回］電子計算機化的X線頭影測量也稱為數(shù)值化的X線頭影測量，其基本原理是將在頭顱圖跡上所確定的各測量標志點轉換成座標值，由電子計算機算出各測量項的結果并進行統(tǒng)計分析。電子計算機化的X線頭影測量特點(1)增加測量的精確性：由于將標志點轉換成座標值進行運算，使測量精確度提高，避免預測時容易造成的誤差，并且可以計算出放大誤差。(2)提高效率:電子計算機化的X線頭影測量可大大縮短測量時間，一般幾十項測量項目僅需2?3分鐘即可得出結果。因而可以在頭影圖跡上確定大數(shù)量標志點進行大數(shù)量測量項目的測量。如Walker于頭顱側位圖跡上定出177個標點進行測量分析，Burstone確定52個點包括對顱面軟硬組織的測量分析。(3)大樣本分析:電子計算機化的X線頭影測量，有可能對大樣本進行分析，從而建立數(shù)據(jù)庫，而應用于臨床患者的矯治設計或顱面生長發(fā)育的預測。電子計算機化X線頭影測量系統(tǒng)的組成及工作過程電子計算機化X線頭影測量系統(tǒng)由計算機主機及圖形數(shù)值化儀、打印機、顯示器、繪圖儀、存儲器（軟、硬磁盤）等設備組成，同時需有根據(jù)不同測量和統(tǒng)計分析的內容而編制的測量和統(tǒng)計分析程序電子計算機化X線頭影測量系統(tǒng)的工作過程邏輯圖如下：數(shù)學模型的建立電子計算機化X線頭影測量的工作過程，即是將測量分析所要解決的問題轉化為數(shù)學問題，即點間形成線，線間形