標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 4937.21-2018 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第21部分:可焊性》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),專門(mén)針對(duì)半導(dǎo)體器件的可焊性測(cè)試制定了詳細(xì)的方法。該標(biāo)準(zhǔn)旨在通過(guò)規(guī)定一系列試驗(yàn)條件與程序來(lái)評(píng)估半導(dǎo)體器件引腳或端子在焊接過(guò)程中的性能,確保其符合預(yù)期的應(yīng)用要求。
根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn),首先明確了適用范圍,即適用于所有類型的半導(dǎo)體分立器件以及集成電路等產(chǎn)品的可焊性檢測(cè)。接著對(duì)術(shù)語(yǔ)進(jìn)行了定義,包括但不限于“可焊性”、“潤(rùn)濕力”等關(guān)鍵概念,為后續(xù)內(nèi)容的理解奠定基礎(chǔ)。
標(biāo)準(zhǔn)中還描述了具體的試驗(yàn)方法,主要包括兩種類型:浸漬法和球點(diǎn)法。浸漬法是將待測(cè)樣品的連接部位完全浸入熔融狀態(tài)下的焊料中一定時(shí)間后取出,觀察并記錄焊料覆蓋情況;而球點(diǎn)法則是在樣品表面滴加適量液態(tài)焊料形成一個(gè)小球,并檢查其形狀保持度及附著力。這兩種方法各有側(cè)重,能夠全面反映被測(cè)物體的可焊特性。
此外,《GB/T 4937.21-2018》還提供了詳細(xì)的試驗(yàn)步驟、所需設(shè)備材料清單、環(huán)境條件控制要求等內(nèi)容,指導(dǎo)實(shí)驗(yàn)室正確實(shí)施相關(guān)測(cè)試。同時(shí),對(duì)于如何判定結(jié)果合格與否也給出了明確的標(biāo)準(zhǔn),通?;谝曈X(jué)檢查或使用顯微鏡輔助判斷樣品表面是否有足夠的焊料覆蓋、是否存在空洞或其他缺陷等問(wèn)題。
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- 正在執(zhí)行有效
- 2018-09-17 頒布
- 2019-01-01 實(shí)施





文檔簡(jiǎn)介
ICS3108001
L40..
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T493721—2018/IEC60749-212011
.:
半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法
第21部分可焊性
:
Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—
Part21Solderabilit
:y
(IEC60749-21:2011,IDT)
2018-09-17發(fā)布2019-01-01實(shí)施
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T493721—2018/IEC60749-212011
.:
目次
前言
…………………………Ⅲ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
試驗(yàn)裝置
3…………………1
焊料槽
3.1………………1
浸潤(rùn)裝置
3.2……………1
光學(xué)設(shè)備
3.3……………1
水汽老化設(shè)備
3.4………………………1
照明設(shè)備
3.5……………2
材料
3.6…………………2
助焊劑
3.6.1…………………………2
焊料
3.6.2……………2
再流焊設(shè)備
3.7SMD……………………3
模板或掩膜板
3.7.1…………………3
橡膠滾軸或金屬刮刀
3.7.2…………3
試驗(yàn)基板
3.7.3………………………3
焊膏
3.7.4……………3
再流設(shè)備
3.7.5………………………4
助焊劑清洗溶劑
3.7.6………………4
程序
4………………………4
向后兼容性
4.1…………………………4
預(yù)處理
4.2………………4
一般要求
4.2.1………………………4
水汽老化預(yù)處理
4.2.2………………4
高溫貯存預(yù)處理
4.2.3………………5
浸入和觀察可焊性試驗(yàn)程序
4.3………………………5
一般要求
4.3.1………………………5
浸焊料條件
4.3.2……………………5
程序
4.3.3……………6
模擬板級(jí)安裝再流可焊性試驗(yàn)程序
4.4SMDs………11
一般要求
4.4.1………………………11
試驗(yàn)設(shè)備設(shè)置
4.4.2…………………11
樣品準(zhǔn)備和表面條件
4.4.3…………13
目檢
4.4.4……………13
說(shuō)明
5………………………13
圖翼形封裝被檢區(qū)域
1……………………8
Ⅰ
GB/T493721—2018/IEC60749-212011
.:
圖形引線封裝被檢區(qū)域
2J………………9
圖矩形元器件的被檢區(qū)域表面安裝器件
3()…………10
圖小外形集成電路封裝和四邊引線扁平封裝被檢區(qū)域表面安裝器件
4(SOIC)(QFP)()…………11
圖平頂峰形回流曲線圖
5………………12
表水汽老化條件
1…………………………4
表海拔高度與水汽溫度的對(duì)應(yīng)關(guān)系
2……………………5
表浸焊料試驗(yàn)條件
3………………………5
表焊槽中雜質(zhì)最大含量
4…………………7
Ⅱ
GB/T493721—2018/IEC60749-212011
.:
前言
半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法由以下部分組成
GB/T4937《》:
第部分總則
———1:;
第部分低氣壓
———2:;
第部分外部目檢
———3:;
第部分強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)
———4:(HAST);
第部分穩(wěn)態(tài)溫濕度偏置壽命試驗(yàn)
———5:;
第部分高溫貯存
———6:;
第部分內(nèi)部水汽含量測(cè)試和其他殘余氣體分析
———7:;
第部分密封
———8:;
第部分標(biāo)志耐久性
———9:;
第部分機(jī)械沖擊
———10:;
第部分快速溫度變化雙液槽法
———11:;
第部分掃頻振動(dòng)
———12:;
第部分鹽霧
———13:;
第部分引出端強(qiáng)度引線牢固性
———14:();
第部分通孔安裝器件的耐焊接熱
———15:;
第部分粒子碰撞噪聲檢測(cè)
———16:(PIND);
第部分中子輻照
———17:;
第部分電離輻射總劑量
———18:();
第部分芯片剪切強(qiáng)度
———19:;
第部分塑封表面安裝器件耐潮濕和焊接熱綜合影響
———20:;
第部分對(duì)潮濕和焊接熱綜合影響敏感的表面安裝器件的操作包裝標(biāo)志和運(yùn)輸
———20-1:、、;
第部分可焊性
———21:;
第部分鍵合強(qiáng)度
———22:;
第部分高溫工作壽命
———23:;
第部分加速耐濕無(wú)偏置強(qiáng)加速應(yīng)力試驗(yàn)
———24:(HSAT);
第部分溫度循環(huán)
———25:;
第部分靜電放電敏感度試驗(yàn)人體模型
———26:(ESD)(HBM);
第部分靜電放電敏感度試驗(yàn)機(jī)械模型
———27:(ESD)(MM);
第部分靜電放電敏感度試驗(yàn)帶電器件模型器件級(jí)
———28:(ESD)(CDM);
第部分閂鎖試驗(yàn)
———29:;
第部分非密封表面安裝器件在可靠性試驗(yàn)前的預(yù)處理
———30:;
第部分塑封器件的易燃性內(nèi)部引起的
———31:();
第部分塑封器件的易燃性外部引起的
———32:();
第部分加速耐濕無(wú)偏置高壓蒸煮
———33:;
第部分功率循環(huán)
———34:;
第部分塑封電子元器件的聲學(xué)掃描顯微鏡檢查
———35:;
第部分恒定加速度
———36:;
Ⅲ
GB/T493721—2018/IEC60749-212011
.:
第部分采用加速度計(jì)的板級(jí)跌落試驗(yàn)方法
———37:;
第部分半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的軟錯(cuò)誤試驗(yàn)方法
———38:;
第部分半導(dǎo)體元器件原材料的潮氣擴(kuò)散率和水溶解率測(cè)量
———39:;
第部分采用張力儀的板級(jí)跌落試驗(yàn)方法
———40:;
第部分非易失性存儲(chǔ)器件的可靠性試驗(yàn)方法
———41:;
第部分溫度和濕度貯存
———42:;
第部分集成電路可靠性鑒定方案指南
———43:(IC);
第部分半導(dǎo)體器件的中子束輻照單粒子效應(yīng)試驗(yàn)方法
———44:。
本部分為的第部分
GB/T493721。
本部分按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本部分使用翻譯法等同采用半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第部分
IEC60749-21:2011《21:
可焊性
》。
請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任
。。
本部分由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出
。
本部分由全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口
(SAC/TC78)。
本部分起草單位中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所深圳市標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院
:、。
本部分主要起草人宋玉璽彭浩高瑞鑫裴選朱振剛
:、、、、。
Ⅳ
GB/T493721—2018/IEC60749-212011
.:
半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法
第21部分可焊性
:
1范圍
的本部分規(guī)定了采用鉛錫焊料或無(wú)鉛焊料進(jìn)行焊接的元器件封裝引出端的可焊性試
GB/T4937
驗(yàn)程序
。
本試驗(yàn)方法規(guī)定了通孔軸向和表面安裝器件的浸入和觀察可焊性試驗(yàn)程序以及可選
、(SMDs)“”,
的板級(jí)安裝可焊性試驗(yàn)程序用于模擬在元器件使用時(shí)采用的焊接過(guò)程本試驗(yàn)方法也規(guī)定了
SMDs,。
老化條件該條件為可選
,。
除有關(guān)文件另有規(guī)定外本試驗(yàn)屬于破壞性試驗(yàn)
,。
注1本試驗(yàn)方法與基本一致但由于半導(dǎo)體元器件的特殊要求采用本試驗(yàn)方法
:GB/T2423,,。
注2本試驗(yàn)方法未對(duì)焊接過(guò)程中可能產(chǎn)生的熱應(yīng)力影響進(jìn)行評(píng)估參見(jiàn)或
:。IEC60749-15IEC60749-20。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
電子組件用連接材料第部分電子組件高質(zhì)量互連用焊料的要求
IEC61190-1-2:2007
溫馨提示
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