第一章測試【單選題】(2分)光學(xué)透鏡成像的基礎(chǔ)是光可以發(fā)生（）。

A.散射

√B.折射

C.衍射

D.反射

【單選題】(2分)照明光源的波長不單一造成的像差我們稱為（）。

√A.色差

B.像差

C.球差

D.像散

【單選題】(2分)（）是由于透鏡的遠(yuǎn)軸區(qū)與近軸區(qū)的磁場對電子的折射能力不同而造成的。

√A.球差

B.色差

C.像散

D.像差

【判斷題】(2分)像散是由于透鏡磁場的非旋轉(zhuǎn)對稱引起的。（）

√A.對

B.錯

【判斷題】(2分)低能電子束波長比較長，不容易被磁場會聚（）

A.對

√B.錯第二章測試【單選題】(2分)透射電鏡的分辨率主要取決于（）。

√A.物鏡

B.中間鏡

C.投影鏡

D.聚光鏡

【單選題】(2分)透射電子顯微鏡的成像系統(tǒng)中有（）

A.樣品架、聚光鏡光闌、投影鏡

B.物鏡光闌，投影鏡、聚光鏡

C.聚光鏡、物鏡、物鏡光闌

√D.物鏡、中間鏡、投影鏡

【單選題】(2分)透射電子顯微鏡中的光闌有（）

A.物鏡光闌、投影鏡光闌、發(fā)散光闌

B.中間鏡光闌、投影鏡光闌、衍射光闌

√C.物鏡光闌、聚光鏡光闌、選區(qū)光闌

D.衍射光闌、聚焦光闌、發(fā)散光闌

【判斷題】(2分)透射電子顯微鏡操作的過程中，將中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合，就是成像操作。（）

A.錯

√B.對

【判斷題】(2分)透射電子顯微鏡不需要在高真空下工作。（）

√A.錯

B.對第三章測試【單選題】(2分)共帶軸的晶面在倒空間中的陣點是（）

√A.共面

B.無規(guī)則

C.共點

D.共線

【單選題】(2分)正空間中孿晶點陣與基體點陣存在對稱關(guān)系，其倒空間點陣（）

√A.存在同樣的鏡面對稱關(guān)系

B.存在鏡面對稱關(guān)系，但對稱性質(zhì)發(fā)生改變

C.完全重合

D.不存在晶面對稱關(guān)系

【單選題】(2分)單晶體的電子衍射花樣本質(zhì)上是（）

√A.垂直于電子束入射方向的零層倒易陣點上的陣點在熒光屏上的投影

B.平行于電子束入射方向的-1層倒易陣點上的陣點在熒光屏上的投影

C.垂直于電子束入射方向的+1層倒易陣點上的陣點在熒光屏上的投影

D.平行于電子束入射方向的零層倒易陣點上的陣點在熒光屏上的投影

【單選題】(2分)一個體心立方晶體，下面哪個衍射斑點()不消光。

A.(201)

√B.（110）

C.(111)

D.（100）

【單選題】(2分)多晶體樣品的衍射花樣特點是（）

A.衍射斑點

B.漫散中心斑點

C.同心暈圓

√D.同心的衍射圓環(huán)

【判斷題】(2分)如果要獲得單晶衍射花樣，首先要有單晶樣品。（）

A.對

√B.錯

【判斷題】(2分)只有不發(fā)生系統(tǒng)消光的晶面才能出現(xiàn)衍射斑點。（）

√A.對

B.錯

【判斷題】(2分)體心點陣中，當(dāng)h+k+l=偶數(shù)的晶面會產(chǎn)生消光。（）

A.對

√B.錯

【判斷題】(2分)電子衍射花樣的標(biāo)定結(jié)果是唯一的。()

√A.錯

B.對

【判斷題】(2分)每一個倒易矢量表示正空間中的一個晶面。（）

A.對

√B.錯第四章測試5【多選題】(2分)在三個假設(shè)的前提下，運動學(xué)理論在處理衍射強(qiáng)度時，采用了兩個基本近似（）

A.衍射近似

√B.柱體近似

√C.雙光束近似

D.圓錐近似

【判斷題】(2分)對于完整晶體，當(dāng)偏離矢量恒定時，厚度改變，會產(chǎn)生等厚條紋襯度。（）

√A.對

B.錯

【判斷題】(2分)衍襯運動學(xué)理論忽略動力學(xué)效應(yīng)，沒有考慮入射波與衍射波的相互作用。（）

A.錯

√B.對

【判斷題】(2分)不存在位錯、第二相粒子等缺陷的晶體，稱為理想晶體或者是完整晶體。（）

√A.對

B.錯

【判斷題】(2分)質(zhì)厚襯度與散射物體不同部位的密度和厚度的差異無關(guān)。（）

√A.錯

B.對第五章測試【單選題】(2分)高分辨電子顯微術(shù)是一種基于（）的成像技術(shù)

A.振幅襯度

√B.相位襯度

C.衍襯襯度

D.質(zhì)厚襯度

【單選題】(2分)高分辨成像的電子束是（）

A.衍射束

√B.透射束+1支或多支衍射束

C.透射束

D.多支衍射束

【單選題】(2分)影響高分辨像襯度的主要因素是（）

A.聚光鏡的球差和欠焦量

B.投影鏡的球差和欠焦量

C.中間鏡的球差和欠焦量

√D.物鏡的球差和欠焦量

【判斷題】(2分)高分辨成像分析試樣的厚度比一般透射電鏡試樣更厚。（）

√A.錯

B.對

【判斷題】(2分)高分辨成像含兩個基本過程，分別對應(yīng)著數(shù)學(xué)上的傅里葉變換和反傅里葉變換。（）

A.錯

√B.對第六章測試【單選題】(2分)電子束作用物質(zhì)的區(qū)域是（）

A.輕元素和重元素都是“梨形”

B.輕元素是“半球形”，重元素是“梨形”

C.輕元素和重元素都是“半球形”

√D.輕元素是“梨形”，重元素是“半球形”

【單選題】(2分)掃描電子顯微鏡隨放大倍數(shù)的增大，電子束直徑（）

√A.變細(xì)、強(qiáng)度增強(qiáng)

B.不變

C.變細(xì)、強(qiáng)度減弱

D.變粗、強(qiáng)度減弱

【單選題】(2分)電子背散射衍射系統(tǒng)的核心是（）

A.應(yīng)用軟件

B.掃描電子顯微鏡

C.控制軟件

√D.衍射譜采集設(shè)備

【判斷題】(2分)掃描電子顯微鏡中電磁透鏡的作用是放大成像。（）

√A.錯

B.對

【判斷題】(2分)與背散射電子作為調(diào)制信號成像的分辨率相比，二次電子成像的分辨率更高。（）

√A.對

B.錯第七章測試【單選題】(2分).電子探針的主要作用是用來進(jìn)行()分析

√A.微區(qū)成分

B.晶體結(jié)構(gòu)

C.表面形貌

D.晶粒尺寸和微觀組織

【判斷題】(2分)電子探針做定量分析時一般不需要進(jìn)行修正。（）

√A.錯

B.對

【判斷題】(2分)電子探針中能譜儀和波譜儀均需長期置于低溫狀態(tài)。（）

A.對

√B.錯

【判斷題】(2分)電子探針中能譜儀的分辨率比波譜儀低。（）

√A.對

B.錯

【判斷題】(2分)電子探針只能用于定性分析，不能用于定量分析。（）

A.對

√B.錯第八章測試【單選題】(2分)俄歇電子的產(chǎn)生通常有三種形式：KLL、LMM、MNN，它涉及到（）

√A.三個能級

B.二個能級

C.一個能級

D.四個能級

【單選題】(2分)下面氣體中，不吸收紅外光的是（）

√A.N2

B.CO2

C.HCl

D.H2O

【單選題】(2分)不能用X射線光電子能譜進(jìn)行分析的是（）

A.樣品元素深度剖析

B.表面元素定量分析

C.表面元素定性分析

√D.微區(qū)元素定性分析

【判斷題】(2分)與電子探針相比，離子探針的分析深度更深。（）

√A.錯

B.對

【判斷題】(2分)與掃描隧道顯微鏡不同，原子力顯微鏡不受樣品導(dǎo)電性質(zhì)的限制。（）

A.錯

√B.對第九章測試【單選題】(2分)對第二相的形狀、大小以及成分進(jìn)行分析的復(fù)型方法是（）

A.塑料一級復(fù)型

B.塑料-碳二級復(fù)型

√C.萃取復(fù)型

D.碳一級復(fù)型

【單選題】(2分)支持膜或復(fù)型薄膜不應(yīng)該顯示出（）

√A.自身組織結(jié)構(gòu)

B.一定的機(jī)械強(qiáng)度

C.導(dǎo)電性

D