ICS7104099

CCSG.04.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T41074—2021/ISO207202018

:

微束分析用于波譜和能譜分析的

粉末試樣制備方法

Microbeamanalysis—Methodofspecimenpreparationforanalysisof

generalpowdersusingWDSandEDS

ISO207202018IDT

(:,)

2021-12-31發(fā)布2022-07-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T41074—2021/ISO207202018

:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

縮略語(yǔ)

4……………………1

試樣制備方法

5……………1

導(dǎo)電性處理

6………………6

附錄資料性壓強(qiáng)對(duì)壓片射線強(qiáng)度影響的實(shí)例

A()X…………………7

附錄資料性顆粒尺寸對(duì)壓片射線強(qiáng)度影響的實(shí)例

B()X……………8

參考文獻(xiàn)

………………………9

Ⅰ

GB/T41074—2021/ISO207202018

:

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)

GB/T1.1—2020《1:》

定起草

。

本文件等同采用微束分析用于波譜和能譜分析的粉末試樣制備方法

ISO20720:2018《》。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任

。。

本文件由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC38)。

本文件起草單位中國(guó)地質(zhì)科學(xué)院礦產(chǎn)資源研究所核工業(yè)北京地質(zhì)研究院中國(guó)科學(xué)院地質(zhì)與地

:、、

球物理研究所

。

本文件主要起草人陳振宇范光毛騫

:、、。

Ⅲ

GB/T41074—2021/ISO207202018

:

引言

雖然電子探針和掃描電鏡在粉末分析中廣泛應(yīng)用但也存在一些困難特別是在

(EPMA)(SEM),,

單個(gè)顆粒分析的情況下如

,:

試樣制備過(guò)程中的顆粒團(tuán)聚

a);

試樣的固定尤其是當(dāng)存在少量細(xì)小顆粒用于表面分析或截面分析時(shí)

b),;

具有核殼結(jié)構(gòu)的小顆粒的橫截面制備

c)-;

在顆粒表面對(duì)電子束敏感的情況下保護(hù)顆粒表面不受電子束輻照損傷

d),;

在電子輻照下對(duì)試樣荷電的中和以防止粉末由于電荷排斥而飛濺或分散

e),;

當(dāng)產(chǎn)生射線的體積大于粉末顆粒時(shí)定性定量分析結(jié)果的解釋

f)X,、。

在分析粉末元素組成的情況下試樣制備也會(huì)影響分析結(jié)果因?yàn)轭w粒聚集體或團(tuán)聚體中的粗糙

,,

度空隙空間可以影響射線強(qiáng)度

、X。

為了克服這些困難對(duì)顆粒分析的試樣制備進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化是非常重要的

,。

Ⅳ

GB/T41074—2021/ISO207202018

:

微束分析用于波譜和能譜分析的

粉末試樣制備方法

1范圍

本文件規(guī)定了使用安裝在電子探針或掃描電鏡上的能譜儀或波譜儀

(EPMA)(SEM)(EDS)

分析粉末中的顆粒時(shí)的試樣制備方法根據(jù)分析目的和顆粒尺寸對(duì)粉末顆粒試樣的制備方法

(WDS)。,

進(jìn)行了分類

。

本文件適用于粒徑范圍在的無(wú)機(jī)物顆粒

100nm~100μm。

本文件不適用于一些特殊應(yīng)用如法醫(yī)分析或痕量分析

,。

2規(guī)范性引用文件

本文件沒(méi)有規(guī)范性引用文件

。

3術(shù)語(yǔ)和定義

本文件沒(méi)有需要界定的術(shù)語(yǔ)和定義

。

4縮略語(yǔ)

下列縮略語(yǔ)適用于本文件

。

能譜儀

EDS:(energy-dispersiveX-rayspectrometer)

能譜術(shù)

EDX:(energy-dispersiveX-rayspectroscopy)

能譜法

(energy-dispersiveX-rayspectrometry)

電子探針顯微分析

EPMA:(electronprobemicroanalysis)

電子探針顯微分析儀

(electronprobemicroanalyzer)

掃描電子顯微術(shù)

SEM: