標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 37977.32-2019是關(guān)于靜電學(xué)領(lǐng)域的一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),具體針對(duì)的是靜電效應(yīng)模擬方法中的機(jī)器模型(MM)的靜電放電試驗(yàn)波形。該標(biāo)準(zhǔn)為評(píng)估電子設(shè)備和系統(tǒng)在遭受由人體通過直接接觸或接近而引起的靜電放電時(shí)的表現(xiàn)提供了指導(dǎo)。
根據(jù)這項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn),機(jī)器模型被用來模擬當(dāng)一個(gè)人接觸到一個(gè)已經(jīng)帶電的物體(如金屬門把手)時(shí)可能發(fā)生的情況。與人體模型不同,機(jī)器模型代表了兩個(gè)導(dǎo)體之間的快速電荷轉(zhuǎn)移過程,其中一個(gè)導(dǎo)體具有較高的電容值。這種類型的放電通常比人體模型下的放電更為劇烈且能量更高,因此對(duì)于某些敏感設(shè)備來說可能構(gòu)成更大的威脅。
標(biāo)準(zhǔn)中詳細(xì)規(guī)定了用于進(jìn)行此類測(cè)試的具體參數(shù),包括但不限于峰值電流、上升時(shí)間以及脈沖持續(xù)時(shí)間等關(guān)鍵指標(biāo)。這些參數(shù)定義了一個(gè)理想的波形形狀,用以確保不同實(shí)驗(yàn)室之間可以獲得一致性的測(cè)試結(jié)果,從而提高實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的可比性和可靠性。
此外,還介紹了如何設(shè)置測(cè)試環(huán)境、選擇合適的測(cè)試設(shè)備以及執(zhí)行正確的操作步驟等內(nèi)容,旨在幫助用戶準(zhǔn)確地重現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)所描述的靜電放電條件,并據(jù)此對(duì)受試樣品進(jìn)行有效的評(píng)估。通過遵循此標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試,可以更好地了解產(chǎn)品在實(shí)際使用過程中遇到類似情況時(shí)的安全性能。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2019-08-30 頒布
- 2020-03-01 實(shí)施




下載本文檔
GB/T 37977.32-2019靜電學(xué)第3-2部分:靜電效應(yīng)的模擬方法機(jī)器模型(MM)的靜電放電試驗(yàn)波形-免費(fèi)下載試讀頁文檔簡(jiǎn)介
ICS3310017220
;
L06..
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T3797732—2019/IEC61340-3-22006
.:
靜電學(xué)第3-2部分靜電效應(yīng)的模擬
:
方法機(jī)器模型MM的靜電放電試驗(yàn)波形
()
Electrostatics—Part3-2Methodsforsimulationofelectrostaticeffects—
:
MachinemodelMMelectrostaticdischaretestwaveform
()g
(IEC61340-3-2:2006,IDT)
2019-08-30發(fā)布2020-03-01實(shí)施
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T3797732—2019/IEC61340-3-22006
.:
目次
前言
…………………………Ⅰ
范圍
1………………………1
術(shù)語和定義
2………………1
設(shè)備
3………………………1
電流波形發(fā)生器
3.1MMESD…………1
波形驗(yàn)證設(shè)備
3.2………………………1
電流波形要求
4MM………………………2
概要
4.1…………………2
波形驗(yàn)證
4.2……………3
的可靠性試驗(yàn)
5UUTESD………………3
概要
5.1…………………3
有電氣端口的耐受性試驗(yàn)
5.2UUT…………………3
無電氣端口的耐受性試驗(yàn)
5.3UUT…………………3
試驗(yàn)程序
6…………………5
失效判據(jù)
7…………………5
敏感度分級(jí)
8MMESD……………………5
參考文獻(xiàn)
………………………6
圖波形發(fā)生器
1MMESD………………2
圖通過短接線的典型電流波形
2…………4
圖通過電阻的典型電流波形
3500Ω……………………4
表波形要求
1………………3
GB/T3797732—2019/IEC61340-3-22006
.:
前言
靜電學(xué)預(yù)計(jì)發(fā)布以下部分
GB/T37977《》:
第部分防靜電固體平面材料電阻和電阻率的測(cè)試方法
———2-3:;
第部分靜電效應(yīng)的模擬方法人體模型的靜電放電試驗(yàn)波形
———3-1:(HBM);
第部分靜電效應(yīng)的模擬方法機(jī)器模型的靜電放電試驗(yàn)波形
———3-2:(MM);
第部分電子器件的靜電防護(hù)通用要求
———5-1:。
本部分為的第部分
GB/T379773-2。
本部分使用翻譯法等同采用靜電學(xué)第部分靜電效應(yīng)的模擬方法機(jī)
IEC61340-3-2:2006《3-2:
器模型的靜電放電試驗(yàn)波形
(MM)》。
本部分做了下列編輯性修改
:
為區(qū)分圖中的兩種試驗(yàn)負(fù)載在上增加了虛線框
———1,“7”“8”;
更正了表中不完整的敘述在充電電壓列增加
———1,“”“±”;
為便于理解和應(yīng)用本部分表增加了注電阻負(fù)載僅適用于充電電壓的放電
———,1“500Ω±400V
電流波形驗(yàn)證
”。
請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任
。。
本部分由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出
。
本部分由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部電子歸口
()。
本部分起草單位工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院中國(guó)電子儀器行業(yè)協(xié)會(huì)防靜電裝備分
:、
會(huì)信息產(chǎn)業(yè)防靜電產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心陸軍沈陽局駐錦州地區(qū)軍代室火箭軍駐天津地區(qū)軍代室
、、、、
航天長(zhǎng)峰朝陽電源有限公司深圳市亨達(dá)洋靜電技術(shù)有限公司
、。
本部分主要起草人梁棟棟蔡利花孫延林宋競(jìng)男張大用傅翾高海燕劉鐵軍劉建華
:、、、、、、、、、
何建平劉清松孫建波
、、。
Ⅰ
GB/T3797732—2019/IEC61340-3-22006
.:
靜電學(xué)第3-2部分靜電效應(yīng)的模擬
:
方法機(jī)器模型MM的靜電放電試驗(yàn)波形
()
1范圍
的本部分規(guī)定了用于模擬機(jī)器模型的靜電放電電流波形和用于產(chǎn)生和
GB/T37977(MM)(ESD)
驗(yàn)證這些波形的設(shè)備的基本要求
。
本部分適用于在一般試驗(yàn)方法中所用的以及在材料電子元器件組件或產(chǎn)品的敏感度試驗(yàn)
,、、ESD
或性能評(píng)估試驗(yàn)中使用的電流波形這些電流波形在不通電半導(dǎo)體器件中的特定
MMESD。MMESD
應(yīng)用由規(guī)定
IEC60749-27。
2術(shù)語和定義
下列術(shù)語和定義適用于本文件
。
21
.
受試樣品unitundertestUUT
;
經(jīng)受試驗(yàn)的材料電子元器件組件或產(chǎn)品
MMESD、、。
22
.
待試樣品失效failureofunitundertest
在試驗(yàn)后出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)參數(shù)不合格的情況
UUTMMESD。
23
.
ESD耐受電壓electrostaticdischargewithstandvoltage
不會(huì)引起參數(shù)超差失效可施加的最大電壓在低于該電壓時(shí)所有
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