軟件測(cè)評(píng)師試題及答案

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試的目的是：

A.證明軟件是正確的

B.證明軟件存在錯(cuò)誤

C.發(fā)現(xiàn)軟件中的缺陷

D.修復(fù)軟件中的缺陷

答案：C

2.黑盒測(cè)試不關(guān)心的是：

A.輸入數(shù)據(jù)

B.輸出結(jié)果

C.程序代碼

D.程序功能

答案：C

3.軟件測(cè)試的V模型中，測(cè)試活動(dòng)應(yīng)該在：

A.編碼階段之后

B.需求分析階段之后

C.設(shè)計(jì)階段之后

D.維護(hù)階段之后

答案：A

4.以下哪個(gè)不是軟件測(cè)試的類型：

A.功能測(cè)試

B.性能測(cè)試

C.安全測(cè)試

D.代碼測(cè)試

答案：D

5.軟件缺陷的嚴(yán)重性分為幾個(gè)等級(jí)？

A.1個(gè)

B.2個(gè)

C.3個(gè)

D.4個(gè)

答案：D

6.軟件測(cè)試中的回歸測(cè)試是指：

A.測(cè)試軟件的新功能

B.測(cè)試軟件的修改部分

C.測(cè)試軟件的所有功能

D.測(cè)試軟件的非功能部分

答案：B

7.軟件測(cè)試中的“測(cè)試用例”不包括以下哪項(xiàng)內(nèi)容：

A.測(cè)試數(shù)據(jù)

B.測(cè)試步驟

C.測(cè)試結(jié)果

D.測(cè)試環(huán)境

答案：D

8.軟件測(cè)試中的“缺陷”通常不包括：

A.軟件錯(cuò)誤

B.軟件故障

C.軟件性能問題

D.用戶需求

答案：D

9.軟件測(cè)試中的“缺陷密度”是指：

A.缺陷數(shù)量除以代碼行數(shù)

B.缺陷數(shù)量除以測(cè)試用例數(shù)

C.缺陷數(shù)量除以測(cè)試時(shí)間

D.缺陷數(shù)量除以缺陷報(bào)告數(shù)

答案：A

10.軟件測(cè)試中的“壓力測(cè)試”是指：

A.測(cè)試軟件在正常工作條件下的性能

B.測(cè)試軟件在極端工作條件下的性能

C.測(cè)試軟件在用戶最大負(fù)載下的性能

D.測(cè)試軟件在無負(fù)載下的性能

答案：B

二、多項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試的基本原則包括：

A.測(cè)試顯示存在缺陷

B.窮盡測(cè)試是不可能的

C.早期測(cè)試

D.缺陷聚集

答案：ABCD

2.軟件測(cè)試的目的是：

A.驗(yàn)證軟件的功能

B.驗(yàn)證軟件的性能

C.驗(yàn)證軟件的安全性

D.驗(yàn)證軟件的可用性

答案：ABCD

3.軟件測(cè)試的類型包括：

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

答案：ABCD

4.軟件測(cè)試的文檔包括：

A.測(cè)試計(jì)劃

B.測(cè)試用例

C.測(cè)試報(bào)告

D.缺陷報(bào)告

答案：ABCD

5.軟件測(cè)試中的“缺陷生命周期”包括：

A.提交

B.確認(rèn)

C.修復(fù)

D.驗(yàn)證

答案：ABCD

6.軟件測(cè)試中的“測(cè)試覆蓋率”可以指：

A.語句覆蓋

B.條件覆蓋

C.路徑覆蓋

D.函數(shù)覆蓋

答案：ABCD

7.軟件測(cè)試中的“性能測(cè)試”可以包括：

A.響應(yīng)時(shí)間測(cè)試

B.并發(fā)測(cè)試

C.壓力測(cè)試

D.容量測(cè)試

答案：ABCD

8.軟件測(cè)試中的“安全性測(cè)試”可以包括：

A.認(rèn)證測(cè)試

B.授權(quán)測(cè)試

C.數(shù)據(jù)加密測(cè)試

D.審計(jì)跟蹤測(cè)試

答案：ABCD

9.軟件測(cè)試中的“可用性測(cè)試”可以包括：

A.易用性測(cè)試

B.可訪問性測(cè)試

C.可學(xué)習(xí)性測(cè)試

D.可記憶性測(cè)試

答案：ABCD

10.軟件測(cè)試中的“兼容性測(cè)試”可以包括：

A.操作系統(tǒng)兼容性

B.數(shù)據(jù)庫(kù)兼容性

C.網(wǎng)絡(luò)兼容性

D.硬件兼容性

答案：ABCD

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試可以完全替代人工測(cè)試。（錯(cuò)誤）

2.軟件測(cè)試的目的是發(fā)現(xiàn)盡可能多的軟件缺陷。（正確）

3.軟件測(cè)試可以證明軟件不存在任何缺陷。（錯(cuò)誤）

4.軟件測(cè)試應(yīng)該在軟件開發(fā)生命周期的后期進(jìn)行。（錯(cuò)誤）

5.軟件測(cè)試中的“回歸測(cè)試”是指重新測(cè)試軟件的所有功能。（錯(cuò)誤）

6.軟件測(cè)試中的“缺陷”是指軟件中的錯(cuò)誤或故障。（正確）

7.軟件測(cè)試中的“缺陷密度”是指缺陷數(shù)量除以代碼行數(shù)。（正確）

8.軟件測(cè)試中的“壓力測(cè)試”是指測(cè)試軟件在正常工作條件下的性能。（錯(cuò)誤）

9.軟件測(cè)試中的“測(cè)試用例”包括測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試步驟。（正確）

10.軟件測(cè)試中的“測(cè)試覆蓋率”是指測(cè)試用例覆蓋的代碼行數(shù)比例。（正確）

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共4題）

1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的目的。

答案：軟件測(cè)試的目的是驗(yàn)證軟件的功能、性能、安全性和可用性，確保軟件產(chǎn)品的質(zhì)量，發(fā)現(xiàn)并修復(fù)軟件中的缺陷，以提高軟件的可靠性和用戶滿意度。

2.描述軟件測(cè)試的基本流程。

答案：軟件測(cè)試的基本流程包括測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試設(shè)計(jì)、測(cè)試實(shí)施、測(cè)試評(píng)估和測(cè)試報(bào)告。測(cè)試計(jì)劃階段確定測(cè)試目標(biāo)和策略；測(cè)試設(shè)計(jì)階段編寫測(cè)試用例；測(cè)試實(shí)施階段執(zhí)行測(cè)試用例并記錄結(jié)果；測(cè)試評(píng)估階段分析測(cè)試結(jié)果和缺陷；測(cè)試報(bào)告階段編寫測(cè)試報(bào)告并提供改進(jìn)建議。

3.解釋什么是軟件測(cè)試中的“缺陷生命周期”。

答案：軟件測(cè)試中的“缺陷生命周期”是指從缺陷被發(fā)現(xiàn)到被修復(fù)并驗(yàn)證的整個(gè)過程。它通常包括缺陷的提交、確認(rèn)、分配、修復(fù)、驗(yàn)證和關(guān)閉等階段。

4.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試中的“性能測(cè)試”包括哪些內(nèi)容。

答案：軟件測(cè)試中的“性能測(cè)試”包括響應(yīng)時(shí)間測(cè)試、并發(fā)測(cè)試、壓力測(cè)試和容量測(cè)試等。這些測(cè)試旨在評(píng)估軟件在不同負(fù)載和條件下的性能表現(xiàn)，確保軟件能夠在預(yù)期的負(fù)載下正常運(yùn)行。

五、討論題（每題5分，共4題）

1.討論軟件測(cè)試的重要性及其在軟件開發(fā)過程中的作用。

答案：軟件測(cè)試是確保軟件質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，它有助于發(fā)現(xiàn)和修復(fù)缺陷，提高軟件的可靠性和用戶滿意度。在軟件開發(fā)過程中，軟件測(cè)試可以早期發(fā)現(xiàn)問題，減少后期修復(fù)的成本和風(fēng)險(xiǎn)，同時(shí)也是驗(yàn)證軟件是否滿足用戶需求的重要手段。

2.討論軟件測(cè)試中的“黑盒測(cè)試”和“白盒測(cè)試”的區(qū)別。

答案：“黑盒測(cè)試”不關(guān)心程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和實(shí)現(xiàn)，只關(guān)注程序的輸入和輸出，通過測(cè)試軟件的功能來發(fā)現(xiàn)缺陷；而“白盒測(cè)試”則需要了解程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和代碼，通過測(cè)試程序的路徑和邏輯來發(fā)現(xiàn)缺陷。

3.討論軟件測(cè)試中的“自動(dòng)化測(cè)試”的優(yōu)勢(shì)和挑戰(zhàn)。

答案：自動(dòng)化測(cè)試的優(yōu)勢(shì)包括提高測(cè)試效率、減少重復(fù)工作、提供一致的測(cè)試結(jié)果等；挑戰(zhàn)包括自動(dòng)化測(cè)試腳本的維護(hù)、對(duì)復(fù)雜場(chǎng)景的測(cè)試覆蓋、以及