標準解讀

《GB/T 24198-2009 鎳鐵 鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻和銅含量的測定 波長色散X-射線熒光光譜法(常規(guī)法)》是一項國家標準,專門針對鎳鐵中鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻及銅等元素含量的測定方法進行了規(guī)定。該標準采用波長色散X-射線熒光光譜技術(shù)作為主要分析手段,適用于各種形態(tài)的鎳鐵樣品。

標準詳細描述了使用波長色散X-射線熒光光譜儀進行元素分析的具體步驟,包括樣品準備、儀器校準、數(shù)據(jù)采集與處理等方面的要求。其中,對于樣品制備過程有著嚴格的規(guī)定,確保所有待測樣品都能達到一致的狀態(tài),以便于準確測量;而關(guān)于儀器設置,則給出了推薦的操作參數(shù)范圍,以保證不同實驗室間結(jié)果的一致性和可比性。

此外,《GB/T 24198-2009》還強調(diào)了質(zhì)量控制的重要性,建議通過定期檢查設備性能以及參與能力驗證活動等方式來監(jiān)控測試系統(tǒng)的穩(wěn)定性與準確性。同時,也提供了如何評估不確定度的方法指導,幫助用戶更好地理解和解釋實驗結(jié)果。

該標準為相關(guān)行業(yè)提供了一個統(tǒng)一且科學有效的檢測依據(jù),有助于提高鎳鐵產(chǎn)品質(zhì)量管理水平,并促進國際貿(mào)易交流。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2009-07-08 頒布
  • 2010-04-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 24198-2009鎳鐵鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻和銅含量的測定波長色散X-射線熒光光譜法(常規(guī)法)_第1頁
GB/T 24198-2009鎳鐵鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻和銅含量的測定波長色散X-射線熒光光譜法(常規(guī)法)_第2頁
GB/T 24198-2009鎳鐵鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻和銅含量的測定波長色散X-射線熒光光譜法(常規(guī)法)_第3頁

文檔簡介

犐犆犛77.100

犎11

中華人民共和國國家標準

犌犅/犜24198—2009

鎳鐵鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻和銅含量的

測定波長色散犡射線熒光光譜法

(常規(guī)法)

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(犚狅狌狋犻狀犲犿犲狋犺狅犱)

20090708發(fā)布20100401實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

犌犅/犜24198—2009

前言

本標準的附錄A和附錄B為規(guī)范性附錄。

本標準由中國鋼鐵工業(yè)協(xié)會提出。

本標準由全國生鐵及鐵合金標準化技術(shù)委員會歸口。

本標準主要起草單位:酒泉鋼鐵(集團)有限責任公司。

本標準主要起草人:朱衛(wèi)華、孫宇光、王昊、付寶榮。

犌犅/犜24198—2009

鎳鐵鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻和銅含量的

測定波長色散犡射線熒光光譜法

(常規(guī)法)

警告:使用本標準的人員應有正規(guī)實驗室工作實踐經(jīng)驗。本標準未指出所有可能的安全問題。使

用者有責任采取適當?shù)陌踩徒】荡胧⒈WC符合國家有關(guān)法規(guī)規(guī)定的條件。

1范圍

本標準規(guī)定了用波長色散X射線熒光光譜法測定鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻和銅的含量。

本方法適用于電爐、感應爐、轉(zhuǎn)爐等鑄態(tài)或鍛軋鎳鐵的測定。各元素測定范圍如表1。

表1元素及測定范圍

分析元素測定范圍(質(zhì)量分數(shù))/%

Ni12.0~60.0

Si0.10~2.0

P0.01~0.15

Mn0.05~0.50

Co0.30~1.00

Cr0.05~1.00

Cu0.05~1.5

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用標準,其隨后所有

的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修改版均不適用于本標準,然而,鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些標準的最新版本。凡是不注日期的引用標準,其最新版本適用于本標準。

GB/T4010鐵合金化學分析用試樣的采取和制備

GB/T6379.1測量方法與結(jié)果的準確度(正確度與精密度)第1部分:總則與定義

(GB/T6379.1—2004,ISO57251:1994,IDT)

GB/T6379.2測量方法與結(jié)果的準確度(正確度與精密度)第2部分:確定標準測量方法重復

性和再現(xiàn)性的基本方法(GB/T6379.2—2004,ISO57252:1994,IDT)

GB/T16597冶金產(chǎn)品分析方法X射線熒光光譜法通則

GB/T20066鋼和鐵化學成分測定用試樣的取樣和制樣方法(GB/T20066—2006,ISO14284:

1996,IDT)

3原理

X射線管產(chǎn)生的初級X射線照射到平整、光潔的樣品表面上時,產(chǎn)生的特征X射線經(jīng)晶體分光后,

探測器在選擇的特征波長相對應的

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