1測量系統(tǒng)分析MeasurementSystemsAnalysis(MSA)2測量以確定量值為目的的一組操作.那些用預設的標準比較實物有多少單位的過程.測量結果由一個數(shù)字和一個標準的測量單位構成。測量結果是測量過程的輸出。3測量數(shù)據的質量測量數(shù)據的質量與在穩(wěn)定的作業(yè)狀況下，由一個測量系統(tǒng)獲得的多個測量值的統(tǒng)計特性有關。參考值（ReferenceValue）—一個作為比較參考的被認同的值如果某一特性的測量值[接近]它的標準值，則稱此一數(shù)據的質量為[高]。如果某一特性的測量值[遠離]它的標準值，則稱此一數(shù)據質量為[低]。4測量系統(tǒng)用來對被測特性賦值的操作、程序、量具、設備、軟件以及操作人員的集合;用來獲得測量結果的整個過程.簡單說來,就是與測量有關的一組相關的資源,活動和影響.5顧客顧客管理職責資源管理輸入

實現(xiàn)產品

輸出測量在質量管理體系中的地位量度、分析、改進持續(xù)改善質量管理體系滿意要求產品6測量在質量管理體系中的地位7制程控制8測量數(shù)據分辨率:測量系統(tǒng)檢出并如實指示被測特性中最小變化的能力一般的(ISO9000)要求是:分辨率需達到公差帶的十分之一到三分之一.9準確:數(shù)據的中心與標準值相近.精確:數(shù)據的變差小,集中于某點附近.測量數(shù)據好的測量數(shù)據:零偏倚零錯誤分類率10測量系統(tǒng)應有特性:處于統(tǒng)計控制中系統(tǒng)的變異比待測物的變異小系統(tǒng)的變異比待測物的公差小系統(tǒng)精度(分辨率)高于待測物變異或公差精度統(tǒng)計特性可能隨待測項目的變化而變化11測量系統(tǒng)統(tǒng)計控制示意12測量系統(tǒng)分辨率要求:識別產品的好壞識別制程的變異,不斷改善是過程變異的十分之一考慮一個產品,其規(guī)格為10±0.5,而產品測量使用直尺,其讀數(shù)為10,10,10,…..,這樣的測量系統(tǒng)有問題嗎?1314測量系統(tǒng)變異類型與位置有關:

偏倚 穩(wěn)定性 線性與寬度有關:

再現(xiàn)性 再生性15偏倚(Bias)是測量結果的觀測平均值與基準值的差值(基準是采用更高級別的檢測設備得到的一致認可的數(shù)據)16偏倚1)首先用較高準確度的設備對基準件進行測量十次,計算平均值,得到基準值Xr.2)再讓評價人用待評價設備測量基準件至少十次以上,得到平均值Xbar.3)偏倚Bias＝Xbar－Xr4)偏倚%Bias%＝[Bias/過程變差]*100%17穩(wěn)定性(Stability)是測量系統(tǒng)在某持續(xù)時間內測量同一基準或零件的單一特性時獲得的測量值總變差18穩(wěn)定性1)選擇基準件(1-3件)2)定時(每天/星期)測量基準件(3/5次)3)根據測量數(shù)據制定Xbar-R圖4)觀察數(shù)據是否處于統(tǒng)計制程控制5)計算標準偏差Sigma=Rbar/d26)將標準偏差與過程變化標準偏差比較.19線性(Linearity)是在量具預期的工作范圍內,偏倚值的差值.20線性1)選擇處于測量系統(tǒng)工作范圍的部分零件,例如5~10件2)利用高準確度設備測量其基準值Xir.3)評價人使用待評價設備對每個零件測量12次(隨機抽取),得出零件平均值Xibar4)計算每個測量點的偏倚Biasi=Xibar-Xir5)劃出Xir-Xibar線性相關圖,計算線性斜率21線性y=b+axx---基準值y---Biasa---斜率a={Sum(xy)-Sum(x)*Sum(y)/n}/{Sum(x2)-[Sum(x)]2/n}b=Sum(y/n)-a*Sum(x/n)線性=斜率*過程變差擬合優(yōu)度R2={Sum(xy)-Sum(x)Sum(y)/n}2/{[Sum(x2)-Sum(x)2/n]*[Sum(y2)-Sum(y)2/n]}22再現(xiàn)性(Repeatability)是由一個評價人,采用一種測量儀器,多次測量同一零件的同一特性時獲得的測量值變差23再生性(Reproducibility)是由不同的評價人,采用相同的測量儀器,測量同一零件的同一特性時測量平均值的變差24R&R極差法(Range法)1)采用兩個評價者測量數(shù)個零件(一般5個零件以上),得到Xa,Xb2)計算每個零件的測量極差Ri=Xa-Xb3)計算平均極差Rbar=Sum(Ri)/n4)計算測量變差GR&R=5.15*Rbar/d25)計算%GR&R=[GR&R/過程變差]*100%(見學員教材P.25)25R&R均值和極差法(Average&Range法)1)采用多個評價者測量數(shù)個零件(一般5個零件以上)2)讓評價者多次測量每個零件(不知編號),記錄結果.3)對數(shù)據進行再生性和再現(xiàn)性分析.(見學員教材P.26-43)26R&R均值和極差法(Average&Range法)再現(xiàn)性(Repeatability)-原理:評價者多次測量同一物品的差距即再現(xiàn)性實際上是設備的變異引起-用多個人多個產品統(tǒng)計平均值代表性更高EV=(Rbar)bar*K1(K1是常數(shù))27R&R均值和極差法(Average&Range法)再生性(Reproducibility)-原理:每個評價者測量同一物品的差距即再生性實際上是人的操作的變異引起-用多個人多個產品統(tǒng)計平均值最大差距代表-考慮消除再現(xiàn)性影響AV={[(Xbar)DIFF*K2]2-[EV2/nr]}1/2(K2是常數(shù))28R&R均值和極差法(Average&Range法)產品/制程變差-原理:測量值的變化范圍-使用多人平均值的變化范圍(去除測量者差異)PV=Rp*K3(K3是常數(shù))總變差TV=[(GR&R)2+PV2]1/2如已知過程變差Sigma,也可TV=5.15*Sigma29R&R均值和極差法(Average&Range法)EV%=(EV/TV)*100%AV%=(AV/TV)*100%%R&R=(R&R/TV)*100%%PV=(PV/TV)*100%注意:各因素占總變差的百分數(shù)和不等于100%30GR&R研究1)在測量系統(tǒng)的穩(wěn)定性不足或不知的情況下進行GR&R的研究是毫無意義的2)樣品必須從過程中選取并代表其整個工作范圍3)評價者的測量是盲測,否則因為心理作用而使結果偏差4)Xbar-R圖需與計算前進行分析A)R圖應受控B)Xbar圖應有一半或更多落在控制限之外.31GR&R研究32計數(shù)型量具研究計數(shù)型量具僅將物品/制程的特性與指定限制值比較,而結果僅有接受或拒收兩種.例如:一般的外觀檢查 對色 金屬探測儀針規(guī)33計數(shù)型量具研究(短期方法)1)選擇2位評價者,20個待測物(有合格,也有不合格)2)每個人對待測物測量2次(不知編號)3)如果所有測量結果一致則接受該系統(tǒng),否則應改進或從新評價該系統(tǒng).3435計數(shù)型量具研究(長期方法)1)在制程變化范圍內選擇8個待測物2)每個待測物用量具測量20次,紀錄每個待測物合格次數(shù)a3)最小待測物的a=0,最大待測物的a=204)其它6個待測物的a介于1到19之間,如果不符,選取額外測量點.5)計算各待測物的接收概率Pa6)繪制Pa正態(tài)概率圖,計算再現(xiàn)性R36計數(shù)型量具研究(長期方法)Pa=(