標(biāo)準解讀

《GB/T 38240-2019 無損檢測儀器 射線數(shù)字探測器陣列制造特征》是一項國家標(biāo)準，旨在規(guī)范射線數(shù)字探測器陣列的設(shè)計、生產(chǎn)和性能評估。該標(biāo)準適用于X射線或γ射線成像中使用的直接轉(zhuǎn)換型和平板型間接轉(zhuǎn)換型數(shù)字探測器陣列。主要內(nèi)容包括：

  • 范圍：明確了標(biāo)準適用的探測器類型及其應(yīng)用領(lǐng)域。
  • 術(shù)語和定義：對與射線數(shù)字探測器陣列相關(guān)的專業(yè)術(shù)語進行了定義，確保行業(yè)內(nèi)交流的一致性和準確性。
  • 技術(shù)要求：詳細規(guī)定了探測器陣列的基本參數(shù)如像素尺寸、空間分辨率、動態(tài)范圍等，并提出了相應(yīng)的要求。此外，還涉及到了噪聲水平、均勻性、穩(wěn)定性等多個方面的具體指標(biāo)。
  • 試驗方法：為驗證上述技術(shù)要求是否滿足而設(shè)計了一系列測試程序，包括但不限于靈敏度測試、響應(yīng)時間測量、圖像質(zhì)量分析等。
  • 檢驗規(guī)則：制定了產(chǎn)品出廠前必須遵循的質(zhì)量控制流程，包括抽樣檢查的比例、不合格品處理辦法等內(nèi)容。
  • 標(biāo)志、包裝、運輸和貯存：最后部分則關(guān)注于產(chǎn)品的標(biāo)識方式、安全包裝建議以及在運輸過程中需要注意的問題。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2019-10-18 頒布
  • 2020-05-01 實施
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GB/T 38240-2019無損檢測儀器射線數(shù)字探測器陣列制造特征_第1頁
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文檔簡介

ICS19100

N78.

中華人民共和國國家標(biāo)準

GB/T38240—2019

無損檢測儀器射線數(shù)字探測器

陣列制造特征

Non-destructivetestinginstruments—Standardpracticeformanufacturing

characterizationofdigitaldetectorarrays

2019-10-18發(fā)布2020-05-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準化管理委員會

GB/T38240—2019

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

意義和用途

4………………3

儀器與器件

5………………4

校正對比和標(biāo)準操作

6……………………6

方法

7………………………7

結(jié)果計算或分析

8…………………………10

制造商測試結(jié)果的顯示

9…………………19

數(shù)字探測器陣列的分類

10………………21

精度與偏差

11……………21

關(guān)鍵詞

12…………………21

附錄規(guī)范性附錄輸入與輸出數(shù)據(jù)模板

A()……………22

參考文獻

……………………25

Ⅰ

GB/T38240—2019

前言

本標(biāo)準按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出

。

本標(biāo)準由全國試驗機標(biāo)準化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC122)。

本標(biāo)準起草單位中國工程物理研究院應(yīng)用電子學(xué)研究所上海奕瑞光電子科技有限公司山東省

:、、

特種設(shè)備研究院濟寧分院

。

本標(biāo)準主要起草人陳浩王遠陳云斌胡棟材邱承彬方志強邱敏金利波黃凌端申德峰

:、、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T38240—2019

無損檢測儀器射線數(shù)字探測器

陣列制造特征

1范圍

本標(biāo)準規(guī)定了射線數(shù)字探測器的儀器與器件校正對比和標(biāo)準操作檢測方法結(jié)果計算及分析等

、、、

內(nèi)容

。

本標(biāo)準適用于數(shù)字面陣列探測器

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

射線照相檢驗規(guī)程

ASTME1742(Standardpracticeforradiographicexamination)

用于工業(yè)輻射照相底片系統(tǒng)分類標(biāo)準測試方法

ASTME1815(Standardtestmethodforclassifi-

cationoffilmsystemsforindustrialradiography)

放射學(xué)中測定總圖像不清晰度的標(biāo)準規(guī)程

ASTME2002(Standardpracticefordetermining

totalimageunsharpnessandbasicspatialresolutioninradiographyandradioscopy)

計算輻射照相系統(tǒng)的長期穩(wěn)定性

ASTME2446(Standardpracticeformanufacturingcharacter-

izationofcomputedradiographysystems)

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

31

.

數(shù)字探測器陣列系統(tǒng)digitaldetecterarrayDDAsystem

()

將電離輻射或穿透輻射轉(zhuǎn)化為模擬信號的離散陣列的電子裝置然后將這些數(shù)字化的模擬信號傳

。

輸?shù)接嬎銠C并按照與計算機驅(qū)動方法的輸入?yún)^(qū)域相對應(yīng)的輻射能譜數(shù)字圖像形式顯示

,。

注電離輻射或穿透輻射轉(zhuǎn)化為電子信號的首要步驟是通過使用閃爍材料電離輻射或穿透輻射轉(zhuǎn)化為可見光這

:。

些裝置的速度范圍從若干秒生成一幅圖像直到一秒生成若干幅圖像最快達到或超過實時射線透視的速度

,,,

通常為幀

(30/s)。

32

.

信噪比signal-to-noiseratioSNR

;

信號強度的平均值與噪聲強度的標(biāo)準偏差之比取決于輻射劑量和數(shù)字探測器陣列系統(tǒng)的性能

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