ICS25.220.20H20中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T8754一2006代替GB/T8754-1988鋁及鋁合金陽極氧化陽極氧化膜絕緣性的測定擊穿電位法AnodizingofaluminiumanditsalloysInsulationcheckbymeasurementofbreakdownpotential(ISO2376：1972,Anodization(anodieoxidation)ofaluminiumanditsaloysnsulationcheckbymeasurementofbreakdownpotential,MOD)2006-09-26發(fā)布2007-02-01實(shí)施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T8754-2006前本標(biāo)準(zhǔn)修改采用ISO2376：1972《鋁及鋁合金陽極氧化用擊穿電位測量檢驗(yàn)絕緣性》英文版)為了方便比較,在附錄A中列出了本標(biāo)準(zhǔn)章條和對應(yīng)的國際標(biāo)準(zhǔn)章條的對照一覽表。本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)EN12373-17:2001《鋁及鋁合金陽極氧化擊穿電位測量》.在采用國際標(biāo)準(zhǔn)時(shí)進(jìn)行了修改。這些技術(shù)差異用垂直單線標(biāo)識(shí)在它們所涉及的條款的頁邊空白處。這些技術(shù)差異如下：第第1章范圍中增加了三個(gè)注釋，說明適用范圍和影響因素：將原國際標(biāo)準(zhǔn)中第3部分原理中第一段作為注釋增加到國家標(biāo)準(zhǔn)的第1章中：第4章試驗(yàn)步驛分成4.1節(jié)～4.4節(jié)；增加了第6章“試驗(yàn)報(bào)告”。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T8754—1988《鋁及鋁合金陽極氧化應(yīng)用擊穿電位測定法檢驗(yàn)絕緣性》本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T8754—1988相比，主要變化如下:第1章增加三個(gè)注釋；第4章分成4.1節(jié)~4.4節(jié)；新增第6章“試驗(yàn)報(bào)告”。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為資料性附錄本標(biāo)準(zhǔn)由中國有色金屬工業(yè)協(xié)會(huì)提出本標(biāo)準(zhǔn)由全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口并負(fù)責(zé)解釋。本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位：北京有色金屬研究總院。本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位：中國有色金屬工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量質(zhì)量研究所本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：朱祖芳、李永豐、紀(jì)紅、何耀祖、葛立新、馬存真、席歡本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：GB/T8754-1988。

GB/T8754-2006鋁及鋁合金陽極氧化陽極氧化膜絕緣性的測定擊穿電位法1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用擊穿電位法測定鋁及鋁合金陽極氧化膜的絕緣性。本標(biāo)準(zhǔn)適用于以絕緣性能為目的和以擊穿電位原理制定工藝規(guī)范的陽極氧化膜。注1：本標(biāo)準(zhǔn)一般僅適用于封孔和干燥后的陽極氧化膜，不適用于涂漆或其他覆蓋層。注2：本方法對未封孔的陽極氧化膜不能給出滿意結(jié)果注3：擊穿電位受相對濕度的影響方法原理2.1在電流第一時(shí)間通過氧化膜的瞬間測量陽極氧化膜被電擊穿時(shí)的電壓，從而確定擊穿電位。擊穿電位的測量原理基于陽極氧化膜的介電性能和絕緣性能，2.2擊穿電位的大小取決于氧化膜的厚度及許多其他因素,尤其是表面狀態(tài)、基體金屬成分、封孔質(zhì)量、工件的干燥及陳化程度等。3儀器3.1檢測裝置應(yīng)能夠提供連續(xù)可變交流電壓,電壓讀數(shù)靈敏度為10V,供電頻率為50Hz或60Hz.3.2以下兩種測試電極系統(tǒng)可選：a）單電極系統(tǒng)：直徑為3mm～8mm的金屬球電極與待測面相接觸;另一個(gè)電極與基體金屬固定相連。雙電極系統(tǒng)：由兩個(gè)直徑在3mm～8mm之間、且直徑相同的金屬球作為兩個(gè)電極,電極相距在25mm之間。4試驗(yàn)步驛4.1在金屬球上施加0.5N～1N的力.電壓上升速度為25V/s.按儀器使用說明書進(jìn)行試驗(yàn)4.2兩個(gè)電極放在平滑或經(jīng)過加工的試件上時(shí).間距應(yīng)在10mm～50mm。兩個(gè)電極也可放在曲率半徑大于5mm的曲面上，但應(yīng)距銳角邊緣5mm以上。4.3對于窄試樣,檢驗(yàn)應(yīng)在長軸上進(jìn)行,但電極應(yīng)距邊角至少1mm.4.4試樣的各個(gè)部位測量10次,記錄陽極氧化膜被電擊穿時(shí)的電壓。5試驗(yàn)結(jié)果5.1膜的擊穿電位值取試件上10個(gè)不同測試點(diǎn)所