ICS19.040K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2424.7-2006/IEC60068-3-7:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量Enyironmentaltestsforelectricandelectronicproducts-MeasurementsintemperaturechambersfortestsAandtestsB（withload)（IEC60068-3-7:2001,Environmentaltesting-Part3-7:Supportingdocumentationandguidance--MeasurementsintemperaturechambersfortestsAandtestsB(withload),IDT)2006-12-19發(fā)布2007-09-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛(ài)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T2424.7-2006/IEC60068-3-7：2001三次前言：：···范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語(yǔ)及定義4測(cè)量系統(tǒng)5溫度性能的測(cè)定6試驗(yàn)程序7評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)………8性能報(bào)告應(yīng)給出的信息

GB/T2424.7-2006/IEC60068-3-7：2001前GB/T2424包含以下部分-GB/T2424.1-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則（IEC60068-3-1：1978IDT)GB/T2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則(IEC60068-3-4:2001.IDT)GB/T2424.5—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)（IEC60068-3-5:2001IDTGB/T2424.6—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(IEC60068-3-6:2001.IDT)GB/T2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測(cè)定（IEC60068-3-7:2001.IDT)GB/T2424.10—1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則（eqvIEC60355:1971)GB/T2424.11-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.12-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.13-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則(IEC60068-2-33:1971.IDT)GB/T2424.14—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則(idtIEC60068-2-9:1975)GB/T2424.15一1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則（eqvIEC60068-3-2：1976）GiB/T2424.17—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.19-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)?zāi)M存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則(IEC6O0682-48:1982IDT)-B/T2424.20—1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.21—1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.22—1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度(低溫、高溫)和振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則(eqvIEC60068-2-53：1984）（B/T2424.23—1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程水試驗(yàn)導(dǎo)則（B/T2424.24—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.25-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分：試驗(yàn)導(dǎo)則地震試驗(yàn)方法(idtIEC60068-3-3:1991本部分為GB/T2424第7部分.等同采用了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-3-7:2001《環(huán)境試驗(yàn)第3-7部分：支持文件和導(dǎo)則試驗(yàn)A和B溫度試驗(yàn)箱(有負(fù)載)的測(cè)量》英文版)。考慮到我國(guó)實(shí)際情況,本部分對(duì)IEC60068-3-7做了以下編輯性修改：引用了采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的我國(guó)標(biāo)準(zhǔn),并改變了排列順序；

GB/T2424.7-2006/IEC60068-3-7:2001刪除了IEC60068-3-7的前言和引言：增加了國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的前言；-對(duì)標(biāo)準(zhǔn)中的圖表做了編輯性修改。本部分由中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本部分由廣州電器科學(xué)研究院負(fù)責(zé)起草本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC8)歸口.本部分主要起草人:顏景蓮、王玲。本部分為首次發(fā)布。

GB/T2424.7-2006/IEC60068-3-7:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量1范圍GB/T2424的本部分規(guī)定了一項(xiàng)統(tǒng)一的、可再現(xiàn)的方法,以確認(rèn)其在有散熱性/非散熱性試驗(yàn)樣品員載并且工作空間內(nèi)有空氣循環(huán)條件下，符合GB/T2423.1和（B/T2423.2氣候試驗(yàn)規(guī)定的要求本方法主要適用于用戶進(jìn)行常規(guī)的試驗(yàn)箱性能監(jiān)測(cè)規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫（GB/T2423.1-2001.1EC60068-2-1:1990,IDT）GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫(IEC60068-2-2:1974.IDT）GB/T2424.1—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則(IEC60068-3-1:1974和IEC60068-3-1A:1978.IDT)GB/T2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(IEC60068-3-5:2001.IDT）GB/T2424.6—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(IEC60068-3-6:2001，IDT）GB/T16839.1熱電偶第1部分：分度表(GB/T16839.1-1997.IEC60584-1:1995，IDT)TEC60751工業(yè)鉑電阻溫度計(jì)傳感器3術(shù)語(yǔ)及定義下列術(shù)語(yǔ)及定義適用于本部分試驗(yàn)規(guī)范testspecirication適用于有/無(wú)強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)程序.適合于各種尺寸的試驗(yàn)箱注：表1匯總了GB/T2423.1及GB/T2423.2的試驗(yàn)條件。3.2確認(rèn)方法(方法1）conrirmationmethod（procedure1)為了確定試驗(yàn)箱的性能是否符合GB/T2423.1試驗(yàn)A和/或GB/T2423.2試