2025年探傷工(技師)考試實戰(zhàn)模擬及答案解析一、單項選擇題（共20題，每題2分，共40分）1.超聲波探傷中，當工件厚度為40mm時，采用K2探頭（折射角θ=63.4°）檢測對接焊縫，若聲束在工件中傳播的水平距離為60mm，則聲束在工件中的垂直深度為（）。A.30mmB.25mmC.40mmD.50mm2.射線探傷中，若使用Ir-192源對厚度為30mm的鋼工件進行透照，焦距為600mm，曝光時間為15分鐘，當焦距調(diào)整為900mm時，為保持相同曝光量，曝光時間應調(diào)整為（）。A.22.5分鐘B.33.75分鐘C.10分鐘D.45分鐘3.磁粉探傷中，檢測奧氏體不銹鋼焊縫表面裂紋時，最適宜的磁化方法是（）。A.周向磁化B.縱向磁化C.交叉磁化D.旋轉(zhuǎn)磁場磁化4.滲透探傷中，檢測非多孔性金屬表面的微小裂紋，優(yōu)先選用的滲透劑類型是（）。A.水洗型熒光滲透劑B.后乳化型著色滲透劑C.溶劑去除型熒光滲透劑D.自乳化型著色滲透劑5.根據(jù)GB/T11345-2013《焊縫無損檢測超聲檢測技術(shù)、檢測等級和評定》，B級檢測時，斜探頭掃查覆蓋區(qū)域的寬度應不小于焊縫寬度的（）。A.1倍B.1.2倍C.1.5倍D.2倍6.超聲波探傷儀的“垂直線性”指標主要影響（）。A.缺陷定位精度B.缺陷定量精度C.缺陷定性準確性D.探頭分辨率7.射線探傷中，像質(zhì)計的放置位置應滿足（）。A.放在膠片側(cè)工件表面B.放在射線源側(cè)工件表面C.與焊縫余高齊平D.距離焊縫邊緣5mm8.磁粉探傷時，若采用交流電磁軛法檢測板材對接焊縫，有效檢測區(qū)域的寬度為（）。A.磁極間距的1/4B.磁極間距的1/2C.磁極間距的3/4D.磁極間距的2倍9.滲透探傷中，顯像時間過短可能導致（）。A.缺陷顯示不清晰B.背景污染嚴重C.滲透劑殘留D.乳化過度10.超聲波探傷中，若發(fā)現(xiàn)缺陷波高位于距離-波幅曲線（DAC）的Ⅱ區(qū)，根據(jù)GB/T11345-2013，該缺陷的評定等級為（）。A.Ⅰ級B.Ⅱ級C.Ⅲ級D.Ⅳ級11.射線探傷中，管電壓升高時，射線的（）。A.穿透能力增強，對比度降低B.穿透能力增強，對比度升高C.穿透能力減弱，對比度降低D.穿透能力減弱，對比度升高12.磁粉探傷中，檢測鐵磁性材料近表面缺陷時，應選用（）。A.干法黑磁粉B.濕法紅磁粉C.熒光磁粉D.白磁粉13.滲透探傷的預清洗步驟中，若工件表面有油污，應優(yōu)先使用（）。A.溶劑清洗B.堿性清洗劑C.蒸汽除油D.機械打磨14.超聲波探傷中，雙晶探頭主要用于檢測（）。A.厚大工件的深層缺陷B.薄壁工件的近表面缺陷C.曲面工件的周向缺陷D.復雜形狀工件的體積型缺陷15.射線探傷中，散射線的主要來源是（）。A.工件本身B.射線源屏蔽材料C.膠片暗盒D.周圍空氣16.磁粉探傷中，連續(xù)磁化法與剩磁法的主要區(qū)別是（）。A.磁化電流類型不同B.施加磁粉的時機不同C.磁化方向不同D.退磁要求不同17.滲透探傷中，乳化時間過長會導致（）。A.缺陷顯示過淡B.背景熒光過強C.滲透劑被完全清洗D.顯像劑無法吸附18.超聲波探傷中，若探頭頻率從2.5MHz提高到5MHz，其他條件不變，則（）。A.近場區(qū)長度增加，分辨率提高B.近場區(qū)長度減少，分辨率降低C.近場區(qū)長度增加，分辨率降低D.近場區(qū)長度減少，分辨率提高19.射線探傷中，評定底片時，若缺陷影像的黑度與周圍背景黑度差異小于15%，則該缺陷（）。A.不可見，無需記錄B.可見但需復核C.屬于線性缺陷D.屬于體積型缺陷20.磁粉探傷后，若工件需要后續(xù)機加工，退磁后的剩磁應不大于（）。A.0.2mTB.0.5mTC.1.0mTD.2.0mT二、判斷題（共10題，每題1分，共10分）1.超聲波探傷中，橫波探頭的K值越大，聲束在工件中的擴散角越小。（）2.射線探傷中，增感屏的作用是縮短曝光時間并提高底片對比度。（）3.磁粉探傷時，工件表面的氧化皮會阻礙磁粉聚集，需徹底清除。（）4.滲透探傷中，著色滲透劑的靈敏度高于熒光滲透劑。（）5.GB/T11345-2013中，C級檢測要求比B級更嚴格，掃查方式更全面。（）6.超聲波探傷儀的“動態(tài)范圍”越大，對小缺陷的檢測能力越強。（）7.射線探傷中，一次透照長度越長，底片的幾何不清晰度越小。（）8.磁粉探傷中，交流電磁化的滲透深度比直流電磁化淺。（）9.滲透探傷的干燥步驟中，應使用高溫熱風快速干燥工件表面。（）10.超聲波探傷中，缺陷的當量尺寸等于缺陷的實際尺寸。（）三、簡答題（共4題，每題8分，共32分）1.簡述超聲波探傷中距離-波幅曲線（DAC）的制作步驟及主要作用。2.射線探傷中，如何選擇合適的透照方式（如單壁單影、雙壁單影、雙壁雙影）？需考慮哪些因素？3.磁粉探傷中，連續(xù)法與剩磁法各適用于哪些場景？兩者的操作要點有何不同？4.滲透探傷中，乳化劑的作用是什么？后乳化型滲透劑與水洗型滲透劑在操作流程上的主要區(qū)別是什么？四、案例分析題（共1題，18分）某企業(yè)對一臺16MnR材質(zhì)的壓力容器環(huán)焊縫（厚度δ=30mm）進行超聲波探傷，采用C級檢測要求。檢測參數(shù)如下：探頭為5P13×13K2（頻率5MHz，晶片尺寸13mm×13mm，K值2），儀器為數(shù)字式超聲波探傷儀（垂直線性誤差≤2%，動態(tài)范圍≥36dB），耦合劑為機油，檢測溫度25℃。檢測過程中，在焊縫中心位置（距探頭入射點水平距離L=40mm）發(fā)現(xiàn)一缺陷波，波高為滿刻度的80%，DAC曲線在此深度的基準波高為滿刻度的50%。通過深度定位，缺陷垂直深度為15mm（工件表面為0mm，底面為30mm）。問題：（1）計算該缺陷的當量尺寸（已知DAC曲線制作時，使用Φ2mm橫通孔作為基準反射體，DAC公式為：ΔdB=20lg(Hx/H0)=20lg(x/30)+20lg(2/√(x2+z2))，其中x為水平距離，z為垂直深度，Hx為缺陷波高，H0為基準波高）；（2）根據(jù)GB/T11345-2013，判斷該缺陷的評定等級；（3）若該缺陷為裂紋，應如何處理？說明依據(jù)。---答案及解析一、單項選擇題1.答案：A解析：水平距離L=K×z（z為垂直深度），已知K=2，L=60mm，故z=L/K=60/2=30mm。2.答案：B解析：根據(jù)平方反比定律，曝光時間與焦距平方成正比，t2=t1×(F22/F12)=15×(9002/6002)=15×2.25=33.75分鐘。3.答案：D解析：奧氏體不銹鋼為非鐵磁性材料，無法直接磁化，需采用旋轉(zhuǎn)磁場磁化（適用于表面缺陷）或其他方法，但題目假設為表面裂紋（可能題干隱含工件為鐵磁性，實際應為磁粉不適用，但選項中D為最優(yōu)）。4.答案：C解析：溶劑去除型熒光滲透劑靈敏度高，適用于微小裂紋檢測，且無需乳化，操作靈活。5.答案：C解析：GB/T11345-2013中B級檢測要求掃查寬度不小于焊縫寬度的1.5倍。6.答案：B解析：垂直線性反映儀器輸出信號與輸入信號的線性關系，直接影響缺陷波高測量的準確性（定量）。7.答案：B解析：像質(zhì)計應放在射線源側(cè)工件表面，以反映最嚴格的透照條件（若無法放置則放膠片側(cè)并標記）。8.答案：B解析：交流電磁軛法的有效檢測區(qū)域為磁極間距的1/2，邊緣50mm內(nèi)磁場較弱。9.答案：A解析：顯像時間過短，滲透劑從缺陷中回滲不充分，導致顯示不清晰。10.答案：B解析：GB/T11345-2013中，Ⅱ區(qū)對應Ⅱ級缺陷（波幅位于DAC+0dB～DAC+10dB）。11.答案：A解析：管電壓升高，射線能量增加（穿透能力增強），但對比度降低（因為散射線增多，主因是射線質(zhì)變硬，衰減系數(shù)差減?。?2.答案：C解析：熒光磁粉在暗室中可見度高，適用于近表面缺陷檢測（需配合黑光）。13.答案：A解析：油污優(yōu)先用溶劑清洗（如丙酮），避免堿性清洗劑殘留影響滲透效果。14.答案：B解析：雙晶探頭通過一發(fā)一收，減少近場盲區(qū)，適用于薄壁工件（如≤20mm）的近表面缺陷。15.答案：A解析：散射線主要來自工件本身（康普頓散射），其次是周圍物體。16.答案：B解析：連續(xù)法在磁化同時施加磁粉，剩磁法在磁化后施加磁粉（利用剩磁）。17.答案：C解析：乳化時間過長會導致缺陷內(nèi)的滲透劑被乳化清洗，顯示減弱甚至消失。18.答案：A解析：頻率提高，近場區(qū)長度N=D2/(4λ)增加（λ=c/f減小），同時分辨率（區(qū)分相鄰缺陷的能力）提高。19.答案：A解析：黑度差異小于15%時，人眼無法分辨缺陷影像，無需記錄。20.答案：B解析：機加工前工件剩磁應≤0.5mT，避免吸附鐵屑影響加工精度。二、判斷題1.×（K值越大，擴散角θ=arcsin(1.22λ/D)越大，因為K=tanθ，θ增大則擴散角增大）2.√（增感屏通過電子激發(fā)增感，縮短曝光時間，同時吸收軟射線提高對比度）3.√（氧化皮會阻礙磁粉與缺陷接觸，導致漏檢）4.×（熒光滲透劑在黑光下靈敏度更高）5.√（C級檢測要求更嚴格，掃查方式包括平行、斜平行、交叉掃查等）6.×（動態(tài)范圍越大，儀器可同時顯示大、小缺陷的能力越強，但小缺陷檢測能力主要與靈敏度有關）7.×（一次透照長度越長，透照厚度比增大，幾何不清晰度U=df×b/a（a為焦距，b為工件至膠片距離）增大）8.√（交流電集膚效應明顯，滲透深度淺；直流電滲透深度深）9.×（高溫熱風會導致滲透劑蒸發(fā)，應使用低溫（≤50℃）干燥）10.×（當量尺寸是與缺陷回波等高的標準反射體尺寸，與實際尺寸可能存在差異）三、簡答題1.制作步驟：①選擇與被檢工件材質(zhì)、表面狀態(tài)一致的對比試塊（如CSK-ⅡA）；②在試塊上加工不同深度的橫通孔（如深度30mm、60mm、90mm的Φ2mm孔）；③分別探測各孔，記錄波高；④以深度為橫坐標，波高（dB值）為縱坐標，繪制曲線并延長得到判廢線（DAC+10dB）、定量線（DAC+0dB）、評定線（DAC-10dB）。主要作用：用于缺陷的定量評定（確定缺陷波高所處區(qū)域）和檢測靈敏度的調(diào)整。2.透照方式選擇需考慮：①工件結(jié)構(gòu)（如管道、平板）；②厚度（單壁透照適用于厚度≤80mm，雙壁適用于小徑管）；③檢測效率（雙壁雙影適用于Φ≤100mm的管子）。具體：單壁單影適用于厚大工件（如容器環(huán)縫），射線源和膠片分別置于工件兩側(cè)；雙壁單影適用于小徑管（射線源穿透兩壁后成像）；雙壁雙影適用于更小徑管（一次透照顯示兩條焊縫影像）。3.連續(xù)法適用于：①剩磁較低的材料（如低碳鋼）；②表面開口缺陷；③需要高靈敏度檢測的場景。操作要點：磁化同時施加磁粉，磁化時間≥3秒，停止磁化前完成磁粉施加。剩磁法適用于：①高剩磁材料（如高碳鋼）；②近表面缺陷；③無法連續(xù)磁化的工件（如大型工件分段檢測）。操作要點：先磁化（電流≥0.5秒），再施加磁粉，利用工件剩磁吸附磁粉。4.乳化劑的作用：與滲透劑中的油類成分結(jié)合，使其可被水清洗，避免直接水洗導致缺陷內(nèi)滲透劑被沖掉。后乳化型與水洗型的區(qū)別：水洗型滲透劑含乳化劑（可直接水洗），操作流程為“滲透→水洗→干燥→顯像”；后乳化型滲透劑不含乳化劑，需額外“乳化”步驟（滲透→乳化→水洗→干燥→顯像），乳化時間需嚴格控制（過長會清洗過度）。四、案例分析題（1）當量尺寸計算：已知Hx=80%，H0=50%，ΔdB=20lg(80/50)=20lg(1.6)≈4.08dB。DAC公式：ΔdB=20lg(x/30)+20lg(2/√(x2+z2))。代入x=40mm（水平距離），z=15mm（垂直深度）：右邊=20lg(40/30)+20lg(2/√(402+152))=20lg(1.333)+20lg(2/√(1825))≈20×0.125+20lg(2/42.72)≈2.5+20×(-1.33)=2.5-26.6=-24.1dB。但ΔdB實際為4.08dB，說明缺陷當量大于Φ2mm孔。根據(jù)當量計算，ΔdB=4.08dB=20lg(Φ/2)，解得Φ=2×10^(4.08/20)=2×10^0.204≈2×1.59≈3.18mm，故當量約為Φ3.2mm橫通孔。（2）等級評定：C級檢測時，定量