ICS31260

CCSL.51

中華人民共和國國家標準

GB/T22453—2025

代替GB/T22453—2008

激光用非線性光學(xué)晶體元件性能測量方法

Non-linearopticalcrystaldevicesmeasuringmethodforlaser

2025-04-25發(fā)布2025-08-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T22453—2025

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

測試條件

4…………………1

環(huán)境條件

4.1……………1

測試儀器及計量要求

4.2………………2

激光安全要求

4.3………………………2

測試方法

5…………………2

激光性能

5.1……………2

二次諧波工作波長

5.1.1(SHG)……………………2

特定波長臨界相位匹配角

5.1.2SHG………………4

特定波長吸收率

5.1.3………………6

光學(xué)均勻性

5.1.4……………………9

波前畸變

5.1.5………………………9

有效通光孔徑

5.1.6…………………9

減反膜剩余反射率

5.1.7……………9

激光損傷閾值

5.1.8…………………10

透光波長范圍

5.1.9…………………10

散射點

5.1.10………………………11

環(huán)境適應(yīng)性試驗方法

5.2………………12

膜層的抗高濕性能

5.2.1……………12

膜層的抗溫度沖擊性能

5.2.2………………………12

測試報告內(nèi)容

6……………12

附錄資料性典型非線性光學(xué)晶體的方程

A()Sellmeier……………13

附錄資料性臨界相位匹配角計算公式

B()……………14

參考文獻

……………………15

圖臨界相位匹配工作波長偏差原理框圖

1SHG………2

圖非臨界相位匹配工作波長范圍測試原理框圖

2SHG………………3

圖負單軸晶體相位匹配示意圖

3…………4

圖正單軸晶體相位匹配示意圖

4…………4

圖雙軸晶體相位匹配方向示意圖

5………………………4

Ⅰ

GB/T22453—2025

圖倍頻轉(zhuǎn)換效率測試原理框圖

6…………5

圖吸收測試原理框圖

7……………………8

圖減反膜剩余反射率測試框圖

8………………………10

圖透光波長范圍測試原理框圖

9………………………10

圖散射點測試原理框圖

10………………11

Ⅱ

GB/T22453—2025

前言

本文件按照標準化工作導(dǎo)則第部分標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件代替硼酸鹽非線性光學(xué)單晶元件質(zhì)量測試方法與

GB/T22453—2008《》,GB/T22453—

相比除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動外主要技術(shù)變化如下

2008,,:

增加了術(shù)語和定義見第章

———“”(3);

刪除了主要測試項目見年版的第章

———“”(20083);

更改了測試的環(huán)境要求相對濕度見第章年版的第章

———、(4,20084);

增加了環(huán)境要求測試儀器及計量要求激光安全要求見

———“”“”“”(4.1、4.2、4.3);

更改了測試方法分類由物理性能加工性能調(diào)整為激光性能并將光學(xué)不均勻性改為

———,“”“”“”,“”

光學(xué)均勻性見第章年版的第章

“”(5,20085);

增加了工作波長特定波長臨界相位匹配角透光波長范圍膜層的抗高濕性能

———SHG、SHG、、、

膜層的抗溫度沖擊的測試方法見第章

(5);

更改了特定波長吸收的測試方法見第章年版的第章

———(5,20085);

增加了特定波長吸收率的測試方法光熱透鏡法分光光度計法見第章

———“”“”(5);

刪除了尺寸公差角度偏差不平行度不平面度不垂直度表面粗糙度等指標見年版

———、、、、、(2008

的第章

5);

增加了測試報告見第章

———(6)。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責(zé)任

。。

本文件由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出

。

本文件由全國光輻射安全和激光設(shè)備標準化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC284)。

本文件起草單位中國科學(xué)院福建物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究所閩都創(chuàng)新實驗室福建福晶科技股份有限公司

:、、、

中國科學(xué)院空天信息創(chuàng)新研究院中國電子科技集團公司第二十六研究所江西省檢驗檢測認證總院工

、、

業(yè)產(chǎn)品檢驗檢測院北京雷生強式科技有限責(zé)任公司成都東駿激光股份有限公司中國電子科技集團

、、、

公司第十一研究所中國兵器工業(yè)第二〇九研究所大族激光科技產(chǎn)業(yè)集團股份有限公司中國計量

、、、

大學(xué)

。

本文件主要起草人鄭熠王帥華黃鑫鄭發(fā)鯤吳少凡麻云鳳張星陳偉丁雨憧何彤斌張戈

:、、、、、、、、、、、

朱建慧周世斌孫雨彤郭麗賈凱秦來順李丙軒陳旻羅興木柴賢丹

、、、、、、、、、。

本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為

:

年首次發(fā)布為

———2008GB/T22453—2008;

本次為第一次修訂

———。

Ⅲ

GB/T22453—2025

激光用非線性光學(xué)晶體元件性能測量方法

1范圍

本文件規(guī)定了非線性光學(xué)晶體元件測試條件描述了相應(yīng)的測試方法規(guī)定了測試報告內(nèi)容的

,,

要求

。

本文件適用于低溫相偏硼酸鋇β簡稱三硼酸鋰簡稱磷酸二氫鉀

(-BaB2O4,BBO)、(LiB3O5,LBO)、

簡稱磷酸鈦氧鉀簡稱鈮酸鋰簡稱硫鎵銀

(KH2PO4,KDP)、(KTiOPO4,KTP)、(LiNbO3,LN)、

簡稱碘酸鉀的測量活動其他非線性光學(xué)晶體元件的測量活動參照使用

(AgGaS2,AGS)、(KIO3)。。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

激光產(chǎn)品的安全第部分設(shè)備分類和要求

GB/T7247.11:

無色光學(xué)玻璃測試方法第部分光學(xué)均勻性斐索平面干涉法

GB/T7962.22:

固體激光材料名詞術(shù)語

GB/T11293

激光棒波前畸變的測量方法

GB/T11297.1

激光術(shù)語

GB/T15313

激光器和激光相關(guān)設(shè)備激光損傷閾值測試方法