T750電子元器件綜合測(cè)試儀綜述T750電子元器件綜合測(cè)試儀可對(duì)各種常用電子元器件進(jìn)行功能/參數(shù)/性能測(cè)試，應(yīng)用于生產(chǎn)企業(yè)電子元器件測(cè)試工作。只需一臺(tái)T750電子元器件綜合測(cè)試儀，即可解決元器件的測(cè)試難題。T750電子元器件綜合測(cè)試儀硬件電路中大量采用CPLD可編程集成技術(shù)，具有80路數(shù)字通道/160路VI曲線通道/3路可擴(kuò)展端子通道/2組雙端子程控電源通道，連接電腦采用USB接口方式。T750電子元器件綜合測(cè)試儀通過(guò)專(zhuān)用測(cè)試系統(tǒng)軟件，可對(duì)元器件特定失效模式構(gòu)建具體型號(hào)的響應(yīng)模型，從而建立大量元器件測(cè)試庫(kù)，對(duì)各種常用電子元器件和特殊電子元器件提供有效便捷的測(cè)試手段。T750電子元器件綜合測(cè)試儀工作狀態(tài)參數(shù)計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng)：支持windows10操作系統(tǒng)；計(jì)算機(jī)接口方式：支持USB3.0接口；線纜通道：數(shù)字通道:80路。VI模擬通道:160路；端子通道：3路；程控電源：4路。設(shè)定程控輸出+5V,+12V,-12V,-5V；電平閾值：+5V,±12V；測(cè)試頻率：1kHz~100kHz；驅(qū)動(dòng)電流：300mA；VI測(cè)試分辨率：16~256點(diǎn)/周期；VI測(cè)試阻抗：100Ω/1kΩ/10kΩ/100kΩ；VI掃描電壓：-28V~+28V；器件庫(kù)：TL74/54庫(kù),CMOS40/45庫(kù),驅(qū)動(dòng)器庫(kù),±12V數(shù)字器件庫(kù),LSI庫(kù),>40管腳PLCC封裝大規(guī)模LSI庫(kù),EPROM/EEPROM庫(kù),接口器件庫(kù),DA庫(kù)/AD庫(kù),運(yùn)放庫(kù),比較器庫(kù),模擬開(kāi)關(guān)庫(kù),穩(wěn)壓器件庫(kù),光耦器件庫(kù),分立元件庫(kù),無(wú)源器件庫(kù)等；功率：300W；尺寸：470×430×200mm；凈重：12.5kg.功能1.數(shù)字器件測(cè)試：<01>+5V數(shù)字器件測(cè)試測(cè)試范圍：TL74/54庫(kù),CMOS40/45庫(kù),驅(qū)動(dòng)器庫(kù),±12V數(shù)字器件庫(kù),LSI庫(kù),>40管腳PLCC封裝大規(guī)模LSI庫(kù),EPROM/EEPROM庫(kù),接口器件庫(kù)等。T750電子元器件綜合測(cè)試板12.集成運(yùn)放器件測(cè)試：<01>運(yùn)放器件波形功能測(cè)試運(yùn)放工作在線性區(qū)測(cè)試，測(cè)試運(yùn)放輸出波形的線性度。<02>運(yùn)放器件放大功能測(cè)試運(yùn)放工作在非線性區(qū)測(cè)試，測(cè)試運(yùn)放峰峰電壓參數(shù)值。<03>運(yùn)放器件填表方式擴(kuò)充表單方式擴(kuò)充運(yùn)放器件庫(kù)。3.其他集成器件測(cè)試：<01>電壓比較器器件測(cè)試電壓比較器數(shù)百種型號(hào)。<02>模擬開(kāi)關(guān)器件測(cè)試雙極性電源模擬開(kāi)關(guān)器件數(shù)百種型號(hào)。<03>高壓接口器件測(cè)試高壓接口電平轉(zhuǎn)換器件數(shù)百種型號(hào)。<04>數(shù)模轉(zhuǎn)換器DA器件測(cè)試D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器數(shù)百種型號(hào)。<05>大規(guī)模LSI測(cè)試PLCC封裝LSI器件。<06>存儲(chǔ)器測(cè)試DRAM/SRAM存儲(chǔ)器千余種型號(hào)。<09>穩(wěn)壓塊器件測(cè)試78/79系列正/負(fù)穩(wěn)壓塊功能測(cè)試。<08>光耦器件測(cè)試測(cè)試光耦Vf,Ir,Vces,CTR參數(shù)測(cè)試。4.晶體管測(cè)試：<01>NPN型/PNP型三極管測(cè)試三極管(NPN型/PNP型)截止區(qū)/放大區(qū)/飽和區(qū)的功能特性。<02>N型/P型場(chǎng)效應(yīng)管測(cè)試場(chǎng)效應(yīng)管(N型/P型)在不同區(qū)間的功能特性。<03>可控硅測(cè)試可控硅管(單向型/雙向型)在不同區(qū)間的功能特性。5.阻容測(cè)試：<01>電阻器件測(cè)試測(cè)試范圍：10Ω~10MΩ。支持電阻批量測(cè)試。<02>電容器件測(cè)試測(cè)試范圍：103~20000μF。支持電容批量測(cè)試。清單主機(jī)序號(hào)名稱(chēng)廠家數(shù)量1T750電子元器件綜合測(cè)試儀瑞迪航科12220V電源線瑞迪航科13USB訊纜瑞迪航科14測(cè)試夾瑞迪航科85綜合測(cè)試板1瑞迪航科16綜合測(cè)試板2瑞迪航科1740芯扁平測(cè)試電纜瑞迪航科48VI表筆瑞迪航科29測(cè)試線瑞迪航科110儀器