ICS31080

CCSL.04

團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)

T/CIE115—2021

電子元器件失效機(jī)理模式及

、

影響分析FMMEA通用方法和程序

()

Generalmethodandrocedureoffailuremechanism

p,

modeandeffectsanalsisFMMEAforelectroniccomonents

y()p

2021-11-22發(fā)布2022-02-01實(shí)施

中國電子學(xué)會(huì)發(fā)布

中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版

T/CIE115—2021

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

一般要求

4…………………2

總則

4.1…………………2

計(jì)劃

4.2FMMEA………………………2

一般分析程序

4.3………………………3

詳細(xì)要求

5…………………3

準(zhǔn)備工作

5.1……………3

層次約定及單元?jiǎng)澐?/p>

5.2………………3

制定編碼體系

5.3………………………4

失效機(jī)理和失效模式確定

5.4…………4

失效影響分析

5.5………………………4

危害性分析

5.6…………………………5

失效機(jī)理應(yīng)力分析及失效物理模型

5.7………………6

失效原因分析

5.8………………………6

改進(jìn)措施

5.9……………7

附錄資料性功率晶體管層次約定和單元?jiǎng)澐质纠?/p>

A()FMMEA……8

附錄資料性功率晶體管表格示例

B()FMMEA……………………12

Ⅰ

T/CIE115—2021

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任

。。

本文件由中國電子學(xué)會(huì)可靠性分會(huì)提出并歸口

。

本文件起草單位工業(yè)和信息化部電子第五研究所中國電子科技集團(tuán)公司第五十五研究所電子

:、、

科技大學(xué)

。

本文件主要起草人來萍陳媛何小琦路國光黃云恩云飛林罡黃洪鐘米金華

:、、、、、、、、。

Ⅲ

T/CIE115—2021

引言

目前國內(nèi)外有關(guān)失效模式及影響分析的標(biāo)準(zhǔn)都是針對系統(tǒng)和整機(jī)的其中我國目前采用

,(FMEA),

的兩個(gè)主要標(biāo)準(zhǔn)中系統(tǒng)可靠性分析技術(shù)失效模式和效應(yīng)分析程序主要針對

,GB/T7826《(FMEA)》

電子設(shè)備等系統(tǒng)國軍標(biāo)故障模式影響及危害性分析指南主要針對軍用航空航天等

,GJB/Z1391《、》、、

裝備系統(tǒng)本文件是針對元器件級的失效模式及影響分析是對系統(tǒng)及整機(jī)級的標(biāo)準(zhǔn)的有效補(bǔ)

。,FMEA

充可保證元器件制造和應(yīng)用方了解和掌握影響元器件可靠性的主要失效機(jī)理模式及原因并預(yù)先采

,、,

取有效的預(yù)防措施支撐元器件的可靠性設(shè)計(jì)生產(chǎn)工藝控制以及整機(jī)用戶的可靠性應(yīng)用

;、。

元器件的核心是在失效模式影響分析的基礎(chǔ)上引入了失效機(jī)理的影響分析對元器件來

FMEA。

說最低層次的分析是失效機(jī)理及其影響的分析這也是不同于系統(tǒng)的主要方面因此元器件的

,,。,

又叫做失效機(jī)理模式及影響分析

FMEA、(FMMEA)。

Ⅳ

T/CIE115—2021

電子元器件失效機(jī)理模式及

、

影響分析FMMEA通用方法和程序

()

1范圍

本文件確立了對電子元器件進(jìn)行失效機(jī)理模式及其影響分析的通用方法和程序

、(FMMEA)。

本文件適用于電子元器件的風(fēng)險(xiǎn)等級分析

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

電工術(shù)語可信性

GB/T2900.99

系統(tǒng)可靠性分析技術(shù)失效模式和影響分析程序

GB/T7826(FMEA)

可靠性維修性保障性術(shù)語

GJB451

故障模式影響及危害性分析指南

GJB/Z1391、

3術(shù)語和定義

和界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GJB451、GB/T2900.99、GJB/Z1391GB/T7826。

31

.

電子元器件electroniccomponent

在電子線路或電子設(shè)備中執(zhí)行電氣電子電磁機(jī)電和光電功能的基本單元

、、、。

注該基本單元可由多個(gè)零件組成通常不破壞是不能將其分解的

:,。

32

.

失效影響failureeffect

某層次單元的失效機(jī)理或模式對本層次單元或?qū)^高層次單元或?qū)ψ罱K產(chǎn)品即電子元器件本

()、、

身的運(yùn)行功能和狀態(tài)產(chǎn)生的后果

、。

注失效影響分為局部影響和最終影響對本層次或相鄰較高層次單元的影響叫局部影響對