ICS29.035.99K15中華人民共和國國家木標(biāo)淮GB/T10064-2006/IEC60167:1964代替GB/T10064—1988測定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗方法Methodsoftestforthedeterminationoftheinsulationresistanceofsolidinsulatingmaterials(IEC60167:1964,IDT)2006-02-15發(fā)布2006-06-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T10064一2006/IEC60167：1964前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60167:1964《測定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗方法》英文版)為便于使用.本標(biāo)準(zhǔn)作了下列編輯性修改：刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的目次、前言和序言；a）b）刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的小標(biāo)題第一節(jié)至第八節(jié)；用小數(shù)點·.代替作為小數(shù)點的返號·,；C）刪除國際標(biāo)準(zhǔn)第12章的注：e）增加第2章規(guī)范性引用文件,刪除第19章參考文獻f）圖按GB/T1.1—2000標(biāo)注?？紤]到我國國情,將IEC60167:1964第9章中“錫箱”改用“鋁箱"本標(biāo)準(zhǔn)代替（B/T10064一1988《固體絕緣材料絕緣電阻的試驗方法》。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中國電器工業(yè)協(xié)會提出本標(biāo)準(zhǔn)由全國絕緣材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：桂林電器科學(xué)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：王先鋒。本標(biāo)準(zhǔn)于1988年8月首次發(fā)布，本次為第一次修訂。

GB/T10064—2006/IEC60167:1964測定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗方法范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測定絕緣電阻的方法,但不再區(qū)分體積電阻和表面電阻本標(biāo)準(zhǔn)適用于試樣精度要求不高,只要求一般定性的快速測定電阻值的場合規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括斯誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T1410—2006固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法(IEC60093:1980.IDT)術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)絕緣電阻insulationresistance與試樣接觸或嵌入試樣的兩個電極之間的絕緣電阻.是加在電極上的直流電壓與施加電壓一定時間后電極間總電流之比。它取決于試樣的體積電阻和表面電阻意義4.1按本方法所測出的電阻值包括了體積電阻和表面電阻,但未將這兩部分區(qū)分開。本方法與體積電阻率和表面電阻率推薦試驗方法相比(見GB/T1410—2006).不能給出所測材料十分確定的數(shù)值。但是所測實驗數(shù)據(jù)可以用來比較不同絕緣材料的性能。4.2本方法非常適用于確定濕度對吸濕的絕緣材料的影響,在這些絕緣材料中，條件處理不僅會顯著改變材料的表面絕緣性能，而且也會顯著改變材料內(nèi)部的絕緣性能、5試驗設(shè)備緣電阻可以用電橋法或者用測量電流和電壓的方法來確定。這些方法詳見GB/T1410—2006。5.15.2測量時施加足夠穩(wěn)定的直流電壓，使電壓變化時所出現(xiàn)的充電電流與貫穿試樣的電流相比可忽略不計。如需要，可使用若干電池。6電極材料在試驗條件下應(yīng)不會被腐蝕.且不會與被測材料起反應(yīng)。可以使用下列幾種電極：當(dāng)測量側(cè)重于體積電阻時,通常使用圓錐形插銷電極;當(dāng)測量側(cè)重于表面電阻時,使用其他幾種電極。圓錐形插銷電極(對平板、管狀和棒狀試樣)采用直徑約5mm并帶有約2%錐度的干凈黃銅或不銹鋼作為圓錐形插銷電極,其長度應(yīng)符合第10章的要求。這些電極適用于平板、管狀和棒狀試樣(見圖1、圖2),將電極插入試樣上兩個中心距離為25m