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文檔簡(jiǎn)介
目錄1.銲線的種類(lèi)2.結(jié)球銲線(BALLBONDING)
的操作3.結(jié)球銲線的實(shí)際操作4.Bonding用線材5.Bonding用瓷嘴6.銲線技術(shù)(製程技術(shù))
附錄1.拉力測(cè)試時(shí)Pull位置的影響
附錄2.關(guān)於CRATERING
附錄3.關(guān)於電鍍銲線機(jī)操作的基礎(chǔ)1.銲線的種類(lèi)BallBonderWedgeBonder將半導(dǎo)體IC晶片上的接續(xù)電極與Package外部引出用端子之間,利用打線予以連接。將相連的金屬加熱,以熱或超音波振動(dòng)、或熱+超音波振動(dòng),使其接合。(源自於:SEAJ半導(dǎo)體製造機(jī)臺(tái)用語(yǔ)辭典)此方式是以降低打線溫度為目的所開(kāi)發(fā)而成。為彌補(bǔ)因溫度低造成熱能減少,因此附加上超音波能量打線溫度:300℃前後打線溫度:100~200℃前後低溫化熱壓著TPC方式使用Au線來(lái)銲線的技術(shù),最早是在1950年代,由美國(guó)貝爾研究所的研究小組所確立,之後美國(guó)機(jī)臺(tái)製造廠商開(kāi)發(fā)手動(dòng)式機(jī)臺(tái),將結(jié)球銲線的操作被實(shí)際應(yīng)用,且普及的被採(cǎi)用至今。WedgeBonding鋁Al、金Au線BALLBONDING
金Au、銅Cu線WIREBONDING超音波?熱壓著方式Ver.12WIREBONDINGPROCESS的基礎(chǔ)熱壓著法與超音波?熱壓著法的比較-接合要素之比較--接合時(shí)所需的物理性効果比較-項(xiàng)目熱壓著法超音波?熱壓著法接合要素?zé)岷芍劁I針磨動(dòng)VIB熱荷重超音波振動(dòng)U.S.溫度高(300℃以上)較低(200℃前後)參考資料熱壓著法超音波?熱壓著法接合所需的物理性効果(銲針磨動(dòng))優(yōu)(超音波振動(dòng))塑性變形増大變形量増加空孔密度増大(銲針磨動(dòng))優(yōu)(超音波振動(dòng))因溫度使原子擴(kuò)散定數(shù)増大優(yōu)(高溫)劣(較低溫)原子密度差距(濃淡斜率)増大劣優(yōu)(超音波振動(dòng))Ver.13WIREBONDINGPROCESS的基礎(chǔ)2.銲線操作①搜尋動(dòng)作
在瓷嘴前端突出的線頂端形成金球,瓷嘴朝向1st銲點(diǎn)位置(PAD表面)以低速(5mm/sec-20mm/sec)下降。②1st銲點(diǎn)
瓷嘴碰觸到銲墊表面後,依靜荷重、超音波振動(dòng)及溫度,使金球被壓著在銲墊表面上。③
打線弧
1st銲點(diǎn)完成後,瓷嘴朝2nd銲點(diǎn)移動(dòng)的過(guò)程中,瓷嘴上升約5mm,釋出線弧形成時(shí)所需的金線長(zhǎng)度。④-⑤
線弧形成
接著在瓷嘴從最高點(diǎn)朝2nd銲點(diǎn)移動(dòng)的過(guò)程中,金線被瓷嘴吸入,連帶著多餘的線到達(dá)2nd銲點(diǎn)。⑥
2nd銲點(diǎn)到達(dá)2nd銲點(diǎn)後,依靜荷重、超音波振動(dòng)及溫度,使金線被壓著在LEAD表面。⑦FEEDUP線尾產(chǎn)生2nd點(diǎn)銲線完成後,為了下次的打線時(shí)形成所需的金球,既定的金線被釋出,上升到SPARK的高度。⑧金球形成
瓷嘴上升至SPARK高度後,因放電而使金線前端形成金球。線弧形成LEAD搜尋動(dòng)作半導(dǎo)體晶片①1st
銲點(diǎn)②金線釋出③金線吸入④⑤金球形成線弧軌跡形成放電
形成金球⑧2nd
焊點(diǎn)⑥FEEDUP線尾產(chǎn)生⑦※無(wú)線弧控制之情形Ver.14WIREBONDINGPROCESS的基礎(chǔ)3.結(jié)球銲線的實(shí)際操作手段DIEBONDER
DIEBONDER導(dǎo)線架L/F/基板接著劑半導(dǎo)體晶片烘烤BallBonding線瓷嘴打線技術(shù)(製程技術(shù))BallBONDER(機(jī)臺(tái)技術(shù))Ver.15WIREBONDINGPROCESS的基礎(chǔ)
主要特徴等上述極佳的化學(xué)、機(jī)械特性※本項(xiàng)資料、圖表等,自田中電子工業(yè)及日鉄MICROMETAL技術(shù)資料轉(zhuǎn)載4.Bonding用金線4-1金線的主要特徴在現(xiàn)今半導(dǎo)體組裝過(guò)程中超音波?熱壓著打線方式為BallBonding的主流,而金線是最適合且不可或缺的半導(dǎo)體DEVICE封裝材料。在大氣中或水中,化學(xué)性安定,不會(huì)氧化在金屬中,延展性最佳、於打線時(shí)可使用加工至直徑10~38μm(MICORMETER:1/1000mm)的超細(xì)線不易吸收氣體對(duì)於熱壓著打線,硬度最合適其機(jī)械性的強(qiáng)度可承受樹(shù)脂封膠壓力僅次於銀、銅的高導(dǎo)電性電阻比率(μΩ?cm)的比較銀(1.6)<銅(1.7)<金(2.3)<鋁(2.7)Ver.16WIREBONDINGPROCESS的基礎(chǔ)電氣傳導(dǎo)性(電流傳導(dǎo)容易)影響金屬導(dǎo)電程度,也就是決定電子移動(dòng)量的重要因素,包含金屬結(jié)晶中的自由電子數(shù)、金屬
結(jié)晶兩端的電位差、妨礙自由電子移動(dòng)的阻抗等因素。自由電子數(shù),一般以1價(jià)的金屬最多、導(dǎo)電性高。結(jié)晶中兩端電位差越大,自由電子數(shù)越多,導(dǎo)電性也越高。電氣阻抗越小,則移動(dòng)電子數(shù)越増加、導(dǎo)電性也越高。自由電子
相對(duì)於不能與原子或分子相離太遠(yuǎn)的束縛電子,自由電子可在真空或物質(zhì)中自由移動(dòng)。金屬中的傳導(dǎo)電子在傳導(dǎo)帶時(shí)就是自由電子,因與格子振動(dòng)的相互作用,有說(shuō)明導(dǎo)電、
熱傳導(dǎo)、比熱、磁性等特徴。電氣阻抗
施與在物體一定電壓V時(shí),所通過(guò)的穩(wěn)定電流為I、則R=V/I為該物體之電氣阻抗。截面積也一樣,在A中長(zhǎng)度L的線狀物體,R=ρL/A中的ρ被稱(chēng)做電氣阻抗率(電氣
阻抗比),是[Ω?cm]為單位的物理定數(shù)。電氣阻抗中電流流通,則產(chǎn)生每單位時(shí)間發(fā)生I*2?R的焦耳熱(W)。用語(yǔ)解説Ver.17WIREBONDINGPROCESS的基礎(chǔ)在高純度(5N:99.999%)の純金中添加特定的不純物質(zhì),以及在加工過(guò)程中的均勻擴(kuò)散處理(熱處理:Anneal退火),可製造出具有各種特性之線種。4.Bonding用金線4-2金線的製造過(guò)程範(fàn)例(引用自田中電子工業(yè)綜合目錄)Ver.18WIREBONDINGPROCESS的基礎(chǔ)用語(yǔ)解説壓延加工
壓延加工是指形成平板狀、某固定形狀、棒狀、管狀等的多功能加工法。依加工材料的溫度可分
為熱壓延與冷壓延。熱壓延是處理較大材料的壓延。
冷壓延,因是在常溫下,當(dāng)然絕對(duì)應(yīng)力阻抗高,加工困難度也變高,但尺寸精準(zhǔn)度較佳,可達(dá)到
成品表面完美的目的。
固定形狀材料的壓延,是在滾筒內(nèi)沿著溝道成形,隨溝道形狀的依序變化,而逐漸接近成品的多
段式滾筒壓延。應(yīng)力阻抗
從應(yīng)力-應(yīng)變曲線,取得塑性應(yīng)變的絶對(duì)値ε,及應(yīng)力的絶對(duì)値σ,來(lái)表示σ-ε關(guān)係時(shí),σ是
在塑性變形時(shí)的材料特有數(shù)値。這數(shù)值就稱(chēng)為應(yīng)力阻抗。應(yīng)力阻抗之測(cè)定
材料應(yīng)力阻抗之測(cè)定,有拉力測(cè)試、壓縮測(cè)試及硬度測(cè)試等等。其中最常做的測(cè)試是拉力測(cè)試,降伏應(yīng)力、或是耐力、拉力強(qiáng)度等特性外,伸展、壓縮
、加工硬化指數(shù)、r值等特性,都可由塑性變形求得。壓縮測(cè)試方面,雖然不像拉力測(cè)試時(shí)易發(fā)生中間細(xì)的狀況,但若不注意減少工具與材料間摩擦之
問(wèn)題,會(huì)有Barreling的狀況發(fā)生。硬度測(cè)驗(yàn),其優(yōu)點(diǎn)是可在細(xì)微部分測(cè)定,但需要誤差處理。Ver.19WIREBONDINGPROCESS的基礎(chǔ)除純度以外,金線要求以下機(jī)能尺寸精準(zhǔn)度高(能控制在0.1um)表面圓滑、有金屬光澤表面無(wú)髒物、污垢拉力強(qiáng)度、伸展率能達(dá)指定程度捲線狀況少在金線前端形成的球,其形狀一定且非常圓4.Bonding用金線4-3對(duì)金線之要求Ver.110WIREBONDINGPROCESS的基礎(chǔ)各Type的高溫特性與Loop高度的關(guān)係各Type線之強(qiáng)度一般線:Y,C,FA,M3,G低Loop用線:GL-2,GLD高強(qiáng)度線:GMG,GMH合金線:GPG4.Bonding用金線4-4Bonding用金線列表
(田中電子工業(yè)製金線範(fàn)例有關(guān)其他公司的線,請(qǐng)參照目錄)
Ver.111WIREBONDINGPROCESS的基礎(chǔ)與高純度線做比較,在常溫及高溫時(shí)的機(jī)械性強(qiáng)度較高耐模流極優(yōu)在大氣中、可形成完整的圓球InitialBall本體的再結(jié)晶粒小與高純度線比較、接合力高BallNeck強(qiáng)度較強(qiáng)Au/Al接合度提高■與高純度線比較,電阻略高(1.3倍左右)合金線之特徴一般的機(jī)械性強(qiáng)度,在強(qiáng)度測(cè)試中可同時(shí)測(cè)定出斷裂強(qiáng)度(gf)與伸展率(%)為因應(yīng)近年來(lái)各種半導(dǎo)體封裝的應(yīng)用,已投入開(kāi)發(fā)純度2N(99%)~
3N(99.9%)合金(Alloy)線的市場(chǎng)。4.Bonding用金線4-5合金線(1)Ver.112WIREBONDINGPROCESS的基礎(chǔ)∥合金、高純度金線範(fàn)例針對(duì)近年來(lái)急速以Pitch展開(kāi)的FinePadPitch化,提出下列要求各金線之詳細(xì)特點(diǎn),請(qǐng)參照各公司之目錄在微小銲墊上打線接合信賴(lài)性的提升隨著線徑的細(xì)小化
耐模流性的改良隨著線徑的細(xì)小化改良金線強(qiáng)度要求開(kāi)發(fā)新線種,擁有舊有高純度線所無(wú)法擁有的特性合金線高強(qiáng)度線田中電子工業(yè)GPGGMH,GMG日鉄MICROMETALR,GNT5開(kāi)發(fā)合金線(2N~3N)
與4N
KEEP的高強(qiáng)度線4.Bonding用金線4-5合金線(2)Ver.113WIREBONDINGPROCESS的基礎(chǔ)常溫(25℃)與高溫(250℃)的合金線與高純度線機(jī)械特性比較4.Bonding用金線4-5合金線(3)(以下引用田中電子工業(yè)合金線資料)高純度線合金線合金線高純度線BreakingLoad(gf)Elongation(%)高溫特性範(fàn)例(φ25um)250D
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