ICS3122010

L23..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T50952503—2021/IEC60512-25-32001

.:

電子設(shè)備用機電元件

基本試驗規(guī)程及測量方法

第25-3部分試驗25c上升時間衰減

::

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-3Test25cRisetimederadation

::g

(IEC60512-25-3:2001,Connectorsforelectronicequipment—

Testsandmeasurements—Part25-3:Test25c:Risetimedegradation,IDT)

2021-03-09發(fā)布2021-10-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T50952503—2021/IEC60512-25-32001

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

總則

1………………………1

范圍和目的

1.1…………………………1

術(shù)語和定義

1.2…………………………1

試驗設(shè)施

2…………………1

設(shè)備

2.1…………………1

裝置

2.2…………………2

試驗樣品

3…………………2

說明

3.1…………………2

試驗程序

4…………………3

插入法

4.1………………3

標(biāo)準(zhǔn)裝置法

4.2…………………………3

上升時間衰減計算

4.3…………………3

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定的細(xì)則

5…………………3

試驗記錄文件

6……………3

附錄規(guī)范性附錄裝置和設(shè)備示意圖

A()………………5

附錄資料性附錄實用指南

B()…………8

Ⅰ

GB/T50952503—2021/IEC60512-25-32001

.:

前言

電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法按試驗方法分為若干部分

GB/T5095《》。

的第部分為信號完整性試驗已經(jīng)發(fā)布或計劃發(fā)布的部分如下

GB/T509525,:

第部分試驗串?dāng)_比

———25-1:25a:;

第部分試驗衰減插入損耗

———25-2:25b:();

第部分試驗上升時間衰減

———25-3:25c:;

第部分試驗傳輸時延

———25-4:25d:;

第部分試驗回波損耗

———25-5:25e:;

第部分試驗眼圖和抖動

———25-6:25f:;

第部分試驗阻抗反射系數(shù)和電壓駐波比

———25-7:25g:、(VSWR);

第部分信號完整性試驗試驗外來串?dāng)_

———25-9:25i:。

本部分為的第部分

GB/T509525-3。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻譯法等同采用電子設(shè)備用連接器試驗和測量第部

IEC60512-25-3:2001《25-3

分試驗上升時間衰減

:25c:》。

本部分做了下列編輯性修改

:

標(biāo)準(zhǔn)名稱由電子設(shè)備用連接器試驗和測量第部分試驗上升時間衰減修改為

———《25-3:25c:》

電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第部分試驗上升時間衰減

《25-3:25c:》。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任

。。

本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國電子設(shè)備用機電元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC166)。

本部分起草單位四川華豐企業(yè)集團有限公司中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院

:、。

本部分主要起草人龐斌朱茗肖淼劉俊汪其龍

:、、、、。

Ⅲ

GB/T50952503—2021/IEC60512-25-32001

.:

電子設(shè)備用機電元件

基本試驗規(guī)程及測量方法

第25-3部分試驗25c上升時間衰減

::

1總則

11范圍和目的

.

的本部分適用于電連接器插座電纜組件或互連系統(tǒng)

GB/T5095、、。

本部分描述了測量樣品對通過其中信號的上升時間所產(chǎn)生影響的方法

。

12術(shù)語和定義

.

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

121

..

上升時間衰減risetimedegradation

樣品插入傳輸通道時達到理論上理想的零上升時間電壓階躍的上升時間增量見圖采用

,()(1)。

的高斯信號從的上升時間衰減的計算式見式

10%~90%(1):

T=T2-T2

r,d(r)(r,m)…………(1)

式中

:

T上升時間衰減

r,d———;

T測量的上升時間

r———;

T測量系統(tǒng)上升時間

r,m———。

122

..

測量系統(tǒng)上升時間measurementsystemrisetime

安裝就位無樣品并具有濾波或歸一化作用的裝置測量的上升時間通常測量的是從

,()