犐犆犛１９．０４０

犃２１

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２４２１．２—２００８／犐犈犆６００６８４：１９８７

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

規(guī)范編制者用信息試驗(yàn)概要

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犐狀犳狅狉犿犪狋犻狅狀犳狅狉狊狆犲犮犻犳犻犮犪狋犻狅狀狑狉犻狋犲狉狊—犜犲狊狋狊狌犿犿犪狉犻犲狊

（ＩＥＣ６００６８４：１９８７，Ｂａｓｉｃｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔａｌｔｅｓｔｉｎｇｐｒｏｃｅｄｕｒｅｓ—

Ｐａｒｔ４：Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎｆｏｒｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｗｒｉｔｅｒｓ—Ｔｅｓｔｓｕｍｍａｒｉｅｓ，ＩＤＴ）

２００８１２３０發(fā)布２００９１１０１實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書(shū)

犌犅／犜２４２１．２—２００８／犐犈犆６００６８４：１９８７

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

１目的!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２概述!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２．１導(dǎo)則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２．２貯存!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２．３安裝!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術(shù)語(yǔ)和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４試驗(yàn)概要目錄!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

４．１數(shù)字目錄!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

４．２字母目錄!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

５導(dǎo)則文件目錄!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

５．１數(shù)字目錄!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

５．２字母目錄!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

６試驗(yàn)概要!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

附錄ＮＡ（資料性附錄）國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》的組成部分!!!!!!!!!!!７７

Ⅰ

書(shū)

犌犅／犜２４２１．２—２００８／犐犈犆６００６８４：１９８７

前言

ＧＢ／Ｔ２４２１目前分為如下幾部分：

———ＧＢ／Ｔ２４２１．１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)概述和指南；

———ＧＢ／Ｔ２４２１．２電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)范編制者用信息試驗(yàn)概要。

本部分是ＧＢ／Ｔ２４２１的第２部分。

本部分等同采用ＩＥＣ６００６８４：１９８７《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第４部分：規(guī)范編制者用信息試驗(yàn)概

要》（英文版）及其修訂１：１９９２和修訂２：１９９４。

為便于使用，本部分對(duì)ＩＥＣ６００６８４：１９８７僅做下列編輯性修改：

———為與新版ＩＥＣ６００６８的標(biāo)題名稱(chēng)一致，本部分標(biāo)題名稱(chēng)由“基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程”改為“電工電子

產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)”；

———“ＩＥＣ６００６８４：１９８７本部分”修改為“ＧＢ／Ｔ２４２１．２—２００８的本部分”；

———?jiǎng)h除了ＩＥＣ６００６８４：１９８７的前言和序；

———增加了國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的前言；

———增加了規(guī)范性引用文件，引用了與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)有對(duì)應(yīng)關(guān)系的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)；

———增加了圖題和表題，并依先后順序編號(hào)；

———增加了資料性附錄ＮＡ“國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》的組成部分”。

本部分所有試驗(yàn)方法均采用與ＩＥＣ標(biāo)準(zhǔn)原文一致的最新國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，除非新版國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與ＩＥＣ標(biāo)準(zhǔn)

原文不一致，則采用與其一致的舊版國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。如ＧＢ／Ｔ２４２３．３８試驗(yàn)Ｒ，２００８年版的標(biāo)準(zhǔn)與

ＩＥＣ６００６８４：１９８７存在很大差異，故本部分仍然采用１９９０年版的標(biāo)準(zhǔn)。

本部分的附錄ＮＡ為資料性附錄。

本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并歸口。

本部分由廣州電器科學(xué)研究院起草。

本部分主要起草人：胡利芬。

Ⅲ

犌犅／犜２４２１．２—２００８／犐犈犆６００６８４：１９８７

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

規(guī)范編制者用信息試驗(yàn)概要

１目的

當(dāng)不需要提供完整標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，為規(guī)范編制者和其他人員提供ＧＢ／Ｔ２４２３中每個(gè)環(huán)境試驗(yàn)的概要。

試驗(yàn)人員應(yīng)注意，試驗(yàn)概要并不能完全代替標(biāo)準(zhǔn)。

２概述

在ＧＢ／Ｔ２４２１．１中可以找到ＧＢ／Ｔ２４２３中每個(gè)環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)涉及的主要內(nèi)容，包括定義和導(dǎo)則。

這些標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)所用方法作出了解釋?zhuān)詤^(qū)別不同試驗(yàn)。

概要中省略了容差，容差在ＧＢ／Ｔ２４２３系列標(biāo)準(zhǔn)中。

２．１、２．２和２．３中的信息適用于主要概要，不適用于所有概要。

２．１導(dǎo)則

ＧＢ／Ｔ２４２３的許多標(biāo)準(zhǔn)包含試驗(yàn)程序應(yīng)用導(dǎo)則，許多導(dǎo)則對(duì)于規(guī)范編制者和其他不需要詳細(xì)了解

試驗(yàn)的人特別有價(jià)值。對(duì)于這些標(biāo)準(zhǔn)，概要將不特別提及導(dǎo)則。

有另外的情況，試驗(yàn)導(dǎo)則在ＧＢ／Ｔ２４２３的其他標(biāo)準(zhǔn)中，或在ＧＢ／Ｔ２４２４系列標(biāo)準(zhǔn)中描述成背景信

息，如太陽(yáng)輻射試驗(yàn)（ＧＢ／Ｔ２４２３．２４）的導(dǎo)則在ＧＢ／Ｔ２４２４．１４中。在這些情況下，為了在規(guī)范中充分