ICS77.040.30H24中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T6394一2002金屬平均晶粒度測(cè)定方法2002-12-31發(fā)布2003-06-01實(shí)施中華人、民共和國(guó)發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T6394-2002本標(biāo)準(zhǔn)修改采用ASTME112—1996《測(cè)定平均晶粒度試驗(yàn)方法》。本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起.YB/T5148—1993《金屬平均品粒度測(cè)定方法》作廢本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ASTME112—1996重新起草。為了方便比較，在資料性附錄D中列出了本國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)條款和ASTME112—1996標(biāo)準(zhǔn)條款的對(duì)照一覽表。由于我國(guó)法律要求和工業(yè)的特殊需要，本標(biāo)準(zhǔn)在采用ASTME112—1996標(biāo)準(zhǔn)時(shí)進(jìn)行了修改。這些技術(shù)性差異用垂直單線(xiàn)標(biāo)識(shí)在它們所涉及的條款的頁(yè)邊空白處。在附錄D中給出了技術(shù)差異及其原因一覽表以供參考。本標(biāo)準(zhǔn)與YB/T5148—1993相比主要變化如下：修改各系列評(píng)級(jí)圖適用范圍的說(shuō)明；將晶粒顯示方法作為附錄編寫(xiě)，增加模擬滲碳法和網(wǎng)狀鐵素體法，刪去珠光體法.并分奧氏體品粒形成及顯示兩部分?jǐn)⑹?；刪去截點(diǎn)法中表4a、表4b和圖3；增加了“6非等軸品試樣的品粒度”；增增加了·7含兩相或多相及組元試樣的晶粒度”本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B、附錄C為規(guī)范性附錄，附錄D為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由原國(guó)家治金工業(yè)局提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)鋼標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位：撫順特殊鋼(集團(tuán))有限責(zé)任公司、治金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：曾文濤、索燕、谷強(qiáng)、劉忠平

GB/T6394-2002本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬材料平均品粒度的基本測(cè)量方法。由于純粹以晶粒幾何圖形為基礎(chǔ)，與金屬或合金本身無(wú)關(guān)。因此·這些基本方法也可用來(lái)測(cè)量非金屬材料中品粒、品體和品胞的平均尺寸。如果材料的組織形貌接近于某一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)系列評(píng)級(jí)圖，可使用比較法。測(cè)定平均品粒度常用比較法·也可用截點(diǎn)法和面積法。但是.比較法不能用來(lái)測(cè)量單個(gè)品粒

GB/T6394-2002金屬平均晶粒度測(cè)定方法范圍1.1本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬組織的平均品粒度表示及評(píng)定方法。這些方法也適用于品粒形狀與本標(biāo)準(zhǔn)系列評(píng)級(jí)圖相似的非金屬材料。這些方法主要適用于單相品粒組織，但經(jīng)具體規(guī)定后也適用于多相或多組元的試樣中特定類(lèi)型的品粒平均尺寸的測(cè)量。1.2本標(biāo)準(zhǔn)使用品粒面積、晶粒直徑、截線(xiàn)長(zhǎng)度的單峰分布來(lái)測(cè)定試樣的平均晶粒度。：。這些分布近似正態(tài)分布。本標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)定方法不適用于雙峰分布的品粒度。1.3本標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量方法僅適用平面品粒度的測(cè)量,也就是試樣截面顯示出的二維品粒，不適用于試樣三維品粒，即立體品粒尺寸的測(cè)量。1.4本標(biāo)準(zhǔn)僅作為推薦性試驗(yàn)方法，它不能確定受檢材料是否接收或適合使用的范圍2術(shù)語(yǔ)和定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)21晶粒g晶界所包圍的整個(gè)區(qū)域,即是二維平面原始界面內(nèi)的區(qū)域或是三維物體內(nèi)的原始界面內(nèi)所包括的體積。對(duì)于有李生界面的材料.李生界面忽略不計(jì)。22晶粒度gainsize品粒大小的量度。通常使用長(zhǎng)度、面積、體積或品粒度級(jí)別數(shù)來(lái)表示不同方法評(píng)定或測(cè)定的品粒大小，而使用品粒度級(jí)別數(shù)表示的品粒度與測(cè)量方法和計(jì)量單位無(wú)關(guān)23晶粒度級(jí)別數(shù)grain-sizenumber2.3.1顯微晶粒度級(jí)別數(shù)Gmicro-grainsizenumberG在100倍下645.16mm2面積內(nèi)包含的晶粒個(gè)數(shù)N與G有如下關(guān)系：N-20-2.3.2宏宏觀晶粒度級(jí)別數(shù)Gmacro-gr