大賽軟件測(cè)試題及答案

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共20分）

1.軟件測(cè)試的目的是：

A.證明軟件是正確的

B.發(fā)現(xiàn)軟件中的缺陷

C.證明軟件是無(wú)缺陷的

D.證明軟件是不可用的

答案：B

2.黑盒測(cè)試不關(guān)心以下哪項(xiàng)內(nèi)容：

A.輸入數(shù)據(jù)

B.程序內(nèi)部邏輯

C.輸出結(jié)果

D.測(cè)試用例

答案：B

3.以下哪個(gè)不是軟件測(cè)試的階段：

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.維護(hù)測(cè)試

答案：D

4.軟件測(cè)試中，回歸測(cè)試的目的是什么？

A.確保新代碼沒(méi)有引入新的錯(cuò)誤

B.確保軟件滿足用戶需求

C.確保軟件文檔是最新的

D.確保軟件可以在市場(chǎng)上銷(xiāo)售

答案：A

5.以下哪個(gè)不是軟件測(cè)試的原則？

A.測(cè)試顯示存在缺陷

B.窮盡測(cè)試是不可能的

C.早期測(cè)試

D.測(cè)試可以證明軟件是正確的

答案：D

6.軟件測(cè)試中的“測(cè)試用例”是什么？

A.測(cè)試計(jì)劃的文檔

B.測(cè)試執(zhí)行的步驟

C.測(cè)試輸入、執(zhí)行條件、預(yù)期結(jié)果的集合

D.測(cè)試結(jié)果的記錄

答案：C

7.軟件測(cè)試中的“缺陷”是指：

A.軟件中的任何錯(cuò)誤

B.軟件不符合用戶期望

C.軟件不符合設(shè)計(jì)規(guī)格

D.軟件中的任何問(wèn)題

答案：C

8.軟件測(cè)試中的“缺陷密度”是指：

A.缺陷數(shù)量除以代碼行數(shù)

B.缺陷數(shù)量除以測(cè)試用例數(shù)

C.缺陷數(shù)量除以模塊數(shù)

D.缺陷數(shù)量除以測(cè)試時(shí)間

答案：A

9.軟件測(cè)試中的“靜態(tài)測(cè)試”是指：

A.運(yùn)行程序以發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤

B.檢查程序代碼以發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤

C.檢查程序文檔以發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤

D.檢查程序界面以發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤

答案：B

10.軟件測(cè)試中的“動(dòng)態(tài)測(cè)試”是指：

A.檢查程序代碼以發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤

B.運(yùn)行程序以發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤

C.檢查程序文檔以發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤

D.檢查程序界面以發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤

答案：B

二、多項(xiàng)選擇題（每題2分，共20分）

1.軟件測(cè)試的類(lèi)型包括：

A.功能測(cè)試

B.性能測(cè)試

C.安全測(cè)試

D.可用性測(cè)試

答案：ABCD

2.軟件測(cè)試的階段包括：

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

答案：ABCD

3.軟件測(cè)試的原則包括：

A.測(cè)試顯示存在缺陷

B.窮盡測(cè)試是不可能的

C.早期測(cè)試

D.測(cè)試可以證明軟件是正確的

答案：ABC

4.軟件測(cè)試中的“缺陷”可能包括：

A.軟件不符合用戶期望

B.軟件不符合設(shè)計(jì)規(guī)格

C.軟件中的任何問(wèn)題

D.軟件中的任何錯(cuò)誤

答案：ABCD

5.軟件測(cè)試中的“缺陷密度”計(jì)算方法包括：

A.缺陷數(shù)量除以代碼行數(shù)

B.缺陷數(shù)量除以測(cè)試用例數(shù)

C.缺陷數(shù)量除以模塊數(shù)

D.缺陷數(shù)量除以測(cè)試時(shí)間

答案：AC

6.軟件測(cè)試中的“靜態(tài)測(cè)試”可能包括：

A.代碼審查

B.靜態(tài)代碼分析

C.性能測(cè)試

D.代碼走查

答案：ABD

7.軟件測(cè)試中的“動(dòng)態(tài)測(cè)試”可能包括：

A.代碼審查

B.性能測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.單元測(cè)試

答案：BCD

8.軟件測(cè)試的目的可能包括：

A.發(fā)現(xiàn)軟件中的缺陷

B.證明軟件是正確的

C.證明軟件是無(wú)缺陷的

D.證明軟件是可用的

答案：AD

9.軟件測(cè)試中的“回歸測(cè)試”可能包括：

A.確保新代碼沒(méi)有引入新的錯(cuò)誤

B.確保軟件滿足用戶需求

C.確保軟件文檔是最新的

D.確保軟件可以在市場(chǎng)上銷(xiāo)售

答案：A

10.軟件測(cè)試中的“測(cè)試用例”包括：

A.測(cè)試輸入

B.執(zhí)行條件

C.預(yù)期結(jié)果

D.測(cè)試計(jì)劃

答案：ABC

三、判斷題（每題2分，共20分）

1.軟件測(cè)試的目的是證明軟件是正確的。（錯(cuò)誤）

2.黑盒測(cè)試不關(guān)心程序內(nèi)部邏輯。（正確）

3.軟件測(cè)試的階段包括單元測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試。（正確）

4.回歸測(cè)試的目的是確保新代碼沒(méi)有引入新的錯(cuò)誤。（正確）

5.軟件測(cè)試的原則之一是測(cè)試可以證明軟件是正確的。（錯(cuò)誤）

6.軟件測(cè)試中的“測(cè)試用例”是測(cè)試輸入、執(zhí)行條件、預(yù)期結(jié)果的集合。（正確）

7.軟件測(cè)試中的“缺陷”是指軟件不符合設(shè)計(jì)規(guī)格。（正確）

8.軟件測(cè)試中的“缺陷密度”是指缺陷數(shù)量除以代碼行數(shù)。（正確）

9.軟件測(cè)試中的“靜態(tài)測(cè)試”是指檢查程序代碼以發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤。（正確）

10.軟件測(cè)試中的“動(dòng)態(tài)測(cè)試”是指檢查程序代碼以發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤。（錯(cuò)誤）

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共20分）

1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的目的是什么？

答案：軟件測(cè)試的目的是發(fā)現(xiàn)軟件中的缺陷，以確保軟件產(chǎn)品的質(zhì)量，提高軟件的可靠性和穩(wěn)定性。

2.什么是黑盒測(cè)試？請(qǐng)簡(jiǎn)述其特點(diǎn)。

答案：黑盒測(cè)試是一種軟件測(cè)試方法，它不關(guān)心程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和邏輯，只關(guān)注程序的輸入和輸出。其特點(diǎn)是測(cè)試用例基于軟件的功能需求，不需要了解程序的內(nèi)部實(shí)現(xiàn)。

3.軟件測(cè)試的階段有哪些？

答案：軟件測(cè)試的階段包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收測(cè)試。

4.什么是軟件測(cè)試中的“缺陷”？請(qǐng)簡(jiǎn)述其含義。

答案：軟件測(cè)試中的“缺陷”是指軟件產(chǎn)品中不符合設(shè)計(jì)規(guī)格、用戶期望或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的任何問(wèn)題，包括錯(cuò)誤、漏洞、不一致性等。

五、討論題（每題5分，共20分）

1.討論軟件測(cè)試中“測(cè)試用例”的重要性。

答案：測(cè)試用例是軟件測(cè)試的基礎(chǔ)，它們定義了測(cè)試的輸入、執(zhí)行條件和預(yù)期結(jié)果。好的測(cè)試用例可以確保測(cè)試的全面性和有效性，幫助發(fā)現(xiàn)更多的缺陷，提高軟件質(zhì)量。

2.討論軟件測(cè)試中“缺陷密度”的意義。

答案：缺陷密度是衡量軟件質(zhì)量的一個(gè)重要指標(biāo)，它反映了軟件中缺陷的數(shù)量與代碼量的比率。通過(guò)分析缺陷密度，可以評(píng)估軟件的可靠性和開(kāi)發(fā)過(guò)程的效率。

3.討論軟件測(cè)試中的“靜態(tài)測(cè)試”和“動(dòng)態(tài)測(cè)試”的區(qū)別。

答案：靜態(tài)測(cè)試不運(yùn)行程序，主要通過(guò)代碼審查、靜態(tài)代碼分析等方法發(fā)現(xiàn)潛在的缺陷。動(dòng)態(tài)測(cè)試則需要運(yùn)行程序，通過(guò)實(shí)際的輸入和