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T/CSTM00185—20212021-04-21發(fā)布2021-01請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。本文件由中國材料與試驗(yàn)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)建筑材料領(lǐng)域委員會(huì)非金屬礦產(chǎn)品及制品技術(shù)1高嶺土中游離石英含量的測定方法本文件適用于軟質(zhì)高嶺土產(chǎn)品中游離石英(α-SiO2）的定性與定量測定。其他類型高嶺土產(chǎn)品可參照GB/T8170數(shù)值修約規(guī)則與極限數(shù)值的表每一種礦物晶體具有特定的X射線衍射圖譜，且衍射圖譜中特征峰強(qiáng)度與此，利用標(biāo)樣中礦物含量與其特征衍射峰強(qiáng)度之間的正相關(guān)關(guān)系——K值，以及測量得到的樣品中礦物特征5.3純?chǔ)?SiO2：分析純。6.1X射線衍射儀：衍射角線性度小于0.02°（2θ),角度重現(xiàn)性小于0.3%，分辨率優(yōu)于60%，綜合穩(wěn)26.3高溫爐：調(diào)溫范圍為室溫～1000℃,控溫精度±1℃。環(huán)境要求為：室溫為20℃±2℃,室溫變化小于±1℃；濕度不大于70%。25°~28°--縮分取樣約10.0g，置于800℃高溫爐中灼燒1h，放入干燥器中冷卻至室溫。然后將樣品在瑪瑙研缽9.1標(biāo)樣測定將配制好的高嶺土標(biāo)樣按照第8章要求制備，并將制好的樣品放于樣品臺(tái)，依次完成系統(tǒng)自動(dòng)校準(zhǔn)及試驗(yàn)條件設(shè)定，保存掃描得到的圖譜，獲得標(biāo)樣中α-SiO2衍射峰強(qiáng)度或積分強(qiáng)度9.2試樣測定按第8章要求制備試樣，將制好的試樣放于樣品臺(tái)，依次完成系統(tǒng)校準(zhǔn)及試驗(yàn)條件設(shè)定（試驗(yàn)條件應(yīng)與標(biāo)樣測試條件一致），保存掃描得到的圖譜，獲得試樣中α-SiO2衍3平行測試結(jié)果的算術(shù)平均值，并按GB/T8170w=×A...............w——試樣中α-S

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