犐犆犛２１．１２０．０１

犑１９

中華人民共和國國家標準

犌犅／犜９１４９—２００８

代替ＧＢ／Ｔ９１４９—１９８８

磁粉離合器通用技術條件

犌犲狀犲狉犪犾狊狆犲犮犻犳犻犮犪狋犻狅狀犳狅狉犿犪犵狀犲狋犻犮狆犪狉狋犻犮犾犲犮犾狌狋犮犺

２００８０９２７發(fā)布２００９０５０１實施

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

書

犌犅／犜９１４９—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４技術要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

５試驗方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

６檢驗規(guī)則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１１

７標志、包裝、運輸和貯存!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１３

Ⅰ

書

犌犅／犜９１４９—２００８

前言

本標準是對ＧＢ／Ｔ９１４９—１９８８《磁粉離合器通用技術條件》的修訂。

本標準與ＧＢ／Ｔ９１４９—１９８８相比在技術內(nèi)容上有如下變化：

———增加了標準的前言、目次；

———規(guī)范性引用文件中刪去了作廢標準ＧＢ／Ｔ９９８，增加了ＧＢ／Ｔ２４２３最新版本的內(nèi)容，其中

ＧＢ／Ｔ２４２３．１、ＧＢ／Ｔ２４２３．２為注日期引用，其他為不注日期引用；

———增加了“３術語和定義”；

———刪除了１９８８版３．９、３．１０、３．１１、３．１２、３．１３．１、３．１３．２、４．１０、４．１１、４．１２等條款的內(nèi)容；

———取消了１９８８版３．１３．１１中“……今后應盡量采用火箭撬試驗法來代替離心機試驗法?！?；

———１９８８版４．１６修改為“溫度氣壓循環(huán)試驗”（見５．１３）；

———取消了１９８８版４．１７、４．１８、４．１９、４．２０、４．２２中有關ＧＢ／Ｔ２４２３．３、ＧＢ／Ｔ２４２３．５、

ＧＢ／Ｔ２４２３．１０、ＧＢ／Ｔ２４２３．１５、ＧＢ／Ｔ２４２３．２１的具體引用內(nèi)容（見５．１４、５．１５、５．１６、５．１７、

５．１９）。

本標準由全國機器軸與附件標準化技術委員會提出并歸口。

本標準起草單位：機械科學研究院中機生產(chǎn)力促進中心、北京自動化控制設備研究所、中國航天科

技集團公司７１０３廠。

本標準主要起草人：明翠新、馬新明、杜亞文、鄧高見。

本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ９１４９—１９８８。

Ⅲ

犌犅／犜９１４９—２００８

磁粉離合器通用技術條件

１范圍

本標準規(guī)定了磁粉離合器（以下簡稱離合器）的術語和定義、設計與制造的通用技術要求、試驗方法

和檢驗規(guī)則。

本標準適用于磁粉離合器。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標準。

ＧＢ／Ｔ２４２３．１—２００１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ａ：低溫（ｉｄｔＩＥＣ６００６８

２１：１９９０）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２—２００１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｂ：高溫（ｉｄｔＩＥＣ６００６８２

２：１９７６）

ＧＢ／Ｔ２４２３．３電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｃａｂ：恒定濕熱試驗

（ＧＢ／Ｔ２４２３．３—２００６，ＩＥＣ６００６８２７８：２００１，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｅａ和導則：沖擊

（ＧＢ／Ｔ２４２３．５—１９９５，ｉｄｔＩＥＣ６００６８２２７：１９８７）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１０電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｆｃ：振動（正弦）

（ＧＢ／Ｔ２４２３．１０—２００８，ＩＥＣ６００６８２６：１９９５，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｇａ和導則：穩(wěn)態(tài)加速度

（ＧＢ／Ｔ２４２３．１５—２００８，ＩＥＣ６００６８２７：１９８６，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｊ和導則：長霉

（ＧＢ／Ｔ２４２３．１６—１９９９，ｉｄｔＩＥＣ６００６８２１０：１９９８）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１７電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｋａ：鹽霧（ＧＢ／Ｔ２４２３．１７—

２００８，ＩＥＣ６００６８２１１：１９８１，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２１電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ｍ：低氣壓試驗方法（ＧＢ／Ｔ