犐犆犛１９．０２０

犓０４

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２４２３．５９—２００８

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第２部分：試驗(yàn)方法

試驗(yàn)犣／犃犅?tīng)蜖茽瑁簻囟龋ǖ蜏?、高溫）?/p>

低氣壓／振動(dòng)（隨機(jī)）綜合

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犘犪狉狋２：犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊—犜犲狊狋犣／犃犅?tīng)蜖茽瑁籂脿餇頎鉅闋顮鍫錉魻鍫頎馉鍫驙釥魻鯛驙澹銧餇鞝錉釥顮錉锠鍫釥簦?/p>

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２００８１２３０發(fā)布２００９１１０１實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書(shū)

犌犅／犜２４２３．５９—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３定義和術(shù)語(yǔ)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４一般說(shuō)明!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

５試驗(yàn)設(shè)備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

６樣品的安裝!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

７嚴(yán)酷等級(jí)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

８預(yù)處理!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

９初始檢測(cè)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

１０試驗(yàn)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

１１中間檢測(cè)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

１２恢復(fù)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

１３最終檢測(cè)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

１４失效判據(jù)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

１５有關(guān)規(guī)范應(yīng)提供的信息!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

附錄Ａ（資料性附錄）導(dǎo)則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

附錄Ｂ（資料性附錄）ＧＢ／Ｔ２４２３的組成部分!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１０

Ⅰ

書(shū)

犌犅／犜２４２３．５９—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ２４２３《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法》的組成部分見(jiàn)附錄Ｂ。

本部分為ＧＢ／Ｔ２４２３的第５９部分。

本部分的附錄Ａ、附錄Ｂ為資料性附錄。

本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并歸口。

本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所、電信科學(xué)技術(shù)第一研究所、中國(guó)電信股份有限公司

廣東研究院、北京航空航天大學(xué)。

本部分主要起草人：紀(jì)春陽(yáng)、魏蓓、解禾、陳健兒、吳颯、陽(yáng)川。

Ⅲ

犌犅／犜２４２３．５９—２００８

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第２部分：試驗(yàn)方法

試驗(yàn)犣／犃犅?tīng)蜖茽瑁簻囟龋ǖ蜏?、高溫）?/p>

低氣壓／振動(dòng)（隨機(jī)）綜合

１范圍

ＧＢ／Ｔ２４２３的本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）／低氣壓／振動(dòng)（隨機(jī)）綜合試驗(yàn)的基本要求、嚴(yán)酷等

級(jí)、試驗(yàn)程序以及其他技術(shù)細(xì)則。

本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）、低氣壓和振動(dòng)（隨機(jī)）綜合作用下的適應(yīng)性。有溫度變

化的綜合試驗(yàn)可參考本部分。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)ＧＢ／Ｔ２４２３的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分。然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＧＢ／Ｔ２４２２電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語(yǔ)

ＧＢ／Ｔ２４２３．１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ａ：低溫（ＧＢ／Ｔ２４２３．１—

２００８，ＩＥＣ６００６８２１：２００７，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２電工電子產(chǎn)品環(huán)境第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ｂ：高溫（ＧＢ／Ｔ２４２３．２—２００８，

ＩＥＣ６００６８２２：２００７，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ｍ：低氣壓試驗(yàn)方法（ＧＢ／Ｔ

２４２３．２１—２００８，ＩＥＣ６００６８２１３：１９８３，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ｚ／ＢＭ：高溫／低氣壓綜合試

驗(yàn)（ＧＢ／Ｔ２４２３．２６—２００８，ＩＥＣ６００６８２４１：１９７６，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．４３電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)