標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 8760-2006 砷化鎵單晶位錯(cuò)密度的測(cè)量方法》相較于1988年的版本進(jìn)行了多方面的更新和完善。在2006年版的標(biāo)準(zhǔn)中,對(duì)于術(shù)語定義部分做了更加明確和詳細(xì)的描述,確保了術(shù)語的一致性和準(zhǔn)確性。此外,新標(biāo)準(zhǔn)還增加了對(duì)實(shí)驗(yàn)環(huán)境的要求,比如溫度、濕度等條件的具體規(guī)定,以減少外部因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
在樣品準(zhǔn)備方面,《GB/T 8760-2006》提供了更為詳盡的操作指南,包括切割、拋光以及清洗等步驟的技術(shù)要求,這有助于提高不同實(shí)驗(yàn)室之間數(shù)據(jù)的一致性。同時(shí),對(duì)于位錯(cuò)蝕坑腐蝕液的選擇與配比也給出了更具體的建議,并且新增了一些可選的化學(xué)試劑,為研究人員提供了更多靈活性。
關(guān)于檢測(cè)過程,《GB/T 8760-2006》引入了先進(jìn)的顯微鏡技術(shù)用于觀察砷化鎵單晶表面形成的蝕坑,提高了位錯(cuò)密度測(cè)定的精確度。該版本還特別強(qiáng)調(diào)了圖像處理軟件的應(yīng)用,在自動(dòng)計(jì)數(shù)位錯(cuò)數(shù)量時(shí)能夠有效減少人為誤差,使得數(shù)據(jù)分析更加客觀可靠。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 8760-2020
- 2006-07-18 頒布
- 2006-11-01 實(shí)施



文檔簡(jiǎn)介
ICS77.040.01H17中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T8760—2006代替GB/T8760—1988砷化家單晶位錯(cuò)密度的測(cè)量方法Galliumarsenidesinglecrystal-Determinationofdislocationdensity2006-07-18發(fā)布2006-11-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T8760—2006本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)GB/T8760-1988《砷化鑲單品位錯(cuò)密度的測(cè)量方法》的修訂本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起代替GB/T8760—1988。本標(biāo)準(zhǔn)與原標(biāo)準(zhǔn)相比主要有以下變動(dòng):-修改了原來表述位錯(cuò)密度的術(shù)語解釋;-重新制作了部分圖片·改善圖片質(zhì)量;原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定.腐蝕位錯(cuò)坑時(shí).熔化的氫氧化鉀的溫度要保持在400℃。實(shí)驗(yàn)證明.只要熔化的氫氧化鉀呈現(xiàn)沒清狀態(tài),選擇適當(dāng)?shù)母g時(shí)間.都能得到清晰的腐蝕坑,故取消了要求熔化的氫氧化鉀溫度保持在400℃的嚴(yán)格限制。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)有色金屬工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:北京有色金屬研究總院本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:王彤涵。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:GB/T8760-1988。
GB/T8760—2006砷化家單晶位錯(cuò)密度的測(cè)量方法范范圍本標(biāo)準(zhǔn)適用于位錯(cuò)密度為(0~100000)個(gè)/cm2的砷化鏢單品的位錯(cuò)密度的測(cè)量。檢測(cè)面為(111)面和(100}面。2術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn):位錯(cuò)dislocation單品體中部分原子受應(yīng)力作用產(chǎn)生滑移。已滑移部分與未滑移部分的分界線稱為位錯(cuò)線,簡(jiǎn)稱位錯(cuò)22位錯(cuò)密度dislocationdensity單位體積內(nèi)位錯(cuò)線的總長(zhǎng)度稱為位錯(cuò)密度(cm/cm)。在實(shí)際應(yīng)用中.通常以單位表面積內(nèi)形成位借腐蝕坑的個(gè)數(shù)(個(gè)/cm)代表位錯(cuò)蜜度。本標(biāo)準(zhǔn)中位錯(cuò)密度指單位表面積內(nèi)形成位錯(cuò)腐蝕坑的個(gè)數(shù)。3原理采用擇優(yōu)化學(xué)腐蝕技術(shù)顯示位錯(cuò)。品體中位錯(cuò)線周圍的品格發(fā)生畸變,當(dāng)用某些化學(xué)腐蝕劑腐蝕晶體表面時(shí),在晶體表面上的位錯(cuò)線露頭處,腐蝕速度較快,因而容易形成由某些低指數(shù)面組成帶棱角的具有特定形狀的腐蝕坑。在顯微鏡下觀察并按一定規(guī)則統(tǒng)計(jì)這些具有特定形狀的腐蝕坑,可得到位錯(cuò)密度數(shù)值?;瘜W(xué)試劑4硫酸(ol.84g/mL),濃度95%~98%,優(yōu)級(jí)純A2過氧化氫(ol.00g/mL)濃度30%.優(yōu)級(jí)純4.3氫氧化鉀(o78.2g/L),濃度78.2%,優(yōu)級(jí)純R試樣制備5.1定向切割從單品鍵的待測(cè)部分經(jīng)定向后.切取厚度大于0.5mm的單品片.品向偏離要求小于85.2研磨用302*金剛砂(或相當(dāng)顆粒度的金剛砂)水漿研磨,使表面平整。用水清洗干凈后,再用306"金剛砂(或相當(dāng)顆粒度的金剛砂)水漿研磨,使表面光潔無劃痕,然后用水清洗干凈。5.3化學(xué)拋光將硫酸(H.SO,)、過氧化氫(H.O.)和去離子水(H.O)按體積比3:1:1配制成拋光液·然后
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