2025年事業(yè)單位工勤技能-湖南-湖南無損探傷工三級(jí)（高級(jí)工）歷年參考題庫含答案解析(5卷套題【單選100題】)2025年事業(yè)單位工勤技能-湖南-湖南無損探傷工三級(jí)（高級(jí)工）歷年參考題庫含答案解析(篇1)【題干1】根據(jù)GB/T3323-2005標(biāo)準(zhǔn)，碳鋼和低合金鋼的射線檢測(cè)允許未熔合缺陷的最大長(zhǎng)度與寬度之比（長(zhǎng)寬比）應(yīng)為多少？【選項(xiàng)】A.3:1；B.2:1；C.1.5:1；D.1:1【參考答案】C【詳細(xì)解析】根據(jù)GB/T3323-2005規(guī)定，碳鋼和低合金鋼的未熔合缺陷長(zhǎng)寬比允許值為1.5:1。選項(xiàng)A適用于焊縫中氣孔缺陷，B對(duì)應(yīng)夾渣缺陷，D為裂紋的典型長(zhǎng)寬比特征，均不符合題意?！绢}干2】射線檢測(cè)中，焦距（F）與管電壓（V）的關(guān)系式為（V單位為kV，F(xiàn)單位為mm）？【選項(xiàng)】A.F=V2/100；B.F=V/10；C.F=√V；D.F=V2/200【參考答案】D【詳細(xì)解析】射線檢測(cè)焦距計(jì)算公式為F=V2/200（V單位kV，F(xiàn)單位mm）。選項(xiàng)A將分母設(shè)為100，適用于特定設(shè)備參數(shù)；B為經(jīng)驗(yàn)簡(jiǎn)化公式，僅適用于低電壓場(chǎng)景；C未考慮電壓平方關(guān)系，均錯(cuò)誤?！绢}干3】磁粉檢測(cè)中，表面裂紋的檢測(cè)靈敏度等級(jí)應(yīng)至少達(dá)到多少？【選項(xiàng)】A.ASMESA-562E；B.ISO12944-5；C.GB/T20247.3；D.ASTME1444【參考答案】C【詳細(xì)解析】GB/T20247.3規(guī)定磁粉檢測(cè)表面裂紋靈敏度等級(jí)需≥ASMESA-562E-2006標(biāo)準(zhǔn)（F級(jí)）。選項(xiàng)A為具體等級(jí)標(biāo)識(shí)，B為涂層防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)，D為滲透檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，均不直接對(duì)應(yīng)裂紋檢測(cè)要求?！绢}干4】探傷人員執(zhí)行Ⅱ級(jí)資質(zhì)認(rèn)證時(shí)，必須通過哪種專項(xiàng)考核？【選項(xiàng)】A.射線檢測(cè)工藝評(píng)定；B.磁粉檢測(cè)缺陷識(shí)別；C.滲透檢測(cè)黑度評(píng)估；D.探傷機(jī)校準(zhǔn)操作【參考答案】B【詳細(xì)解析】II級(jí)無損檢測(cè)人員需通過對(duì)應(yīng)檢測(cè)方法的缺陷識(shí)別專項(xiàng)考核。射線檢測(cè)對(duì)應(yīng)A選項(xiàng)（工藝評(píng)定），滲透檢測(cè)對(duì)應(yīng)C選項(xiàng)（黑度評(píng)估），校準(zhǔn)操作屬于設(shè)備維護(hù)范疇，均不符合Ⅱ級(jí)資質(zhì)要求?！绢}干5】下列哪種缺陷類型在超聲波檢測(cè)中表現(xiàn)為正負(fù)雙向回波？【選項(xiàng)】A.未熔合；B.夾渣；C.未焊透；D.表面氣孔【參考答案】C【詳細(xì)解析】超聲波檢測(cè)中，未焊透缺陷因兩側(cè)聲阻抗差異會(huì)產(chǎn)生正負(fù)回波。夾渣（A）多為單側(cè)回波，未熔合（B）呈雙回波但相位相反，表面氣孔（D）僅顯示負(fù)回波?！绢}干6】射線檢測(cè)底片黑度調(diào)整時(shí)，若對(duì)比度不足應(yīng)優(yōu)先采取哪種措施？【選項(xiàng)】A.延長(zhǎng)曝光時(shí)間；B.降低管電壓；C.增加透照功率；D.更換高對(duì)比度膠片【參考答案】A【詳細(xì)解析】黑度不足時(shí)，延長(zhǎng)曝光時(shí)間是調(diào)整對(duì)比度的首選方法。降低管電壓（B）會(huì)降低穿透力，增加透照功率（C）可能造成底片過曝，更換膠片（D）需考慮成本與時(shí)效性?！绢}干7】根據(jù)JB/T4730-2005，下列哪種缺陷需進(jìn)行缺陷擴(kuò)展量計(jì)算？【選項(xiàng)】A.表面氣孔；B.疲勞裂紋；C.未熔合；D.夾渣【參考答案】B【詳細(xì)解析】JB/T4730-2005規(guī)定疲勞裂紋必須計(jì)算擴(kuò)展量，其他缺陷如未熔合（C）需評(píng)估長(zhǎng)度，氣孔（A）和夾渣（D）按實(shí)際尺寸驗(yàn)收?！绢}干8】探傷工藝評(píng)定（RPI）中，當(dāng)評(píng)定厚度≤25mm時(shí)，最小試塊尺寸應(yīng)為多少？【選項(xiàng)】A.80mm×60mm；B.150mm×100mm；C.200mm×150mm；D.300mm×200mm【參考答案】A【詳細(xì)解析】RPI標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，評(píng)定厚度≤25mm時(shí)，最小試塊尺寸為80mm×60mm。其他選項(xiàng)對(duì)應(yīng)不同厚度范圍，如B適用于25-50mm，C適用于50-100mm，D適用于100-200mm。【題干9】磁粉檢測(cè)中，使用交流電磁鐵時(shí)，磁化電流的最低值不得低于多少安培？【選項(xiàng)】A.0.5；B.1.0；C.1.5；D.2.0【參考答案】B【詳細(xì)解析】GB/T20247.3規(guī)定，交流電磁鐵磁化電流≥1.0A（直流電磁鐵≥0.5A）。選項(xiàng)A為直流電磁鐵下限值，C和D超出常規(guī)設(shè)備額定范圍?！绢}干10】射線檢測(cè)中，穿透式檢測(cè)的適用標(biāo)準(zhǔn)是？【選項(xiàng)】A.GB/T3323-2005；B.GB/T11343-2013；C.GB/T19579-2009；D.GB/T18871-2008【參考答案】A【詳細(xì)解析】GB/T3323-2005專門針對(duì)穿透式射線檢測(cè)，B為超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，C為磁粉檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，D為電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)?！绢}干11】探傷人員資質(zhì)復(fù)審時(shí)，需提交哪些材料？【選項(xiàng)】A.近三年檢測(cè)報(bào)告；B.培訓(xùn)證明；C.設(shè)備操作記錄；D.質(zhì)量事故處理記錄【參考答案】A【詳細(xì)解析】資質(zhì)復(fù)審要求提交近三年有效檢測(cè)報(bào)告（A）。培訓(xùn)證明（B）屬初始認(rèn)證材料，設(shè)備操作記錄（C）和事故記錄（D）不在此列?！绢}干12】根據(jù)GB/T11343-2013，超聲波檢測(cè)中缺陷回波高度與材料聲阻抗的關(guān)系如何？【選項(xiàng)】A.回波高度與聲阻抗成正比；B.回波高度與聲阻抗成反比；C.無直接關(guān)聯(lián)；D.取決于探頭頻率【參考答案】A【詳細(xì)解析】缺陷回波高度=缺陷聲阻抗差×傳播聲阻抗/材料聲阻抗。當(dāng)材料聲阻抗越高，回波幅度越大，故A正確。B選項(xiàng)與公式矛盾，C和D忽略關(guān)鍵變量?！绢}干13】射線檢測(cè)中，焦距過大會(huì)導(dǎo)致哪種現(xiàn)象？【選項(xiàng)】A.底片黑度不足；B.缺陷邊緣模糊；C.偽影增多；D.檢測(cè)速度降低【參考答案】B【詳細(xì)解析】焦距與幾何模糊度（Δ）關(guān)系為Δ=K√(F/f)，F(xiàn)增加會(huì)擴(kuò)大缺陷投影區(qū)域，導(dǎo)致邊緣模糊。選項(xiàng)A與曝光時(shí)間相關(guān)，C與散射有關(guān)，D是焦距增加的間接結(jié)果?！绢}干14】滲透檢測(cè)中，顯像劑與滲透劑的濃度比通常為多少？【選項(xiàng)】A.1:1；B.1:2；C.1:3；D.1:4【參考答案】C【詳細(xì)解析】GB/T20247.3規(guī)定，顯像劑與滲透劑的體積比應(yīng)為1:3。選項(xiàng)A適用于某些特殊材料，B和D超出常規(guī)配比范圍?！绢}干15】探傷工藝評(píng)定中，當(dāng)評(píng)定厚度＞50mm時(shí)，試塊的最小厚度應(yīng)為多少？【選項(xiàng)】A.50mm；B.60mm；C.80mm；D.100mm【參考答案】C【詳細(xì)解析】JB/T4730-2005規(guī)定，評(píng)定厚度＞50mm時(shí)，試塊最小厚度為80mm。選項(xiàng)B適用于50-80mm范圍，D為100-150mm標(biāo)準(zhǔn)?！绢}干16】磁粉檢測(cè)中，使用濕法檢測(cè)時(shí)，磁化時(shí)間不得少于多少秒？【選項(xiàng)】A.30；B.60；C.90；D.120【參考答案】B【詳細(xì)解析】GB/T20247.3規(guī)定濕法檢測(cè)磁化時(shí)間≥60秒，干法檢測(cè)≥30秒。選項(xiàng)A為干法下限值，C和D超出常規(guī)操作時(shí)間?！绢}干17】根據(jù)GB/T19579-2009，滲透檢測(cè)的滲透時(shí)間與滲透劑類型的關(guān)系如何？【選項(xiàng)】A.滲透劑滲透時(shí)間與材料孔隙率成正比；B.滲透劑滲透時(shí)間與材料孔隙率成反比；C.無關(guān)聯(lián)；D.取決于溫度【參考答案】A【詳細(xì)解析】材料孔隙率越高，滲透劑滲透時(shí)間越長(zhǎng)，故A正確。B選項(xiàng)與實(shí)際情況相反，C和D忽略孔隙率的關(guān)鍵作用。【題干18】射線檢測(cè)中，對(duì)比度不足的主要原因是？【選項(xiàng)】A.焦距過??；B.曝光時(shí)間不足；C.管電壓過高；D.透照功率不足【參考答案】B【詳細(xì)解析】曝光時(shí)間不足會(huì)導(dǎo)致膠片感光不充分，對(duì)比度降低。選項(xiàng)A（焦距過?。?huì)增大幾何模糊，C（管電壓過高）可能造成透照過度，D（透照功率不足）與設(shè)備性能相關(guān)?！绢}干19】探傷人員執(zhí)行Ⅰ級(jí)資質(zhì)認(rèn)證時(shí)，需通過哪些專項(xiàng)考核？【選項(xiàng)】A.射線檢測(cè)工藝評(píng)定；B.磁粉檢測(cè)缺陷識(shí)別；C.滲透檢測(cè)黑度評(píng)估；D.探傷機(jī)校準(zhǔn)操作【參考答案】A【詳細(xì)解析】Ⅰ級(jí)資質(zhì)要求掌握工藝評(píng)定，Ⅱ級(jí)（B）和Ⅲ級(jí)（C、D）對(duì)應(yīng)不同檢測(cè)方法。校準(zhǔn)操作（D）屬于設(shè)備維護(hù)范疇，不納入資質(zhì)考核?！绢}干20】根據(jù)GB/T18871-2008，X射線探傷機(jī)的最大允許漏電流不得大于多少微安？【選項(xiàng)】A.0.5；B.1.0；C.2.0；D.5.0【參考答案】A【詳細(xì)解析】GB/T18871-2008規(guī)定X射線設(shè)備最大漏電流≤0.5μA。選項(xiàng)B為CT設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)，C和D超出安全限值。2025年事業(yè)單位工勤技能-湖南-湖南無損探傷工三級(jí)（高級(jí)工）歷年參考題庫含答案解析(篇2)【題干1】無損探傷中，射線探傷的穿透能力主要取決于以下哪個(gè)因素？【選項(xiàng)】A.射線波長(zhǎng)B.膠片靈敏度C.源強(qiáng)度D.被檢材料厚度【參考答案】C【詳細(xì)解析】射線探傷的穿透能力由源強(qiáng)度（如X射線或γ射線的強(qiáng)度）決定，源強(qiáng)度越高，穿透被檢材料的能力越強(qiáng)。選項(xiàng)A射線波長(zhǎng)影響散射程度，B膠片靈敏度影響成像清晰度，D被檢材料厚度需與源強(qiáng)度匹配，但非決定性因素?！绢}干2】超聲探傷中，橫波（SV波）的傳播方向與表面夾角通常為多少度？【選項(xiàng)】A.0°B.30°C.60°D.90°【參考答案】B【詳細(xì)解析】橫波傳播方向需與被檢表面形成30°夾角，以垂直入射檢測(cè)內(nèi)部缺陷。0°為縱波（LV波）傳播方向，60°和90°易導(dǎo)致聲束偏離檢測(cè)面，降低檢測(cè)效率?！绢}干3】在磁粉檢測(cè)中，使用直流磁場(chǎng)時(shí)，磁化方向應(yīng)與工件的哪個(gè)方向一致？【選項(xiàng)】A.縱向B.橫向C.任意方向D.磁感線方向【參考答案】D【詳細(xì)解析】直流磁場(chǎng)磁化方向需與磁感線方向一致，確保磁場(chǎng)均勻覆蓋工件?？v向或橫向僅適用于特定形狀工件，任意方向無法保證檢測(cè)全面性。【題干4】射線探傷中，膠片-增感屏組合的曝光時(shí)間與哪些因素?zé)o關(guān)？【選項(xiàng)】A.源強(qiáng)度B.膠片靈敏度C.被檢厚度D.環(huán)境溫度【參考答案】D【詳細(xì)解析】曝光時(shí)間由源強(qiáng)度、膠片靈敏度及被檢厚度共同決定，環(huán)境溫度影響膠片化學(xué)性能，但非直接計(jì)算參數(shù)。需根據(jù)經(jīng)驗(yàn)公式調(diào)整時(shí)間，而非溫度?！绢}干5】滲透檢測(cè)中，清洗滲透劑時(shí)，若使用有機(jī)溶劑，應(yīng)避免哪種清洗劑？【選項(xiàng)】A.蒸餾水B.丙酮C.汽油D.乙醇【參考答案】C【詳細(xì)解析】汽油屬非極性溶劑，可能與滲透劑（如乳液型）發(fā)生相分離，導(dǎo)致清洗不徹底。丙酮和乙醇為極性溶劑，乙醇需與水混合使用。蒸餾水僅適用于乳化型滲透劑清洗?！绢}干6】超聲檢測(cè)中，當(dāng)發(fā)現(xiàn)回波幅度突然升高且持續(xù)時(shí)間短，可能指示什么缺陷類型？【選項(xiàng)】A.疲勞裂紋B.未熔合C.表面凹坑D.雜質(zhì)氣孔【參考答案】B【詳細(xì)解析】未熔合缺陷因晶界結(jié)合不牢，反射聲波能量高且衰減快，表現(xiàn)為短暫高幅回波。疲勞裂紋回波幅度高但持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)，表面凹坑回波幅度低，雜質(zhì)氣孔呈彌散回波。【題干7】磁粉檢測(cè)中，使用熒光磁粉時(shí)，工件表面磁化后應(yīng)立即進(jìn)行什么操作？【選項(xiàng)】A.噴砂處理B.噴涂磁粉C.照射紫外線D.磁化保持【參考答案】C【詳細(xì)解析】熒光磁粉需在磁化后立即用紫外線照射，使其發(fā)光顯示缺陷。噴砂處理會(huì)破壞表面，噴涂磁粉過早易脫落，磁化保持需持續(xù)通電。【題干8】射線探傷中，確定像質(zhì)計(jì)（工業(yè)透照像質(zhì)計(jì)）的靈敏度等級(jí)時(shí)，主要依據(jù)什么參數(shù)？【選項(xiàng)】A.膠片速度B.增感屏類型C.源像距比D.被檢材料厚度【參考答案】C【詳細(xì)解析】靈敏度等級(jí)由源像距比（S/d）決定，S為源到膠片的距離，d為工件厚度。膠片速度（A）和增感屏類型（B）影響成像質(zhì)量，但不直接決定靈敏度等級(jí)?！绢}干9】在滲透檢測(cè)中，滲透劑滲透時(shí)間不足可能導(dǎo)致哪種現(xiàn)象？【選項(xiàng)】A.表面殘留B.缺陷顯示模糊C.滲透劑流失D.清洗困難【參考答案】B【詳細(xì)解析】滲透時(shí)間不足會(huì)導(dǎo)致滲透劑無法充分滲入缺陷根部，形成“淺滲透”，使缺陷顯示模糊。表面殘留（A）多因清洗不徹底，滲透劑流失（C）與時(shí)間過長(zhǎng)相關(guān)，清洗困難（D）是后續(xù)問題?！绢}干10】超聲檢測(cè)中，調(diào)整探頭頻率時(shí)，若工件厚度增加，應(yīng)如何操作？【選項(xiàng)】A.提高頻率B.降低頻率C.保持頻率D.更換探頭【參考答案】B【詳細(xì)解析】探頭頻率與工件厚度成反比關(guān)系，厚度越大需降低頻率以匹配波長(zhǎng)（λ=λ0/f），保證聲束穿透力。提高頻率（A）會(huì)導(dǎo)致聲束衰減過快，無法檢測(cè)深層缺陷?！绢}干11】磁粉檢測(cè)中，工件表面粗糙度超過Ra4.0μm時(shí)，檢測(cè)前應(yīng)進(jìn)行什么處理？【選項(xiàng)】A.噴砂處理B.砂紙打磨C.超聲清洗D.磁化保持【參考答案】A【詳細(xì)解析】Ra4.0μm的粗糙度需通過噴砂處理（噴砂粒度≤50μm）或機(jī)械打磨使表面粗糙度≤Ra1.6μm，以確保磁粉吸附均勻。超聲清洗（C）僅能去除油污，磁化保持（D）不影響表面處理?！绢}干12】射線探傷中，使用AgI/X射線膠片時(shí)，暗室處理的關(guān)鍵控制參數(shù)是？【選項(xiàng)】A.顯影時(shí)間B.定影液濃度C.暗室溫度D.增感屏壓力【參考答案】A【詳細(xì)解析】AgI/X射線膠片對(duì)顯影時(shí)間敏感，需嚴(yán)格按標(biāo)準(zhǔn)曲線控制（如D-19配方顯影時(shí)間1-2分鐘）。定影液濃度（B）影響殘留銀顆粒，溫度（C）和增感屏壓力（D）影響成像清晰度，但非關(guān)鍵參數(shù)。【題干13】滲透檢測(cè)中，使用水清洗時(shí)，清洗次數(shù)通常為多少次？【選項(xiàng)】A.1次B.2次C.3次D.4次【參考答案】C【詳細(xì)解析】水清洗需進(jìn)行3次，每次間隔10-15分鐘，確保滲透劑和顯像劑徹底去除。1次（A）無法完全清洗，2次（B）可能殘留表面污染物，4次（D）效率低下?！绢}干14】超聲檢測(cè)中，當(dāng)發(fā)現(xiàn)A型脈沖波幅值異常升高，可能指示什么缺陷？【選項(xiàng)】A.未熔合B.表面裂紋C.雜質(zhì)氣孔D.疲勞裂紋【參考答案】A【詳細(xì)解析】未熔合缺陷因晶界結(jié)合不牢固，反射聲波能量高，表現(xiàn)為A型脈沖幅值顯著升高。表面裂紋（B）為B型脈沖信號(hào)，雜質(zhì)氣孔（C）呈彌散回波，疲勞裂紋（D）幅值高但衰減快。【題干15】射線探傷中，確定射線膠片的黑度時(shí)，主要依據(jù)什么標(biāo)準(zhǔn)？【選項(xiàng)】A.像質(zhì)計(jì)字跡B.工件底材C.環(huán)境光強(qiáng)D.源強(qiáng)度【參考答案】A【詳細(xì)解析】黑度標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T3323-2005）以像質(zhì)計(jì)字跡清晰度為準(zhǔn)，需滿足“4.0級(jí)”以上。工件底材（B）影響對(duì)比度，環(huán)境光強(qiáng)（C）需控制為零，源強(qiáng)度（D）影響像質(zhì)計(jì)靈敏度?！绢}干16】在磁粉檢測(cè)中，若工件表面出現(xiàn)綠色熒光顯示，可能說明存在什么問題？【選項(xiàng)】A.磁化不足B.磁粉失效C.清洗不徹底D.顯像劑過期【參考答案】C【詳細(xì)解析】清洗不徹底會(huì)導(dǎo)致殘留油污或雜質(zhì)吸附磁粉，形成綠色熒光背景噪聲。磁化不足（A）會(huì)降低吸附能力，磁粉失效（B）呈暗色，顯像劑過期（D）影響缺陷顯示?！绢}干17】超聲檢測(cè)中，調(diào)整增益旋鈕至最大時(shí)，可能引發(fā)什么風(fēng)險(xiǎn)？【選項(xiàng)】A.漏探B.假傷C.探傷效率降低D.探頭損壞【參考答案】B【詳細(xì)解析】增益過高會(huì)導(dǎo)致噪聲掩蓋缺陷回波，產(chǎn)生“假傷”（B）。漏探（A）因增益不足，探傷效率降低（C）因調(diào)整頻繁，探頭損壞（D）需避免機(jī)械撞擊?！绢}干18】射線探傷中，使用熱釋光膠片時(shí)，暗室處理前需進(jìn)行什么操作？【選項(xiàng)】A.照射紫外線B.壓力包裝C.恒溫處理D.真空封裝【參考答案】C【詳細(xì)解析】熱釋光膠片需在恒溫暗室（20±2℃）中曝光1-2小時(shí)，待熱釋光效應(yīng)穩(wěn)定后顯影。紫外線照射（A）會(huì)破壞膠片性能，壓力包裝（B）和真空封裝（D）不適用?！绢}干19】滲透檢測(cè)中，使用熒光磁粉時(shí)，缺陷顯示的最小尺寸通常為多少？【選項(xiàng)】A.0.5mmB.1.0mmC.1.5mmD.2.0mm【參考答案】A【詳細(xì)解析】熒光磁粉對(duì)微缺陷敏感，可檢測(cè)0.5mm（A）以上裂紋。1.0mm（B）為磁粉檢測(cè)的常規(guī)下限，1.5mm（C）和2.0mm（D）需使用高靈敏度探傷劑?！绢}干20】在超聲檢測(cè)中，若工件內(nèi)部反射波幅度與底波幅度接近，可能指示什么缺陷？【選項(xiàng)】A.未熔合B.穿透性裂紋C.未焊透D.雜質(zhì)氣孔【參考答案】B【詳細(xì)解析】穿透性裂紋（B）的反射波幅度接近底波，因裂紋貫穿整個(gè)工件。未熔合（A）和未焊透（C）為局部缺陷，反射波幅度較低。雜質(zhì)氣孔（D）呈彌散回波。2025年事業(yè)單位工勤技能-湖南-湖南無損探傷工三級(jí)（高級(jí)工）歷年參考題庫含答案解析(篇3)【題干1】在磁粉檢測(cè)中，若工件表面存在與磁化方向垂直的裂紋，應(yīng)選用哪種磁粉類型？【選項(xiàng)】A.塊狀磁粉B.粉末狀磁粉C.帶狀磁粉D.液態(tài)磁粉【參考答案】B【詳細(xì)解析】磁粉檢測(cè)中，粉末狀磁粉適用于表面開口的缺陷，尤其是與磁化方向垂直的裂紋。塊狀磁粉多用于大間距缺陷，帶狀磁粉適用于深而窄的缺陷，液態(tài)磁粉用于非磁性材料檢測(cè)，故選B?！绢}干2】超聲波檢測(cè)中，缺陷反射體的長(zhǎng)度與聲程的百分比稱為？【選項(xiàng)】A.缺陷反射率B.缺陷回波高度C.缺陷定量等級(jí)D.缺陷反射體長(zhǎng)度比【參考答案】D【詳細(xì)解析】缺陷反射體長(zhǎng)度比（K）是超聲波檢測(cè)定量指標(biāo)，計(jì)算公式為K=缺陷反射體長(zhǎng)度/聲程長(zhǎng)度×100%，與回波高度無關(guān)，故選D。【題干3】射線檢測(cè)中，底片灰霧度過高會(huì)導(dǎo)致？【選項(xiàng)】A.增加檢測(cè)靈敏度B.降低對(duì)比度C.疏散金屬熒光D.減少散射輻射【參考答案】B【詳細(xì)解析】灰霧度過高會(huì)降低底片對(duì)比度，使缺陷影像與背景界限模糊，需通過控制膠片處理時(shí)間或使用更高感度膠片改善，故選B?！绢}干4】滲透檢測(cè)中，清洗劑的選擇原則不包括？【選項(xiàng)】A.與滲透劑相容性B.能有效去除油污C.不損傷工件表面D.產(chǎn)生明顯清潔泡沫【參考答案】D【詳細(xì)解析】清洗劑需滿足A、B、C項(xiàng)要求，但清潔泡沫多少與清洗效果無直接關(guān)聯(lián)，故選D。【題干5】在超聲波檢測(cè)中，當(dāng)接收探頭與發(fā)射探頭在同一位置時(shí)，稱為？【選項(xiàng)】A.碰頭法B.斜射法C.反射法D.透射法【參考答案】A【詳細(xì)解析】碰頭法適用于檢測(cè)表面或近表面缺陷，此時(shí)發(fā)射與接收探頭位置重合，故選A?！绢}干6】關(guān)于熒光磁粉檢測(cè)的描述，錯(cuò)誤的是？【選項(xiàng)】A.需在暗環(huán)境中觀察B.磁化電流頻率應(yīng)低于50HzC.磁粉需在工件表面形成連續(xù)熒光線D.檢測(cè)后需立即清洗磁粉【參考答案】C【詳細(xì)解析】熒光磁粉檢測(cè)需在暗環(huán)境中進(jìn)行，但熒光線應(yīng)為離散亮點(diǎn)而非連續(xù)線條，故選C?！绢}干7】射線檢測(cè)中，焦距過大會(huì)導(dǎo)致？【選項(xiàng)】A.增大焦距誤差B.缺陷影像模糊C.提高穿透能力D.減少散射輻射【參考答案】B【詳細(xì)解析】焦距過大會(huì)導(dǎo)致幾何畸變，使缺陷影像邊緣模糊，需通過調(diào)整焦距或使用補(bǔ)償器改善，故選B?！绢}干8】磁粉檢測(cè)中，若工件表面清潔度不足，應(yīng)優(yōu)先采取哪種處理措施？【選項(xiàng)】A.噴砂處理B.化學(xué)清洗C.熱處理D.磁化處理【參考答案】B【詳細(xì)解析】化學(xué)清洗可有效去除油污、銹跡等污染物，是清潔度不足的首選措施，故選B?！绢}干9】超聲波檢測(cè)中，當(dāng)缺陷回波幅度超過基準(zhǔn)線的80%時(shí)，應(yīng)判定為？【選項(xiàng)】A.I級(jí)合格B.II級(jí)合格C.III級(jí)合格D.IV級(jí)不合格【參考答案】D【詳細(xì)解析】缺陷回波超過基準(zhǔn)線80%時(shí)，表明缺陷反射強(qiáng)度過大，需判定為不合格（IV級(jí)），故選D?！绢}干10】滲透檢測(cè)中，滲透時(shí)間不足會(huì)導(dǎo)致？【選項(xiàng)】A.滲透劑未充分滲透B.基準(zhǔn)線清晰C.清洗劑殘留減少D.缺陷顯示模糊【參考答案】D【詳細(xì)解析】滲透時(shí)間不足會(huì)導(dǎo)致滲透劑未完全進(jìn)入缺陷，清洗后缺陷顯示不清晰，故選D?！绢}干11】在射線檢測(cè)中，為了減少散亂輻射的影響，應(yīng)如何調(diào)整膠片屏距離？【選項(xiàng)】A.縮短膠片與屏蔽屏距離B.延長(zhǎng)膠片與屏蔽屏距離C.保持膠片與屏蔽屏固定距離D.取消屏蔽屏【參考答案】B【詳細(xì)解析】延長(zhǎng)膠片與屏蔽屏距離可減少散亂輻射對(duì)底片的干擾，故選B?！绢}干12】關(guān)于超聲波檢測(cè)的聲束折射現(xiàn)象，描述正確的是？【選項(xiàng)】A.聲束在材料中直線傳播B.聲束遇到界面時(shí)發(fā)生偏轉(zhuǎn)C.聲速與材料密度成正比D.聲壓隨傳播距離均勻衰減【參考答案】B【詳細(xì)解析】聲束在材料中傳播時(shí)會(huì)因界面折射發(fā)生偏轉(zhuǎn)，這是超聲波檢測(cè)的基本特性，故選B?！绢}干13】在磁粉檢測(cè)中，若工件表面存在與磁化方向平行的裂紋，應(yīng)選用哪種磁化方式？【選項(xiàng)】A.縱向磁化B.橫向磁化C.環(huán)形磁化D.多向磁化【參考答案】C【詳細(xì)解析】環(huán)形磁化適用于檢測(cè)與磁化方向平行的表面裂紋，縱向磁化適用于垂直裂紋，故選C?！绢}干14】射線檢測(cè)中，若底片上出現(xiàn)密集黑斑，可能由哪種原因引起？【選項(xiàng)】A.工件表面粗糙B.屏蔽屏老化C.焦距調(diào)整不當(dāng)D.?照相機(jī)曝光時(shí)間過長(zhǎng)【參考答案】B【詳細(xì)解析】屏蔽屏老化會(huì)導(dǎo)致鉛層孔隙率增加，使散亂輻射穿透導(dǎo)致底片灰霧或黑斑，故選B?！绢}干15】在滲透檢測(cè)中，若清洗劑干燥過快，會(huì)導(dǎo)致？【選項(xiàng)】A.清洗不徹底B.基準(zhǔn)線清晰C.缺陷顯示模糊D.磁粉附著力增強(qiáng)【參考答案】A【詳細(xì)解析】清洗劑干燥過快會(huì)導(dǎo)致滲透劑和油污未完全清除，使基準(zhǔn)線顯示不完整，故選A。【題干16】關(guān)于超聲波檢測(cè)的K值計(jì)算，以下哪種情況會(huì)增大K值？【選項(xiàng)】A.缺陷長(zhǎng)度增加B.聲程縮短C.材料聲速降低D.缺陷深度增加【參考答案】B【詳細(xì)解析】K=缺陷長(zhǎng)度/聲程×100%，聲程縮短會(huì)直接導(dǎo)致K值增大，故選B?！绢}干17】在射線檢測(cè)中，若工件厚度超過標(biāo)準(zhǔn)范圍，應(yīng)如何調(diào)整曝光參數(shù)？【選項(xiàng)】A.增大膠片屏距離B.降低電壓C.延長(zhǎng)曝光時(shí)間D.使用更高感度膠片【參考答案】C【詳細(xì)解析】工件過厚需延長(zhǎng)曝光時(shí)間以增加射線能量沉積，故選C?！绢}干18】關(guān)于磁粉檢測(cè)的清洗時(shí)間，正確的說法是？【選項(xiàng)】A.清洗時(shí)間越長(zhǎng)越好B.需在滲透劑干燥后立即清洗C.清洗時(shí)間與清洗劑類型無關(guān)D.清洗后應(yīng)立即進(jìn)行磁化【參考答案】B【詳細(xì)解析】清洗時(shí)間需控制在滲透劑干燥后30秒內(nèi)完成，過早過晚均會(huì)影響檢測(cè)效果，故選B?！绢}干19】在超聲波檢測(cè)中，若缺陷回波幅度接近基準(zhǔn)線，應(yīng)判定為？【選項(xiàng)】A.I級(jí)合格B.II級(jí)合格C.III級(jí)合格D.IV級(jí)不合格【參考答案】C【詳細(xì)解析】缺陷回波幅度在基準(zhǔn)線20%-80%時(shí)判定為III級(jí)合格，故選C?！绢}干20】關(guān)于熒光磁粉檢測(cè)的描述，正確的是？【選項(xiàng)】A.需在強(qiáng)光下觀察熒光B.磁化電流頻率應(yīng)高于50HzC.檢測(cè)后需用酒精清洗D.熒光粉需在工件表面形成連續(xù)條紋【參考答案】C【詳細(xì)解析】熒光檢測(cè)需在暗環(huán)境中進(jìn)行，檢測(cè)后需用酒精清洗殘留磁粉，故選C。2025年事業(yè)單位工勤技能-湖南-湖南無損探傷工三級(jí)（高級(jí)工）歷年參考題庫含答案解析(篇4)【題干1】在超聲波探傷中，當(dāng)使用橫波進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，探頭與工件表面的接觸角度通常為多少度？【選項(xiàng)】A.0°B.30°C.60°D.90°【參考答案】B【詳細(xì)解析】橫波檢測(cè)時(shí)，探頭與工件表面的接觸角度通常為30°，以確保橫波在工件內(nèi)形成正確的傳播路徑。0°為縱波檢測(cè)角度，60°和90°不符合橫波入射角要求，易導(dǎo)致聲束偏移或檢測(cè)盲區(qū)?！绢}干2】以下哪種缺陷類型在磁粉檢測(cè)中無法有效顯示？【選項(xiàng)】A.表面裂紋B.穿透性氣孔C.表面夾渣D.心部未熔合【參考答案】D【詳細(xì)解析】磁粉檢測(cè)主要針對(duì)表面或近表面缺陷，如裂紋、氣孔和夾渣。心部未熔合屬于內(nèi)部缺陷，需通過X射線或滲透檢測(cè)發(fā)現(xiàn)，磁粉無法滲透至心部?！绢}干3】在射線檢測(cè)中，用于計(jì)算膠片黑度與膠片厚度關(guān)系的曲線稱為？【選項(xiàng)】A.靈敏度曲線B.熔化曲線C.熔斷曲線D.靈敏度-厚度曲線【參考答案】D【詳細(xì)解析】射線檢測(cè)中，靈敏度-厚度曲線（S-T曲線）用于確定膠片黑度與材料厚度及缺陷密度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，其他選項(xiàng)與檢測(cè)參數(shù)無關(guān)?！绢}干4】以下哪種探傷方法適用于檢測(cè)金屬材料的內(nèi)部分層缺陷？【選項(xiàng)】A.超聲波檢測(cè)B.液體滲透檢測(cè)C.磁粉檢測(cè)D.射線檢測(cè)【參考答案】A【詳細(xì)解析】超聲波檢測(cè)通過反射波識(shí)別分層缺陷，因其方向性聲束可精準(zhǔn)定位內(nèi)部結(jié)構(gòu)異常。其他方法僅適用于表面或特定缺陷類型。【題干5】在磁粉檢測(cè)中，使用直流電源時(shí)，磁化方向應(yīng)與缺陷方向如何關(guān)系？【選項(xiàng)】A.平行B.垂直C.任意角度D.45°【參考答案】B【詳細(xì)解析】直流磁化需垂直于缺陷方向，以形成閉合磁路并增強(qiáng)缺陷處的磁粉聚集。平行或任意角度會(huì)導(dǎo)致磁化不足，降低檢測(cè)靈敏度?！绢}干6】射線檢測(cè)中，膠片曝光時(shí)間與以下哪個(gè)參數(shù)成正比？【選項(xiàng)】A.焦距B.管電壓C.曝光時(shí)間D.膠片速度【參考答案】C【詳細(xì)解析】曝光時(shí)間直接決定膠片與輻射的相互作用時(shí)長(zhǎng)，管電壓影響輻射能量，膠片速度影響感光靈敏度，三者共同決定黑度，但曝光時(shí)間與黑度呈正相關(guān)。【題干7】在超聲波檢測(cè)中，若發(fā)現(xiàn)回波幅度異常升高，可能表明工件存在什么缺陷？【選項(xiàng)】A.裂紋B.氣孔C.未熔合D.表面劃痕【參考答案】C【詳細(xì)解析】回波幅度升高通常對(duì)應(yīng)高密度反射體，如未熔合或未焊透區(qū)域，裂紋和氣孔會(huì)導(dǎo)致回波幅度降低或分散。表面劃痕因尺寸小，可能被儀器濾除?！绢}干8】磁粉檢測(cè)中，使用熒光磁粉時(shí)，需在何種條件下觀察缺陷？【選項(xiàng)】A.黑光照射B.白光照射C.紅外光照射D.自然光【參考答案】A【詳細(xì)解析】熒光磁粉需在365nm紫外黑光下激發(fā)發(fā)光，顯示熒光色斑。白光、紅外光和自然光無法激發(fā)熒光，導(dǎo)致無法觀察缺陷?！绢}干9】射線檢測(cè)中，當(dāng)管電壓為120kV時(shí)，適用于檢測(cè)的金屬厚度范圍約為？【選項(xiàng)】A.≤3mmB.3-10mmC.10-50mmD.>50mm【參考答案】B【詳細(xì)解析】120kV射線能量適用于中等厚度金屬（3-10mm），過高或過低的電壓會(huì)導(dǎo)致穿透力不足或散射過強(qiáng)，影響檢測(cè)質(zhì)量?！绢}干10】超聲波檢測(cè)中，若聲束在工件內(nèi)多次反射形成回波，可能由什么原因引起？【選項(xiàng)】A.材料不均勻B.缺陷存在C.工件過厚D.探頭頻率過高【參考答案】C【詳細(xì)解析】工件過厚會(huì)導(dǎo)致聲束衰減嚴(yán)重，反射波能量分散，形成多次回波。材料不均勻可能引起散射，但通常表現(xiàn)為彌散回波而非規(guī)律性反射?！绢}干11】在滲透檢測(cè)中，清洗時(shí)間不足會(huì)導(dǎo)致什么后果？【選項(xiàng)】A.磁粉無法吸附B.缺陷顯示不清晰C.清洗劑殘留D.檢測(cè)時(shí)間延長(zhǎng)【參考答案】B【詳細(xì)解析】清洗不徹底會(huì)導(dǎo)致磁粉被油污吸附或覆蓋缺陷，使顯示模糊。殘留清洗劑可能干擾后續(xù)磁化或影響結(jié)果判定?！绢}干12】射線檢測(cè)中，用于評(píng)估膠片黑度與缺陷可見性的標(biāo)準(zhǔn)是？【選項(xiàng)】A.ASMEE1444B.GB/T3323C.ISO5817D.ASTME1444【參考答案】A【詳細(xì)解析】ASMEE1444（美國標(biāo)準(zhǔn)）和ASTME1444（美國標(biāo)準(zhǔn)）均涉及射線檢測(cè)影像質(zhì)量評(píng)估，但GB/T3323（中國標(biāo)準(zhǔn)）和ISO5817（焊接標(biāo)準(zhǔn)）不直接針對(duì)膠片黑度?！绢}干13】超聲波檢測(cè)中，若探頭與工件接觸不良，可能引起什么現(xiàn)象？【選項(xiàng)】A.回波幅度降低B.脈沖寬度變寬C.儀器報(bào)警D.回波頻率變化【參考答案】B【詳細(xì)解析】接觸不良會(huì)導(dǎo)致聲束衰減，反射波脈沖寬度變寬（時(shí)間延長(zhǎng)），幅度降低。儀器報(bào)警通常與過載或故障相關(guān)，頻率變化由材料或探頭故障引起?！绢}干14】在磁粉檢測(cè)中，使用交流電源磁化時(shí)，磁化方向應(yīng)與缺陷方向如何關(guān)系？【選項(xiàng)】A.平行B.垂直C.任意角度D.45°【參考答案】A【詳細(xì)解析】交流磁化需平行于缺陷方向，以形成閉合磁路并集中磁通，垂直或任意角度會(huì)降低缺陷處的磁化強(qiáng)度。【題干15】射線檢測(cè)中，若膠片黑度過低，可能通過以下哪種方法改善？【選項(xiàng)】A.增加管電壓B.降低曝光時(shí)間C.使用高感光膠片D.調(diào)整焦距【參考答案】C【詳細(xì)解析】高感光膠片（如ISO400以上）可減少曝光時(shí)間，同時(shí)提升黑度。增加管電壓會(huì)提高輻射能量，可能加劇散射，降低對(duì)比度。【題干16】超聲波檢測(cè)中，若發(fā)現(xiàn)回波延遲時(shí)間異常，可能表明工件存在什么缺陷？【選項(xiàng)】A.表面裂紋B.穿透性氣孔C.未熔合D.表面劃痕【參考答案】C【詳細(xì)解析】回波延遲時(shí)間與聲程相關(guān)，未熔合或未焊透會(huì)導(dǎo)致聲束路徑延長(zhǎng)，反射波出現(xiàn)時(shí)間延遲。裂紋和氣孔的反射波延遲時(shí)間與正常組織接近?！绢}干17】在滲透檢測(cè)中，濕法清洗主要用于什么場(chǎng)景？【選項(xiàng)】A.粉末狀污染物B.油性污染物C.粘性膠體D.粉末狀鹽分【參考答案】B【詳細(xì)解析】濕法清洗（如水沖洗）適用于油性污染物，因其可溶解油脂。粉末狀鹽分需用干法（如棉紗擦拭）或化學(xué)清洗劑處理，粘性膠體需專用溶劑。【題干18】射線檢測(cè)中，若工件存在輕微夾渣，哪種膠片類型更易顯示缺陷？【選項(xiàng)】A.膠片B.膠片+增感屏C.數(shù)字成像板D.云室【參考答案】B【詳細(xì)解析】膠片+增感屏可提高對(duì)比度，更易捕捉微小夾渣的陰影。數(shù)字成像板（DIP）靈敏度更高，但需設(shè)備支持；云室用于核工業(yè)，不適用于常規(guī)檢測(cè)?！绢}干19】超聲波檢測(cè)中，若發(fā)現(xiàn)多次反射回波，可能由什么原因引起？【選項(xiàng)】A.材料內(nèi)部空腔B.工件過厚C.探頭頻率不匹配D.缺陷邊緣不規(guī)則【參考答案】B【詳細(xì)解析】工件過厚導(dǎo)致聲束衰減嚴(yán)重，反射波能量分散，形成多次反射?？涨唬ㄈ鐨饪祝┓瓷洳ㄍǔ我?，探頭頻率不匹配會(huì)導(dǎo)致聲束擴(kuò)散，但反射回波次數(shù)較少。【題干20】在磁粉檢測(cè)中，若缺陷顯示不清晰，可能通過以下哪種方法改善？【選項(xiàng)】A.增加磁化電流B.延長(zhǎng)磁化時(shí)間C.使用更高靈敏度的磁粉D.調(diào)整磁化方向【參考答案】C【詳細(xì)解析】高靈敏度磁粉（如直徑更細(xì)的磁性顆粒）可增強(qiáng)缺陷處的磁粉聚集，提高顯示清晰度。增加電流或時(shí)間可能引起飽和，反而降低靈敏度。調(diào)整方向需結(jié)合缺陷形態(tài)。2025年事業(yè)單位工勤技能-湖南-湖南無損探傷工三級(jí)（高級(jí)工）歷年參考題庫含答案解析(篇5)【題干1】根據(jù)GB/T3323-2020標(biāo)準(zhǔn)，射線檢測(cè)中像質(zhì)計(jì)的靈敏度等級(jí)K值應(yīng)滿足什么要求？【選項(xiàng)】A.K=0.5B.K=1.0C.K=1.5D.K=2.0【參考答案】B【詳細(xì)解析】根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB/T3323-2020，射線檢測(cè)的像質(zhì)計(jì)靈敏度等級(jí)K值需滿足K=1.0，以確保檢測(cè)圖像能夠清晰顯示缺陷細(xì)節(jié)。選項(xiàng)A（0.5）和C（1.5）為非標(biāo)準(zhǔn)值，選項(xiàng)D（2.0）超出常規(guī)應(yīng)用范圍，故正確答案為B?！绢}干2】超聲波檢測(cè)中，評(píng)定晶粒度不大于多少微米的工件時(shí)，需采用什么檢測(cè)方法？【選項(xiàng)】A.穿透法B.反射法C.脈沖回波法D.脈沖反射法【參考答案】C【詳細(xì)解析】根據(jù)ISO5817標(biāo)準(zhǔn)，晶粒度評(píng)定≤50μm的工件需采用脈沖回波法（C選項(xiàng)）。穿透法（A）適用于檢測(cè)內(nèi)部缺陷，反射法（B）和脈沖反射法（D）不適用于晶粒度細(xì)小的材料檢測(cè)，故正確答案為C。【題干3】磁粉檢測(cè)中，工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度H≥多少A/m時(shí)，可判定為符合ISO9442標(biāo)準(zhǔn)？【選項(xiàng)】A.1.2×103B.1.5×103C.2.0×103D.2.5×103【參考答案】B【詳細(xì)解析】ISO9442規(guī)定，磁粉檢測(cè)的磁場(chǎng)強(qiáng)度H需≥1.5×103A/m（B選項(xiàng)）。選項(xiàng)A（1.2×103）未達(dá)標(biāo)準(zhǔn)，選項(xiàng)C（2.0×103）和D（2.5×103）超出常規(guī)需求，故正確答案為B。【題干4】滲透檢測(cè)中，使用水基滲透劑時(shí)，干燥時(shí)間通常為多少分鐘？【選項(xiàng)】A.5-10B.10-15C.15-20D.20-25【參考答案】A【詳細(xì)解析】根據(jù)ISO16528標(biāo)準(zhǔn)，水基滲透劑的干燥時(shí)間范圍為5-10分鐘（A選項(xiàng)）。油基滲透劑干燥時(shí)間更長(zhǎng)，而選項(xiàng)B-C-D為油基或特殊滲透劑參數(shù)，故正確答案為A。【題干5】射線檢測(cè)中，缺陷的長(zhǎng)度與寬度之比（長(zhǎng)寬比）≥多少時(shí)，可直接按長(zhǎng)度評(píng)定缺陷？【選項(xiàng)】A.1.0B.1.2C.1.5D.2.0【參考答案】A【詳細(xì)解析】GB/T3323-2020規(guī)定，當(dāng)缺陷長(zhǎng)寬比≥1.0時(shí)，可直接按長(zhǎng)度評(píng)定（A選項(xiàng)）。若長(zhǎng)寬比<1.0需結(jié)合寬度綜合判定，選項(xiàng)B-C-D為干擾項(xiàng)，故正確答案為A?！绢}干6】超聲波檢測(cè)中，耦合劑的主要作用是什么？【選項(xiàng)】A.增強(qiáng)聲阻抗匹配B.防止工件氧化C.提高磁場(chǎng)強(qiáng)度D.減少噪聲干擾【參考答案】A【詳細(xì)解析】耦合劑通過降低聲阻抗差異（A選項(xiàng)）實(shí)現(xiàn)聲波有效傳遞。選項(xiàng)B（防氧化）需使用防銹油，選項(xiàng)C（磁場(chǎng)強(qiáng)度）與磁粉檢測(cè)相關(guān)，選項(xiàng)D（降噪）需調(diào)整儀器參數(shù)，故正確答案為A?！绢}干7】磁粉檢測(cè)中，缺陷的磁化率與工件磁化率的比值（K值）≥多少時(shí)，可判定為未飽和缺陷？【選項(xiàng)】A.0.5B.1.0C.1.5D.2.0【參考答案】A【詳細(xì)解析】ISO9442規(guī)定，未飽和缺陷的K值需≥0.5（A選項(xiàng)）。若K值<0.5則為完全飽和缺陷，選項(xiàng)B-C-D為干擾項(xiàng)，故正確答案為A?！绢}干8】滲透檢測(cè)中，顯像劑的干燥時(shí)間通常為多少分鐘？【選項(xiàng)】A.5-10B.10-15C.15-20D.20-25【參考答案】B【詳細(xì)解析】ISO16528標(biāo)準(zhǔn)要求顯像劑干燥時(shí)間為10-15分鐘（B選項(xiàng)）。選項(xiàng)A為水基滲透劑干燥時(shí)間，選項(xiàng)C-D為油基顯像劑參數(shù)，故正確答案為B。【題干9】射線檢測(cè)中，焦距與工件厚度之比應(yīng)滿足什么條件？【選項(xiàng)】A.焦距≥3倍厚度B.焦距≥2倍厚度C.焦距≥1.5倍厚度D.焦距≥1倍厚度【參考答案】A【詳細(xì)解析】GB/T3323-2020規(guī)定，射線檢測(cè)焦距需≥3倍工件厚度（A選項(xiàng)）。選項(xiàng)B-C-D為干擾項(xiàng)，與實(shí)際檢測(cè)規(guī)范不符，故正確答案為A?！绢}干10】超聲波檢測(cè)中，缺陷回波高度與基準(zhǔn)反射波高度的比值（A/B比）≥多少時(shí)，可判定為明顯缺陷？【選項(xiàng)】A.1.0B.1.5C.2.0D.3.0【參考答案】B【詳細(xì)解析】ISO5817標(biāo)準(zhǔn)要求A/B比≥1.5（B選項(xiàng)）判定為明顯缺陷。選項(xiàng)A（1.0）為臨界值，選項(xiàng)C-D超出常規(guī)范圍，故正確答案為B?！绢}干11】磁粉檢測(cè)中，工件