標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 14056-1993 是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn),全稱為《表面污染測定 第一部分:β發(fā)射體(最大β能量大于0.15MeV)和α發(fā)射體》。該標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)定了對β發(fā)射體及α發(fā)射體造成的表面污染水平進(jìn)行測量的方法、儀器要求、測量程序以及如何處理和報告測量結(jié)果。
標(biāo)準(zhǔn)適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)適用于檢測那些最大β衰變能量超過0.15兆電子伏特(MeV)的放射性核素,以及α發(fā)射體在各種表面造成的污染情況。這些表面可能包括但不限于工作臺面、設(shè)備、人員防護(hù)裝備、以及環(huán)境中的其他物體。
主要內(nèi)容概述
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術(shù)語定義:首先明確了與表面污染測定相關(guān)的專業(yè)術(shù)語和定義,確保了在執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)時的統(tǒng)一理解和操作。
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測量原理與方法:介紹了用于測定表面污染的兩種基本方法——直接測量法和擦拭法。直接測量法是利用輻射探測器直接靠近或接觸表面進(jìn)行測量;擦拭法則是通過擦拭表面并將擦拭材料置于探測器前進(jìn)行測量,以評估可轉(zhuǎn)移性污染。
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測量儀器要求:詳細(xì)說明了進(jìn)行表面污染測量時所需使用的輻射探測器(如GM計數(shù)管、半導(dǎo)體探測器等)的技術(shù)性能要求,包括探測效率、能量響應(yīng)特性、背景計數(shù)率等,確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
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測量程序:規(guī)定了詳細(xì)的測量步驟,包括測量前的準(zhǔn)備、采樣區(qū)域的選擇、采樣方式、測量時間的確定、以及如何避免交叉污染和背景干擾等關(guān)鍵操作細(xì)節(jié)。
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數(shù)據(jù)處理與結(jié)果報告:指導(dǎo)如何正確處理測量數(shù)據(jù),包括統(tǒng)計分析、誤差計算,并規(guī)定了報告格式和內(nèi)容,要求報告應(yīng)包含測量條件、測量結(jié)果、不確定度分析等信息,以便于結(jié)果的審核和比較。
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質(zhì)量控制:強(qiáng)調(diào)了實施質(zhì)量保證措施的重要性,包括定期校準(zhǔn)測量設(shè)備、使用標(biāo)準(zhǔn)源進(jìn)行比對試驗等,以確保測量結(jié)果的一致性和準(zhǔn)確性。
實施意義
該標(biāo)準(zhǔn)為核設(shè)施、放射性實驗室、醫(yī)療單位等相關(guān)領(lǐng)域提供了統(tǒng)一、科學(xué)的表面污染監(jiān)測和評價方法,有助于控制放射性污染,保護(hù)工作人員和公眾健康,同時對環(huán)境保護(hù)和放射性安全管理具有重要意義。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 14056.1-2008
- 1993-01-04 頒布
- 1993-07-01 實施


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GB/T 14056-1993表面污染測定第一部分:β發(fā)射體(最大β能量大于0.15MeV)和α發(fā)射體-免費(fèi)下載試讀頁文檔簡介
UDc.614.73F74中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T_14056一93表面污染測定第一部分發(fā)射體(最大β能量大于0.15MeV)和α發(fā)射體Evaluationofsurfacecontamination-Part1:Beta-emitters(maximumbetaenergygreaterthan0.15MeV)andalphaemitters1993-01-04發(fā)布1993-07-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)表染面定第一部分β發(fā)射體(最大β能量大于0.15MeV)和α發(fā)射體GB/T14056-93Evaluationofsurfacecontamination-PartT:Beta-emitters(maximumbetaenergygreaterthan0.15MeV)andalphaemitters本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國際標(biāo)準(zhǔn)ISO7503—1一1988《表面污染測定第一部分:發(fā)射體(最大B能量大于0.15MeV)和a發(fā)射體》主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測定β發(fā)射體(最大β能量大于0.15MeV)和“發(fā)射體表面污染的方法,本標(biāo)準(zhǔn)適用于以單位面積放射性活度表示的設(shè)備、設(shè)施、放射性物質(zhì)的容器以及密封源的表面污染測定。本標(biāo)準(zhǔn)僅限于符合下述條件的B發(fā)射體和“發(fā)射體:“。B粒子加單能電子的粒子產(chǎn)生率為每100次蠅變接近發(fā)射出100個粒子;“粒子的粒子產(chǎn)生率為每100次脫變接近發(fā)射出100個粒子:β發(fā)射體詳見附錄八(補(bǔ)充件)中表A3。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于皮膚和工作服的污染測定2引用標(biāo)準(zhǔn)GB5202a,B和a-B表面污染測量儀與監(jiān)測儀(B8703輻射防護(hù)規(guī)定GB12128用于校準(zhǔn)表面污染監(jiān)測儀的參考源_B發(fā)射體和&發(fā)射體3術(shù)語3.1表面污染表面具有放射性物質(zhì)的污染3.2固定的表面污染在正常工作條件"下以不可轉(zhuǎn)移的方式附著在表面的污染。注:1)術(shù)語“正常工作條件”是假設(shè)在該條件下,可能造成去除表面污染的機(jī)械作用的最大強(qiáng)度跟定為人體與表面正常的非事故性的接觸(有防護(hù)服和無防護(hù)服)或人直接操作的設(shè)備零部件與表面之間以類似的強(qiáng)度非破壞性接觸。擦技法的作用強(qiáng)
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