序文 1 12引用規(guī)格 13概要 2 2 25.1初期検査 2 2 2 47個別規(guī)格に規(guī)定する事項 4この規(guī)格は,工業(yè)標準化法第12條第1項の規(guī)定に基づき,財団法人光産業(yè)技術(shù)振興協(xié)會(OITDA)及び財団法人日本規(guī)格協(xié)會(JSA)から,工業(yè)標準原案を具して日本日本工業(yè)標準調(diào)查會の審議を経て,経済産業(yè)大臣が制定した日本工業(yè)規(guī)格である。この規(guī)格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規(guī)格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵觸する可能性があることに注意を喚起する。経済産業(yè)大臣及び日本工業(yè)標準調(diào)査會は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実用新案権に関わる確認について,責任はもたない。JISC61300-1第1部:通則JISC61300-2-2第2-2部:繰返しかん合試験JISC61300-2-12第2-12部：落下衙緊試驗JISC61300-2-14第2-14部:光パワ一損傷のしきい値試験JISC61300-2-19第2-19部:高溫高濕試験(定常狀態(tài))JISC61300-2-46第2-46部:濕熱サイクル試験JISC61300-3-4第3-4部:損失測定JISC61300-3-26第3-26部:光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定JISC61300-3-28第3-28部:過渡損失測定測定JISC61300-3-31第3-31部:光ファイバ光源の結(jié)合パワー比測定日本工業(yè)規(guī)格JIS光ファイバ接続デバイス及び光受動部品一基本試験及び測定手順ー第2-2部:繰返しかん合試験序文changesinattenuationandretuIEC61300-3-1,Fibreoptici2C61300-2-2:2011(IEC61供試品の締結(jié)機構(gòu)の結(jié)合及び離脫を繰り返す。供武品が複數(shù)の締結(jié)機構(gòu)をもつ場合には,その他の全ての締結(jié)機構(gòu)を正しく結(jié)合した狀態(tài)で行う。次の裝置を用いる。4.1取付具供試品の片方をバイスなどの取付具で適切に保持する。4.2繰返し手段供試品の結(jié)合及び離脫に必要な力又はトルクを発生する手段は,通常,手による繰返しとするが,試験機を用いてもよい。4.3測定裝置試験中の光學特性を測定するために,供試品に接続する測定裝説は,個別規(guī)格に規(guī)定がない場合,JISC61300-3-4に規(guī)定する測定裝置を用いる。個別規(guī)格に従い,供試品の初期測定を行う。個別規(guī)格に規(guī)定がない場合,1回のかん合は,供試品の締結(jié)機構(gòu)を完全に結(jié)合した後,離脫して完結(jié)する。結(jié)合から次の結(jié)合までの動作は,3秒間以上の間隔をおいて行う。複數(shù)の締結(jié)機構(gòu)をもつ場合には,全ての機構(gòu)の締結(jié)を正しく行う。締結(jié)動作は,製造業(yè)者の指示に従う。プラグーアダプタープラグの構(gòu)成の場合には,片端のプラグだけで結(jié)合及び離脫を繰り返す(図1參照)。プラグーソケットの構(gòu)成の場合には,プラグで結(jié)合及び離脫を繰り返す(図2參照)。光源側(cè)光検出器側(cè)図1ープラグーアダプタープラグの場合の繰返しかん合試験の構(gòu)成光源側(cè)光源側(cè)光検出器側(cè)図2ープラグーソケットの場合の繰返しかん合試験の構(gòu)成の規(guī)定に従って抑入掛失及び反射滅変上の変化最を,試験中に常にモニタできる狀態(tài)にしておかなければならない。判定は,測定結(jié)果が個別規(guī)格を満足しているか否かで行う。測定條件は,次の測定條件A·測定條件Bから選択する。3C61300-2-2:2011(IEC61300抓入払失及び反射滅変上の測定結(jié)果は,每川のかん合ごとに記する。拆入払失又は反射滅裏能が個別規(guī)格を満たさない場合,製造業(yè)者の指示に従って光コネクタの清掃を行い,試験を再開する。光コネクタ光コネクタ清茄川數(shù)は,20川以下とする(かん合川數(shù)の4%以下)。さに取付具で固定する。かん合ペアの光コネクタを清掃し,揮入損失及び反射減衰量の初期特性を測定しo-1清掃(両側(cè)の光コネクタ)24-1結(jié)合24-3清掃(結(jié)合及び離脫を繰り返すプラグ側(cè)だけ)25-2特性測定25-3離脫49-2離脫49-3清掃(両側(cè)の光コネクタ)50-3離脫74-2離脫74-3清掃(結(jié)合及び離脫を繰り返すプラグ側(cè)だけ)75-2特性測定75-3離脫4C61300-2-2:2011(IE199-3清掃(両側(cè)の光コネクタ)200-1結(jié)合規(guī)定された繰返しかん合回數(shù)が終了した後,供試品を清掃しても光學特性の基準を満たさない場合は,最大2川の清郝をLてもよい。試験終了後,IEC61300-3-1の規(guī)定に従い,次の事項について外観検査を行う。一かん合の不具合(完全に結(jié)合できない,又は完全に離脫できない)一かん合部における破損,欠け又はきず厳しさの度合いは,繰返しかん合回數(shù)で