【W(wǎng)ord版本下載可任意編輯】電感設(shè)計(jì)的3個(gè)原則由磁滯回線圖可以看出，H加大時(shí)，B值也同時(shí)增加，但H加大到一定程度后，B值的增加就變得越來越緩慢，直至B值不再變化(u值越來越小，直至為零)，這時(shí)磁性材料便飽和了。通常電路中使用的電感都不希望電感飽和（特殊應(yīng)用除外），其工作曲線應(yīng)在飽和曲線以內(nèi)，Hdc稱為直流磁場(chǎng)強(qiáng)度或直流工作點(diǎn)。

對(duì)于儲(chǔ)能濾波電感，由于需要承受一定的直流電流（低頻電流相對(duì)與高頻開關(guān)電流也可視為直流），也就是存在直流工作點(diǎn)Hdc不為零。磁芯需加氣隙才能承受較大的直流磁通，如下列圖，所以該類電感通常選用鐵粉芯做磁芯（有分散氣隙）。

由于磁芯加了分布?xì)庀?，其飽和過程就不是一個(gè)突變而是一個(gè)漸變的過程，所以電感的不飽和問題就轉(zhuǎn)化為電感感值在直流量下的合理下降問題。

對(duì)于PFC、BOOST、BUCK以及DC-DC電感，電感的取值通常由設(shè)計(jì)要求紋波電流（RippleCurrent）來決定（通常設(shè)計(jì)指標(biāo)是紋波電流百分比）。

其中，對(duì)于BUCK和DC-DC電感，其直流工作點(diǎn)（IAVG）相對(duì)恒定，如圖這是在直流工作點(diǎn)時(shí)，所需的電感感值。

可從磁芯廠商提供的圖表或計(jì)算公式得到。通常，無論如何設(shè)計(jì)，在直流工作點(diǎn)處，都不應(yīng)低于初始磁導(dǎo)率的30％，否則將導(dǎo)致感值擺動(dòng)太大而對(duì)控制器產(chǎn)生不利影響。

對(duì)于PFC、BOOST電感，其直流工作點(diǎn)是50Hz/60Hz的工頻信號(hào)，并不固定，如下列圖。

此時(shí)，紋波電流百分比定義為紋波電流與額定輸入電壓下的電感電流峰值之比。

注意，BOOST拓?fù)涞募y波電流發(fā)生在輸入瞬時(shí)電壓為BUS電壓一半處，此時(shí)占空比為0.5。

，注意，此處的直流工作點(diǎn)是輸入瞬時(shí)電壓為BUS電壓一半時(shí)對(duì)應(yīng)的輸入瞬時(shí)電流。

同時(shí)，在惡劣條件的直流工作點(diǎn)下（低壓滿載輸入電流的峰值），也都不應(yīng)低于初始磁導(dǎo)率的30％。

對(duì)于INV電感，電感的取值通常看控制器能否可靠限流來決定。

由于INV電感需承受RCD等非線性沖擊負(fù)載，所以UPS通常有波峰因數(shù)比大于3：1的要求，考慮實(shí)際逆變限流會(huì)稍大于3:1，通常取到4：1，所以，INV電感的直流工作點(diǎn)可以設(shè)為4:1（4倍于額定負(fù)載下的電感電流有效值）。當(dāng)然，若波峰因數(shù)規(guī)格要求改變，需要做相應(yīng)調(diào)整。

直流工作點(diǎn)下，μdc%不應(yīng)低于初始磁導(dǎo)率的30％，否則很可能造成限流不可靠而損壞INV開關(guān)管。

感值確定后，選擇恰當(dāng)?shù)拇判荆橐?guī)格可得其AL值，用以下公式就可算出匝數(shù)。

原則二：電感損耗導(dǎo)致的溫升在允許的范圍內(nèi)（考慮使用壽命）電感主要由磁芯、線圈組成，所以其溫度要求也由這兩方面的限制構(gòu)成。

磁芯（Core）：

儲(chǔ)能電感的磁芯有鐵粉芯、鐵硅鋁粉芯、鐵氧體等構(gòu)成，目前使用多的是鐵粉芯。鐵粉芯存在高溫老化導(dǎo)致失效的問題，其失效機(jī)理可解釋如下：鐵粉芯是由鐵磁性粉粒與絕緣介質(zhì)混合壓制而成，絕緣介質(zhì)通常是高分子聚合物－樹脂類構(gòu)成，其在高溫下絕緣性能會(huì)慢慢劣化，鐵磁材料間的電阻會(huì)越來越小，從而磁芯的渦流損耗越來越大，大的損耗導(dǎo)致更高的溫升，這樣便形成了正反應(yīng)，這稱為熱跑脫效應(yīng)（ThermalRunaway）。鐵粉芯磁芯的壽命便是由熱跑脫效應(yīng)決定的，其與溫度、工作頻率和磁通密度都有關(guān)系。目前公司使用較多的MicroMetals公司的鐵粉芯存在上述問題。但也需提醒的是，如絕緣介質(zhì)無高溫劣化問題，磁芯便不會(huì)有熱跑脫效應(yīng)，這與各公司的使用的材料和工藝有關(guān)，并不。

磁芯的溫升與磁芯損耗直接相關(guān)，如前所述，磁芯損耗主要由磁滯損耗和渦流損耗構(gòu)成，對(duì)于粉芯類磁芯，由于磁材料間絕緣阻抗很大，渦流損耗幾乎可以忽略不計(jì)（但熱跑脫效應(yīng)是由于渦流損耗越來越大引起）。磁滯損耗只與頻率和交流磁通密度（磁滯回線面積）有關(guān)，與其直流工作點(diǎn)磁通密度關(guān)系不大，以下公式是MicroMetals公司鐵粉芯磁芯損耗計(jì)算的經(jīng)驗(yàn)公式：

其中為開關(guān)工作頻率，B（單位Gauss）為一個(gè)開關(guān)周期內(nèi)交流磁通密度的峰值，其為個(gè)開關(guān)周期內(nèi)交流磁通密度峰峰值的一半（）。為常數(shù)，與材質(zhì)有關(guān)，常用材質(zhì)常數(shù)見下表。

對(duì)于BUCK和DC-DC電感，穩(wěn)態(tài)工作時(shí)，脈寬也基本穩(wěn)定，所以B值很容易確定。但對(duì)于PFC、BOOST和INV電感，其脈寬一直是變動(dòng)的，B值也一直是變動(dòng)的，所以在一個(gè)工頻周期內(nèi)的瞬時(shí)損耗也是不定的，這時(shí)的損耗應(yīng)以一個(gè)工頻周期的平均值Pcore-loss-avg來衡量。

我們知道電流紋波發(fā)生在輸入（或輸出）是輸出（或輸入）電壓一半的時(shí)候得到，其實(shí)此時(shí)也是瞬時(shí)交流磁通密度到達(dá)的時(shí)候，稱之為，所以此時(shí)的瞬時(shí)損耗也到達(dá)。經(jīng)過理論計(jì)算與實(shí)踐檢驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)惡劣條件下Pcore-loss-peak與Pcore-loss-avg有如下關(guān)系：

其中K與電路拓?fù)湟约拜敵鲭妷赫{(diào)制比

Vo_pp/2VBUS

有關(guān)。下列圖是半橋和全橋逆變拓?fù)涞碾妷赫{(diào)整率與K的關(guān)系。

平均功率與峰值功率比和電壓調(diào)整率關(guān)系圖

目前BUS電壓介于340V~400V間，所以電壓調(diào)整率介于0.7~0.9間，由圖可看出K介于0.35~0.6范圍。

線圈（Coil）：

線圈的損耗是電流在導(dǎo)線電阻上產(chǎn)生的。電感中導(dǎo)線的電流通常包含工頻或直流成分的低頻電流和開關(guān)頻率的高頻電流。

磁損與銅損的比例：

磁芯的材料（除硅鋼片較好外）通常是熱的不良導(dǎo)體，熱阻較高，而銅線是熱的良導(dǎo)體，熱阻很小。再加上通常用的環(huán)形磁芯都是線圈包住鐵芯（內(nèi)鐵式）。因此線圈上的熱量可以較磁芯上的熱量更好地散發(fā)出去。為保證鐵芯溫度可以受控制

原則三：電感的工藝要求可以達(dá)成

電感理論設(shè)計(jì)完成后，就需要考慮工程實(shí)現(xiàn)的問題了。

需考慮的工藝問題有：

1、電感線圈是否可繞得下

2、線圈的繞法

電感線圈的繞法主要有循環(huán)式、往復(fù)式、漸進(jìn)式三種。

循環(huán)式繞法是導(dǎo)線一直沿同一個(gè)方向繞制，多層導(dǎo)線之間相互疊壓。

優(yōu)點(diǎn)：可機(jī)器自動(dòng)繞制，繞線系數(shù)高。

缺點(diǎn)：繞線起始端與結(jié)束端幾乎沒有間距，層間壓差大，高壓應(yīng)用時(shí)易導(dǎo)致因壓差過高而導(dǎo)線絕緣失效。

往復(fù)式繞法是導(dǎo)線繞完一層后反方向再繞下一層后，多層導(dǎo)線之間相互疊壓。起始端與結(jié)束端有間距分開。

優(yōu)點(diǎn)：可機(jī)器自動(dòng)繞制；起始端與結(jié)束端有間距分開，可部分解決壓差大導(dǎo)致的導(dǎo)線絕緣失效問題。

缺點(diǎn)：繞線起始端與結(jié)束端有間距分開，繞線系數(shù)不高。

漸進(jìn)式繞法是導(dǎo)線由起始端沿一個(gè)方向繞到結(jié)束端，導(dǎo)線不分層。

優(yōu)點(diǎn)：導(dǎo)線間壓差小，繞線起始端與結(jié)束端有間距分開，適合高壓應(yīng)用。

缺點(diǎn)：需手工繞制，效率低，成本高；繞線零亂