標準解讀

GB/T 4937.34-2024是關(guān)于半導體器件機械和氣候試驗方法的標準之一，特別針對功率循環(huán)測試。該標準詳細規(guī)定了進行此類測試時所需遵循的方法、條件以及步驟，旨在評估半導體器件在經(jīng)歷多次熱循環(huán)后其性能的穩(wěn)定性和可靠性。

根據(jù)此標準，功率循環(huán)是指通過控制流過器件的電流或施加于其上的電壓來實現(xiàn)溫度變化的過程，從而模擬實際使用中由于工作狀態(tài)改變引起溫度波動的情況。標準中定義了不同類型的功率循環(huán)測試，并且對每種類型都給出了具體的實施指南，包括但不限于環(huán)境溫度范圍設定、加熱與冷卻速率的選擇、循環(huán)次數(shù)等關(guān)鍵參數(shù)。

此外，還提供了關(guān)于如何準備試樣、設置測試設備及執(zhí)行整個過程的具體指示。為了確保結(jié)果的一致性和可比性，標準強調(diào)了對于所有參與方而言保持相同實驗條件的重要性。同時，它也涵蓋了安全注意事項，以防止操作過程中可能出現(xiàn)的危害。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2024-03-15 頒布
  • 2024-07-01 實施
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文檔簡介

ICS3108001

CCSL.40.

中華人民共和國國家標準

GB/T493734—2024/IEC60749-342010

.:

半導體器件機械和氣候試驗方法

第34部分功率循環(huán)

:

Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—

Part34Powercclin

:yg

IEC60749-342010IDT

(:,)

2024-03-15發(fā)布2024-07-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

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