ICS19.040K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2424.5—2006/IEC60068-3-5:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)Environmentaltestsforelectricandelectronicproducts-Confirmationoftheperformanceoftemperaturechambers（IEC60068-3-5:2001,Environmentaltesting-Part3-5:Supportingdocumentationandguidance--Confirmationoftheperformanceoftemperaturechambers,IDT)2006-12-19發(fā)布2007-09-01實(shí)施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T2424.5-2006/IEC60068-3-5：2001三次前言：：：·····范圍規(guī)范性引用文件23術(shù)語和定義4試驗(yàn)箱性能的測(cè)量5標(biāo)準(zhǔn)溫度試驗(yàn)順序6評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)7性能測(cè)試報(bào)告應(yīng)給出的信息

GB/T2424.5-2006/IEC60068-3-5：2001前GB/T2424包含以下部分-GB/T2424.1-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則（IEC60068-3-1：1978IDT)GB/T2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則(IEC60068-3-4:2001.IDT)GB/T2424.5—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)（IEC60068-3-5:2001IDTGB/T2424.6—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(IEC60068-3-6:2001.IDT)GB/T2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測(cè)定（IEC60068-3-7:2001.IDT)GB/T2424.10—1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則（eqvIEC60355:1971)GB/T2424.11-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.12-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.13-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則(IEC60068-2-33:1971.IDT)GB/T2424.14—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則(idtIEC60068-2-9:1975)GB/T2424.15一1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則（eqvIEC60068-3-2：1976）（B/T2424.17—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.19-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)?zāi)M購存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則(IEC600682-48:1982IDT)-B/T2424.20—1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.21—1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.22—1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度(低溫、高溫)和振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則(eqvIEC60068-2-53：1984）（B/T2424.23—1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程水試驗(yàn)導(dǎo)則（B/T2424.24—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.25-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分：試驗(yàn)導(dǎo)則地震試驗(yàn)方法(idtIEC60068-3-3:1991）本部分為GB/T2424的第5部分，等同采用了國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-3-5:2001《環(huán)境試驗(yàn)第3-5部分：支持文件和導(dǎo)則溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)》英文版)。考慮到我國實(shí)際情況,本部分對(duì)IEC60068-3-5做了以下編輯性修改引用了采用國際標(biāo)準(zhǔn)的我國標(biāo)準(zhǔn),并改變了排列順序；

GB/T2424.5-2006/IEC60068-3-5:2001刪除了IEC60068-3-5的前言和引言：增加了國家標(biāo)準(zhǔn)的前言；-對(duì)標(biāo)準(zhǔn)中的圖表做了編輯性修改。本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本部分由廣州電器科學(xué)研究院負(fù)責(zé)起草本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC8)歸口.本部分主要起草人:顏景蓮、賴文光本部分為首次發(fā)布。

GB/T2424.5-2006/IEC60068-3-5:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)范圍GB/T2424的本部分提供了一種統(tǒng)一的可再現(xiàn)的方法,用以確認(rèn)溫度試驗(yàn)箱在沒有負(fù)載的情況下是否符合GB/T2423試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)以及其他標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。本部分適用于用戶進(jìn)行常規(guī)的試驗(yàn)箱性能監(jiān)測(cè)2：規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過（B/T2424的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而.鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB/T2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分：總則(GB/T2421一1999.IEC60068-1:1988.IDT）GB/T2423(相關(guān)部分）電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法GB/T2424.6電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/濕度試驗(yàn)箱性能認(rèn)可（GB/T2424.6—2006.IEC60068-3-6:2001.IDT)GB/T2424.7電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱測(cè)量(GB/T2424.7-2006.1EC60068-3-7:2001.IDT）GB/T16839.1熱電偶第1部分：分度表(GB/T16839.1—1997.IEC60584-1:1995.IDT)GB/T19022測(cè)量管理體系測(cè)量過程和測(cè)量設(shè)備的要求（GB/T19022-2003,1SO10012:2003.IDT)IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件術(shù)語和定義下列術(shù)語及定義,適用于本部分3.1溫度試驗(yàn)箱temperaturetestchamber封閉體或空間,其中某部分能達(dá)到GB/T2423有關(guān)部分規(guī)定的溫度條件3.2溫度設(shè)定值tempe